SIMEKS

为了在测量过程中达到最大的灵敏度，FT-801傅立叶光谱仪使用了一个特殊的前缀，FT-801傅立叶光谱仪是一个内置高灵敏度MST探测器的光学单元，用液氮冷却。 机顶盒安装在光谱仪的比色皿仓内并与相应的外部电端口连接，探测器以编程方式开启。 法的灵敏度增加很多倍–高达20）-取决于光谱仪中标准非制冷探测器的类型）。 记录光谱的速度也在增加。 用液氮填充低温恒温器（200毫升容量）后的操作时间至少为6小时。 在许多应用中，使用带有MST检测器的前缀来增加光谱仪的灵敏度可能是必需的：在光纤光谱学中，当记录低功率发射器的发射光谱时，在具有高光谱分辨率的痕量气体分析中，当确定超低浓度样品中存在杂质时，当使用多通气体比色皿等。 在图片中：在比色皿隔间的左侧有一个带有来自德国柏林Art photonics GmbH的光纤的开普勒，右侧有一个带有MST探测器的前缀。 技术规格 配准光谱时推荐的扫描次数为16 50次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 低温恒温器容量，200毫升 填充低温恒温器后的工作时间，6小时 外形尺寸,mm225×175×75 重量,kg1.45

FT-801红外傅里叶光谱仪还可以配备一个特殊的光学机顶盒，可以有效地利用光导系统。 4种导光探头可测量固体、液体和气体介质中的透射和反射光谱 现代红外光导具有较高的固有透射率和足够的机械强度，这使得可以将测量从实验室直接转移到生产中-以控制工艺流程的流程，检查原材料和成品的 申请范围: *化学及微生物工业 *制药业 *医学及美容学 *食品工业 *石油产品、燃料和润滑油 *犯罪学

它设计用于通过在集成和外部监视器上同时可视化微物体的干扰全内反射方法以及在样品上部位置入射角为45o的镜面漫反射方法进行测量。 单个NIP模式中的前缀用于登记吸收光谱: 任何粘度的液体(溶液、悬浮液、油等).)，包括具有高化学活性的那些; 任意形状的固体物体，包括具有非常高硬度的样品（任何聚合物，油漆涂层的碎片等。); 粉状物质，包括具有非常高硬度的粉末（药物，药品，爆炸物，无机化合物）; 薄膜形式的样品; 纤维形式的样品。 金刚石的最大硬度和耐化学性显着扩展了该方法的可能性;不需要定期更换晶体。 机顶盒允许您注册光谱，而无需耗时的样品制备，并且具有高品质摄像机和内置高清微型监视器的研究表面视觉检测系统的存在提高了处理小样品时的效率-细纤维碎片，微粒等。 内置监视器具有数字10倍变焦，反相等功能。 图像可以同时显示在计算机屏幕上（使用USB接口），然后保存为文件。 可拆卸法兰提供了一个快速和方便的样品更换和清洁晶体表面。 在NPVO的基础平面上方突出金刚石元件的设计允许您研究具有足够大的整体尺寸的样品。 由于没有物质层厚度对光谱形状和吸收带强度的影响，结果的高质量和可重复性得以实现。 样品保留了其原始的物理化学性质，如果需要，可以通过其他方法进一步研究。 通用附件夹配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可更换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 金刚石的高硬度允许使用大的夹紧力，这是获得高质量光谱的决定因素。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品向下位于被调查表面的被调查平面上。 该方法用于测定光学零件、表面薄膜、晶体和其他任意形状和大小的大型固体物体的光谱特性。