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折射仪检测器 102M
折射仪检测器 102M
技术规格: 光源 LED 光源波长 650 nm 650 纳米 分析比色皿容量 8 µl 动态范围 Δn(Δn 为工作比色皿和比较比色皿折射率之差) 1*10-7 - 5*10-2 r.e.m. 工作折射率范围 (n) 1.00-1.81 O.E.R. 检测极限 (葡萄糖) < 1*10-5 g 蒸馏水无流动噪音(2 秒时间常数) 1*10-8 O.E.R. 蒸馏水流动零信号波动噪音水平(2 秒时间常数) 4*10-6 O.E.R. 蒸馏水流动零信号漂移 5*10-4 O.E.R./h 液路材料 PTFE、SS316、石英玻璃 进出口接头 内螺纹 10-32 下卡套 达到工作模式的时间 10 分钟 电源、电压/频率 220V/50Hz 或 110V/60Hz 消耗功率 不超过 16 VA 外形尺寸(高、宽、深) 120x330x290 毫米 重量 10 千克
Akvilon
Podolsk
生产于: 莫斯科地区, 波多利斯克
单坐标纳米控制器Ratis 1X
单坐标纳米控制器Ratis 1X
扫描器是金属仪器(由优质合金制成,通常是铝),其中用于压电陶瓷致动器的通道、平台的移动元件等是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。 这种设计提供了极好的线性和运动的平面性,不同于传统的基于压电的扫描仪,这个扫扫描面是一个球体。 此外,与脆性压电管相比,平面平行扫描仪具有较高的机械强度。
生产于: 多尔戈普鲁德内, 莫斯科地区
法拉第旋转器,光学直径可达 60 毫米
法拉第旋转器,光学直径可达 60 毫米
用于防止高功率固态激光系统的放大路径自激,并保护其光学元件免受反射光的损害。法拉第旋转器由两个偏振器组成,偏振器之间放置一个电磁线圈,电磁线圈内放置一个磁光玻璃的光学元件。法拉第旋转器中偏振器的偏振面呈 45 度角。
NII OEP
Sosnovyy bor
生产于: 松林, 列宁格勒地区
镜面反射前缀PZO30和PZO45
镜面反射前缀PZO30和PZO45
设计用于常规测量具有微米范围涂层的样品:识别涂层并确定其厚度。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
运动单元,4 轴
运动单元,4 轴
根据客户要求开发,用于机械加工设备(磨削)的执行器。 设计用于在磨削过程中固定和移动工件。它有两个旋转轴和两个线性轴。 主要特点 -装置尺寸:440*470*216 毫米 -工件在垂直轴上的旋转角度为 +/- 180 °。 -工件在水平轴上的旋转角度 =/- 45 °。 -垂直轴驱动 - 带变速箱的步进电机 -水平轴驱动:蜗轮蜗杆减速电机 -工件尺寸:60*60*30 毫米 -工件固定方式:真空式 为了准确可靠地定位工件,每个电机驱动器都配有一个编码器(电机每转 360 脉冲,输出轴每转 21600 脉冲)。吸盘的真空通过适配器外壳中的通道提供。 线性导轨通过步进电机(未在组件上显示)在两个平面上提供最大 200 毫米的运动距离。线性运动和倾斜轴的极限位置由光学传感器检测。
Aperon
Zelenograd
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒
用于 Stayer-M 系列色谱仪的梯度洗脱系统
用于 Stayer-M 系列色谱仪的梯度洗脱系统
低压梯度系统以溶剂管路中的电磁阀开关为基础,电磁阀开关与柱塞运动同步控制。通过这种方式,可以形成二元、三元和四元梯度,也可以运行多达四种溶剂进样的等压系统。
Akvilon
Podolsk
生产于: 莫斯科地区, 波多利斯克
VK-312振动传感器
VK-312振动传感器
振动传感器 VK-312 是一款带有远程电子器件的压电加速度计。
ViKont
Moscow
生产于: 莫斯科
透镜FAC910
透镜FAC910
规格 材质:S-TIH53(大原) 长度,毫米:5 高度,毫米:1.5±0.02 厚度,毫米:1.5±0.01 折射率,毫米:1.823 有效焦距,mm:0.91 后焦距,mm:0.09 透射率,%:>99.5 角度 ± 0.7 mrad 内的功率,%:>85 抗反射涂层,nm 适用于范围内的波长之一:400-1500 数值孔径:0.8 表面质量λ=633,纳米:λ/4。
INZHEKT
Saratov
生产于: 萨拉托夫
镜面反射前缀PZO10
镜面反射前缀PZO10
它旨在测量固体样品的反射率,并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀,可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
天线单元AB-150
天线单元AB-150
探地雷达天线块 天线模块是探地雷达的一个组成部分,借助它可以直接探测被测表面。 天线单元的选择取决于要解决的任务的性质-感测的深度,分辨率,性能以及移动天线单元的方法。 天线单元的中心频率是探测深度的一个基本因素。 天线的频率越高,感测的深度越低。 另一方面,中心频率越高,天线单元的分辨率越好。
生产于: 莫斯科地区, 拉缅斯科耶