搜索

1671 商品
类​型
  • 已选择:
    用途
    加载中...
  • 已选择:
    名称
    加载中...
  • 已选择:
    公司
    加载中...
  • 已选择:
    原产地
    加载中...
  • 已选择:
    此外
    加载中...
筛选条件
  • 用途
    加载中...
  • 505
    名称
    加载中...
  • 151
    公司
    加载中...
  • 73
    原产地
    加载中...
  • 105
    此外
    加载中...
类​型
1671 商品
自动扫描探针显微镜Certus Standard V
自动扫描探针显微镜Certus Standard V
自动扫描探针显微镜 Certus Standard V是扫描探针显微镜的改进版。主要的质量差异是显微镜的完全自动化,使用更先进的机械部件,更先进的扫描仪扫描样品,可以通过平板电脑用安卓系统的专用软件对设备进行远程控制。
生产于: 多尔戈普鲁德内, 莫斯科地区
RaPort 快速分析仪
RaPort 快速分析仪
1 个卖家有售
RaPort® 快速拉曼分析仪 "检查员 "提供高质量的实验室分子分析和准确的材料鉴定,具有最大的机动性。它完全便携、轻巧、内置电池和无线数据传输,可轻松获取违禁材料及其化合物的光谱。 将 RaPort 与您的安卓或 Windows 平板电脑/智能手机配合使用,即可通过 EnSpectr 移动软件轻松进行分析。在一个易于使用的界面中创建自己的数据库、处理光谱和管理测量参数。凭借独特的识别算法和测量质量,可识别浓度低至 1%的部分物质。
Spektr-M
Chernogolovka
生产于: 切尔诺戈洛夫卡, 莫斯科地区
马林 CIPM/SEHM/ASM
马林 CIPM/SEHM/ASM
高速离子传导扫描显微镜 对自然生理环境中的活细胞进行非接触式研究 测量各种刚度的机械特性 纳米定位的膜片钳测量 与光学技术相结合
IKAPPIK
Moscow
生产于: 莫斯科
用于 CIPM 的表面共焦模块
用于 CIPM 的表面共焦模块
激光模块(473 纳米和 635 纳米) 探测器模块(用于 473 纳米和 635 纳米) 压电控制 Sustem 的附加通道 压电透镜 将共焦模块调整到不同波长
IKAPPIK
Moscow
生产于: 莫斯科
CR-1B反应器
CR-1B反应器
1 个卖家有售
CR-1b反应器是一种自动化学反应器,带有恒温器,搅拌器和试剂控制系统。 有专门的软件用于控制反应器(随反应器提供)。 该反应器可能对纳米/微粒(例如球霰石)常规合成的实验室研究以及实验性缩放测试最感兴趣,以进一步将其转移到生产项目。
TetraKvant
Moscow, 创新中心地域 Skolkovo
生产于: 莫斯科
镜面反射前缀PZO30和PZO45
镜面反射前缀PZO30和PZO45
设计用于常规测量具有微米范围涂层的样品:识别涂层并确定其厚度。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
专用波色散分析仪ARF-7
专用波色散分析仪ARF-7
根据Cauchy方案构建的专用波色散X射线荧光分析仪旨在高精度定量测定矿石,岩石和人造矿床中的U,Th,Mo,Au,W,Tl,As,Pb以及其他元素。 在不重新配置晶体分析仪的情况下确定元素组的能力。 超高分辨率的X射线光学方案根据柯西与石英1011晶体分析仪. 高级数学支持。 分析仪的操作原理是基于通过来自X射线管的辐射激发测试物质样品的原子的荧光辐射。 荧光辐射通过柯西法分解成光谱。 晶体分析仪聚焦的被检测元件的荧光辐射和标准线在罗兰焦圆上突出显示。 然后它们由X射线探测器依次登记。 所记录的某一波长的荧光辐射的强度与所研究物质中化学元素的质量分数成正比。
Burevestnik
municipal district of Kolomyagi
生产于: 圣彼得堡
EMAP MN730支架
EMAP MN730支架
35 000 ₽
生产于: 高尔基·列宁斯基, 莫斯科地区
用于监测样品切口公差的视频测量系统
用于监测样品切口公差的视频测量系统
视频测量系统设计用于检测夏皮测试的切口公差,并测量平面元件的线性尺寸,包括孔和印记。 在使用视频测量系统时,排除了模拟测量方法产生的测量误差的可能性。 视频测量系统可以用作模拟显微镜的替代品。 系统的工作原理是根据图像确定物体的线性大小,以光学系统与存储在外部软件存储器中的摄像机分辨率的已知倍率为基础。 系统设计为圆柱形外壳,内部有带摄像头的光学系统和控制对象的LED照明。
IMPULS
Ivanovo
生产于: 伊万诺沃