Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел SIAMS 800

Панорамные исследования лежат в основе работы многих методик Thixomet. Построение панорамных изображений дает возможность наблюдения сколь угодно большой площади изучаемой поверхности образца с высоким разрешением. Панорама формируется склеиванием смежных полей зрения «на лету»: пока предметный столик микроскопа перемещается на очередное смежное поле зрения, предыдущее поле «пиксель в пиксель» стыкуется к полю, захваченному накануне. Функция выравнивания фона позволяет избавиться от неравномерности освещенности как в пределах одного поля зрения, так и на панораме в целом. Для редактирования панорамы имеются основные инструменты графического редактора.

Название анализатора изображения Thixomet® происходит от греческих “thixis” (касание) и “metrisi” (измерение), то есть «Измерение в одно касание». Действительно, процедура измерения от захвата изображения до формирования отчета с количественным описанием структуры, выполняется несколькими интуитивно понятными действиями. Возможность наблюдения сколь угодно большой площади изучаемой поверхности образца с высоким разрешением при панорамных исследованиях – основа работы продуктов Thixomet. Панорама формируется склеиванием «на лету» смежных полей зрения: пока предметный столик микроскопа перемещается на очередное смежное поле зрения, предыдущее поле «пиксель в пиксель» прецизионно стыкуется к полю, захваченному накануне. Thixomet® успешно прошел метрологическое освидетельствование, участвуя, наряду с другими мировыми производителями аналогичных продуктов, в межлабораторных круговых измерениях (Round Robin), организованных в порядке подготовки новой редакции стандарта ASTM 1245-00 «Стандартная методика определения содержания включений или второй фазы в металлах посредством автоматического анализа изображений». По результатам метрологической экспертизы в Комитете РФ по стандартизации, метрологии и сертификации на Thixomet® выдано свидетельство № 2610-11- 30/2004 от 02.03.2004 об аттестации программного обеспечения, как средства измерения.

Основные возможности: Оценка макроструктуры, в том числе параметров дендритной структуры; Оценка глубины обезуглероживания; Оценка геометрии образцов (отклонений форм, размеров, экцентриситетов); Размеры исследуемых образцов ограничены только ходом столика и габаритами штатива; Оценка пористости; Построение панорамы в реальном времени; Использование шкал из разнообразных государственных и отраслевых стандартов для оценки макродефектов металлопродукции; Расширенный фокус.

Анализ гранулометрического состава взорванной горной массы

Описание 1. Автоматическая съемка панорамных изображений образцов. Для автоматической съемки панорам пользователю необходимо задать шаблон определяющий координаты фрагментов для съемки. Если образцы имеют неровную поверхность, выполняется подстройка фокуса с использованием интеллектуального алгоритма, с заданной частотой. Если образцы имеют ровную поверхность, но расположены под углом, выполняется подстройка фокуса по трем точкам. Для этого перед съемкой пользователь задает положение острого фокуса в трех точках образца или нескольких образцов. В особо сложных случаях можно использовать ручную фокусировку. При этом столик будет останавливаться с заданной частотой для ручной подстройки фокуса. Можно использовать склейку панорам по координатам или с использованием уникального алгоритма(SmartPano). 2. Автоматический расширенный фокус. Пользователю необходимо только задать начальное положение и направление фокусировки. 3. Режим навигации. Указывая нужное место на панораме можно перемещать предметный столик, для более детального изучения структуры. 4. Автоматический попольный анализ. Для выполнения попольного анализа в автоматическом режиме пользователю необходимо задать шаблон определяющий координаты фрагментов для исследования. Предметный столик автоматически перемещается от поля к полю, производятся необходимые измерения и формируется отчет.