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各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架

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各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架
公司:
SIMEKS
原产地:
新西伯利亚
用途:
此外:
它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。
•由于快速释放螺母,它提供了方便的紧固样品
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