ФемтоСкан Xi

Стереоскопический микроскоп МБС-10М предназначен для наблюдения как объёмных предметов, так и тонких плёночных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ.

С микроскопом ФемтоСкан X возможно получать одновременно несколько изображений с разрешением до 4096х4096 и рекордной скоростью (до 8 секунд на 1 кадр). За счет использования современного процессора FPGA достигается одновременная обработка независимых каналов обратной связи на частоте 1 МГц.

Высокоскоростная сканирующая микроскопия ионной проводимости Бесконтактное исследование живых клеток в естественной физиологической среде Измерение механических свойств в широком диапазоне жесткостей Patch-clamp измерения с нанометровой локализацией Комбинация с оптическими методиками

Предназначен для оценки микротвердости структуры непрозрачных объектов методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 130, 500, 800 Диапазон нагрузки, Н (КГС) от 0,0196 до 4,9 (от 0,002 до 0,500) Управление нагрузками ручное Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Увеличение насадки, крат 1 Винтовой окулярный микрометр (МОВ-1-16) увеличение, крат 16 Освещение падающим светом по методам светлого и темного поля Тип коррекции объективов планапохромат Объективы планапохромат F= 4мм А 0,85 эпипланапохромат F = 25мм А 0,17 эпипланапохромат F=6,3мм А 0,60 Предметный столик, габаритные размеры, мм 113 х 113 Диапазон перемещения предметного столика, мм 0 - 10 в двух взаимно перпендикулярных направлениях Цена деления шкал барабанчиков микрометрических винтов столика, мм 0,01 Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 В, частотой 50Гц, блок питания встроен в основание Габаритные размеры, не более, мм 270х290х470 Масса, не более, кг 22 Предназначен для оценки микротвердости структуры непрозрачных объектов методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 130, 500, 800 Диапазон нагрузки, Н (КГС) от 0,0196 до 4,9 (от 0,002 до 0,500) Управление нагрузками ручное Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Увеличение насадки, крат 1 Винтовой окулярный микрометр (МОВ-1-16) увеличение, крат 16 Освещение падающим светом по методам светлого и темного поля Тип коррекции объективов планапохромат Объективы планапохромат F= 4мм А 0,85 эпипланапохромат F = 25мм А 0,17 эпипланапохромат F=6,3мм А 0,60 Предметный столик, габаритные размеры, мм 113 х 113 Диапазон перемещения предметного столика, мм 0 - 10 в двух взаимно перпендикулярных направлениях Цена деления шкал барабанчиков микрометрических винтов столика, мм 0,01 Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 В, частотой 50Гц, блок питания встроен в основание Габаритные размеры, не более, мм 270х290х470 Масса, не более, кг 22

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Прибор объединяет в себе преимущества портативного Рамановского экспресс-анализатора «Инспектр» R532® и микроскопа U300M. Особенности Работа с использованием разных методов исследования – на пропускание и отражение. Цифровая камера обеспечивает четкий фокус на образце. Высокое спектральное и пространственное разрешение гарантирует точность результата. Преимущества Микроскоп М532® – инновационное устройство с продвинутым набором возможностей: распознает сложные вещества, микрообъекты, проводит качественный анализ компонентов; измеряет и анализирует образцы по фотолюминесценции и комбинационному рассеянию света; создает детальные графические карты поверхностей образцов. Надежность, адекватная стоимость делает его оптимальным вариантом по соотношению цена/качество. Оптика второго поколения с бесконечным сроком службы. Спецификация микроскопа М532 Оптика UIS2 Лазер Длина волны 532 нм (опционально 785 нм, 1064 нм) Спектральное разрешение 4-6 см-1 Спектральный диапазон 160-4000 см-1 Освещение Встроенный осветитель проходящего света 6 В, 30 Вт Осветитель отраженного света 5 В, 1 Вт с регулируемой яркостью Фокусировка Величина хода на оборот: 36,8 мм Полный диапазон хода: 25 мм Видеокамера 3 Мп Объективы 10x, 20x, 40x (Plan-C) Наблюдение Тринокулярный тубус Наклон на 30°, вращение на 360° Межзрачковое расстояние 50-76 мм Деление светового потока 100:0/50:50 Предметный столик Размер 175 мм x 145 мм Диапазон перемещения 42 мм по горизонтали 76 мм по вертикали Вес ~ 35 кг Размеры 600 мм x 350 мм x 700 мм Электропитание 50-60 Гц, 220 В Требования к ПК Операционная система Windows, USB 2.0.

Принцип действия микроскопа основан на применении фотоэлектрических преобразователей перемещений с линейными шкалами, которые позволяют производить отсчет перемещений координатного стола с выводом результата на устройство цифровое отсчетное. Инструментальные микроскопы могут оснащаться видеосистемой для вывода изображения на монитор компьютера и программным обеспечением для автоматизированной обработки результатов измерения.

Предназначен для клинической лабораторной диагностики и обеспечивает наблюдение объектов в проходящем свете при освещении по методу светлого и темного поля. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 40 – 1000, 1500* Визуальная насадка: бинокулярная, вращение на 360° в закрепленном положении Увеличение насадки, крат 1,0 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 30 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 55-75 Окуляры: видимое увеличение, крат/поле, мм широкопольные 10/18 Револьверное устройство крепления объективов: четырехгнездное, повернуто к штативу, вращение в любом направлении Тип коррекции объективов: ахроматическая Объективы (увеличение), крат/ числовая апертура 4/0,1; 10/0,25; 40/0,65; 100/1,25 МИ Двухкоординатный предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения препарата, мм 75х50 Фокусировочный механизм перемещения столика по высоте коаксиальные рукоятки грубой и точной фокусировки и регулировки тугости хода расположены слева, справа – рукоятка точной фокусировки Конденсор Аббе, числовая апертура А=0,9 (1,25 МИ), ирисовая диафрагма светофильтры: синий, зеленый, желтый Обеспечение темного поля с объективами от 4х до 40х наличие Штатив микроскопа: унифицированный (патент № 84195); оснащен системой менеджера света с 5-ти уровневыми точечными светодиодами по обеим сторонам основания штатива Узел коллектора с вентиляционными отверстиями, съёмный, выдвигается вперёд по направляющим салазкам обеспечивает: - оптимальный тепловой режим; - удобную безопасную замену источника света без изменения положения штатива; - установку узла с зеркалом на кронштейне (дополнительная опция) Источник света: светодиод «белого» свечения 5 Вт Источник питания: сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания встроен в штатив, обеспечивает плавную регулировку яркости Габаритные размеры, мм 250х350х420 Габаритные размеры в упаковке, мм 280х400х530 Масса/ Масса в упаковке, не более, кг 7,0 / 8,0

Предназначены для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 50 – 1500 Визуальная насадка тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 30 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 50 -75 Окуляры, крат широкоугольные 10x/20 и 15x/16 Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное, вращение в любом направлении Освещение по Келлеру Тип коррекции объективов планапохроматы, тубус бесконечность Объективы: увеличение крат/числовая апертура 5x/0,17; 10x/0,28; 20x/0,50; 50x/0,85; 100x/0,95 100x/1,32 МИ (в составе МЕТАМ ЛВ-41) Модуль ДИК для МЕТАМ ЛВ-41 с объективами 5x, 10x, 20x, 50x Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 40х40 Источник света светодиод Источник питание сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, встроенный блок питания с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 300х600х430 Масса, кг 25

Техническая характеристика: Тип, модель: прямой Nikon Eclipse Ni-U Микрообъективы: 100х NA-0.95, 40х NA-0.75, 20х NA-0.50 и др. Окуляры: 10x (опционально 12.5x, 15x) Моторизованный столик: для моделей SRMSp и SRM диапазон перемещения по XY воспроизводимость положения точность позиционирования минимальный шаг X=114 мм, Y=75 мм < 0.5 мкм 0.06 мкм / 1 мм 0.02 мкм Ручная фокусировка по Z: перемещение по оси Z чувствительность фокусирующего механизма 10 мм 0.1 мм/оборот Z-сканер: диапазон перемещения объектива минимальный шаг воспроизводимость 80 мкм 50 нм < 6 нм Цифровая видеокамера высокого разрешения: с Пельтье охлаждением (–20 °С относительно температуры окружающей среды) тип сенсор размер пикселя АЦП охлаждение цифровая цветная ПЗС камера 4/3″, 2048 x 2048 пикселей 7.4 x 7.4 мкм 14 бит, скорость до 16 кадров/с элементом Пельтье Цифровая видеокамера высокого разрешения: без охлаждения тип сенсор размер пикселя АЦП цифровая цветная ПЗС камера 1/2″, 2048 x 1536 пикселей 3.2 x 3.2 мкм 10 бит, скорость 12 кадров/с Ввод лазерного излучения: трёхпозиционная автоматизированная турель.

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Предназначен: для фотометрических исследований в проходящем, отраженном свете и в свете люминесценции, а также для исследований в поляризованном свете микрообъектов и микроучастков макрообъектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 50 – 1000 Спектральный диапазон регистрации, нм Зеркального отражения Диффузного отражения Пропускания (оптической плотности) Люминесценции 350 – 900 380 – 760 350 – 900 400 – 700 Минимальный размер фотометрируемого участка, мкм 1 Количество фотометрических диафрагм, шт. 6 Визуальная насадка бинокулярная Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Увеличение насадки, крат 1 Регулируемое межзрачковое расстояние 55-75 Окуляры, крат 10 Освещение - проходящий свет - классическое по Келлеру, - сверху - свет, падающий через объектив, - от наклонного осветителя Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы (увеличение) 5/0,1 ∞/- 10/0,25Л∞/ - 20/0,45Л ∞/0,17 40/0,65Л ∞/0,17 100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис) Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 76х26 Конденсор числовая апертура 0,9 Источник света лампа галогенная 9 В 70 Вт, лампа ртутная HBO 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блоки питания настольного типа, для галогенной лампы - регулировка яркости Габаритные размеры: микроскопа, мм 260х550х730 БУСМ-10 320х350х160 Блоков питания ртутной и галогенной лампы 242х125х71 Масса прибора, кг 30