СИМЕКС

Предназначен для закрепления и установки в образцовый отсек спектрометра вкладышей пресс-форм для таблеток с бромидом калия диаметром 13 мм, получаемых с помощью гидравлического пресса. Также может использоваться при исследованиях жидких и пастообразных образцов на окнах-подложках из селенида цинка (ZnSe) и кремния (Si).

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16

Малогабаритный ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами, включая высокочувствительный охлаждаемый МСТ. Режимы работы: пропускание и отражение, НПВО, измерения с помощью оптоволоконных зондов (возможны варианты исполнения с одной или двумя парами встроенных коннекторов). Доступно подключение ИК микроскопа, телескопа для регистрации спектров внешнего излучения. Спектрометр может использоваться как переносной, и применяется, в том числе, для экспресс-мониторинга технологических процессов, контроля качества жидкостей в резервуарах и магистралях, при проведении поточных анализов биологических объектов, дистанционном газовом анализе. Установка предназначена для создания высококачественных изображений на различных материалах и обеспечивает изготовление резиновых клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.

Описание

Создана на базе инновационной платформы «Штрих», в основу которой заложена уникальная система управления, аппаратное и программное обеспечение которой целиком разработано специалистами нашей компании.
Установка предназначена для создания высококачественных изображений на таких материалах как резина, металл, пластик и обеспечивает изготовление клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.
Применяемый в установке волоконный лазер в сочетании с системой гальванометрических сканаторов обеспечивает высокое качество гравировки в статическом режиме, не требует водяного охлаждения и специального обслуживания.
При сборке системы используются только проверенные и сертифицированные детали, что гарантирует особенно длительный срок эксплуатации без дополнительных вложений.

Особенности:

Двухкоординатная высокоточная система позиционирования образцов, с помощью которой осуществляется перемещение предметного стола вдоль осей Х, Y. В результате работы системы позиционирования и последовательного гравирования фрагментов изображения, можно обрабатывать с высокой точностью заготовки с размерами до 200 × 300 мм в автоматическом режиме по заданной оператором программе обработки;
Алгоритм автоматической послойной гравировки с использованием высокоточного механизма перемещения сканирующей головы по Z-координате позволяет формировать высокодетализированные 3D-изображения глубиной до 5 мм в металлических заготовках (сталь, латунь, алюминий, титан и др.);
Длительный процесс послойной гравировки глубоких 3D-изображений (возможно десятки часов) обеспечивается без участия оператора благодаря автоматическому алгоритму;
Установка снабжена встроенной системой удаления продуктов горения из зоны воздействия лазерного излучения, в результате чего, обеспечивается отсутствие запахов и защита сканирующего объектива от продуктов выработки, что особенно важно при гравировке резины и пластиков;
Корпус установки полностью закрывает зоны обработки и распространения лазерного излучения, а гравировка производится по заданной оператором программе в автоматическом режиме при закрытых кожухах установки. Такая конструкция установки позволяет ее отнести к лазерным приборам 1 класса опасности.

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Одно- и многопроходные кюветы применяются для качественного и количественного спектрального анализа газовых смесей. Использование многопроходных кювет позволяет уверенно детектировать предельно малые концентрации компонентов исследуемого газа (менее единиц ppm). • Поставляются кюветы трех типов: 1. однопроходные, имеющие длину хода 100 мм, со стеклянным корпусом и окнами из ZnSe, KBr, NaCl 2. многопроходные, с длиной хода лучей до нескольких десятков метров 3. многопроходные, с длиной хода лучей до нескольких десятков метров, оснащенные системой нагрева рабочей камеры до 200о С и термоконтроллером Многопроходные кюветы имеют прозрачную рабочую камеру, выполненную из кварцевого стекла; зеркала с золотым (99.999) покрытием обеспечивают коэффициент отражения в ИК области не менее 98%; дополнительно кюветы могут укомплектовываться датчиками давления и температуры, арматурой для управления потоком газа и т.п.

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Предназначен для пробоподготовки при исследованиях образцов с помощью ИК микроскопа и приставок зеркального отражения. Позволяет придавать форму тонкого слоя (до нескольких микрон) различным объектам: полимерным фрагментам, микрочастицам ЛКП, порошкообразным веществам, волокнам и т.п. Полученные тонкие слои на зеркальных пластинах из легированной стали исследуются методом двойного пропускания – когда излучение, прошедшее сквозь слой вещества, отражается от поверхности пластины и вновь проходит сквозь вещество. Зарегистрированные таким методом спектры полностью идентичны спектрам пропускания, полученным, например, после прессования веществ с KBr. Достоинствами в данном случае являются: - быстрота пробоподготовки - нет необходимости в использовании гидравлических и ручных прессов и пресс-форм, ступок для растирания и т.п. - нет необходимости в использовании высокочистого KBr или вазелинового масла - образец не утрачивается и, при необходимости, может быть исследован другими методами - при использовании ИК микроскопа можно “просканировать” полученный тонкий слой для выбора наиболее информативного участка, а также, если слой неоднородный по составу, получить спектральные характеристики его составляющих.

ИК фурье-спектрометры "ФТ-801" могут дополнительно оснащаться специальной оптической приставкой, позволяющей эффективно использовать световодные системы. 4 типа световодных зондов позволяют измерять спектры пропускания и отражения (НПВО) в твердых, жидких и газообразных средах Современные ИК световоды обладают высоким собственным пропусканием и достаточной механической прочностью, что позволяют перенести измерения из лаборатории непосредственно на производство - для контроля протекания техпроцессов, проверки качества сырья и готовой продукции. Области применения: · Химическая и микробиологическая промышленность · Фармацевтическая промышленность · Медицина и косметология · Пищевая промышленность · Нефтепродукты, ГСМ · Криминалистика

Применяется для регистрации спектров пропускания твердых образцов среднего размера и произвольной формы – полимерных пленок различной толщины, оптических деталей, полупроводниковых пластин, крупных кристаллов и т.п. • Благодаря быстросъемным гайкам обеспечивает удобное закрепление образцов

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Применяются для исследования жидкостей, в том числе - растворов с низкими концентрациями • Имеют разборную конструкцию, позволяющую использовать поставляемые в комплекте прокладки разной толщины • Материал окон – ZnSe (возможен заказ окон из SiO2 и KBr) • Материал прокладок – тефлон (фторопласт) • Толщина прокладок – 0.022 мм, 0.1 мм и др