Marlin СИПМ/СЭХМ/АСМ

Получение неодима электролизом.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Станок предназначен для подготовки поверхности образцов из черных сплавов при проведении атомно-эмиссионного спектрального анализа.

Масс-спектрометры серии Альфа EL200 комплектуются квадрупольным масс-анализатором с диапазоном регистрации от 1 до 200 а.е.м. Используется закрытый источник ионов с электронным ударом. Детектирование ионов осуществляется вторичным электронным умножителем (ВЭУ).

Ситовые анализаторы предназначены для определения гранулометрического состава в процессе пробоподготовки. Элементом, генерирующим высокочастотное воздействие с определенной амплитудой, является вибропривод; исполнительный орган - комплект сит с поддоном и крышкой, сформированный исходя из требований к определению классов крупности частиц.

Прибор объединяет в себе преимущества портативного Рамановского экспресс-анализатора «Инспектр» R532® и микроскопа U300M. Особенности Работа с использованием разных методов исследования – на пропускание и отражение. Цифровая камера обеспечивает четкий фокус на образце. Высокое спектральное и пространственное разрешение гарантирует точность результата. Преимущества Микроскоп М532® – инновационное устройство с продвинутым набором возможностей: распознает сложные вещества, микрообъекты, проводит качественный анализ компонентов; измеряет и анализирует образцы по фотолюминесценции и комбинационному рассеянию света; создает детальные графические карты поверхностей образцов. Надежность, адекватная стоимость делает его оптимальным вариантом по соотношению цена/качество. Оптика второго поколения с бесконечным сроком службы. Спецификация микроскопа М532 Оптика UIS2 Лазер Длина волны 532 нм (опционально 785 нм, 1064 нм) Спектральное разрешение 4-6 см-1 Спектральный диапазон 160-4000 см-1 Освещение Встроенный осветитель проходящего света 6 В, 30 Вт Осветитель отраженного света 5 В, 1 Вт с регулируемой яркостью Фокусировка Величина хода на оборот: 36,8 мм Полный диапазон хода: 25 мм Видеокамера 3 Мп Объективы 10x, 20x, 40x (Plan-C) Наблюдение Тринокулярный тубус Наклон на 30°, вращение на 360° Межзрачковое расстояние 50-76 мм Деление светового потока 100:0/50:50 Предметный столик Размер 175 мм x 145 мм Диапазон перемещения 42 мм по горизонтали 76 мм по вертикали Вес ~ 35 кг Размеры 600 мм x 350 мм x 700 мм Электропитание 50-60 Гц, 220 В Требования к ПК Операционная система Windows, USB 2.0.

Отличительные особенности NP250-2: Параболические зеркала Два независимых спектральных канала Высокое пространственное разрешение по высоте щели Широкий выбор дифракционных решеток Области применения: Многоканальная спектроскопия Измерения в УФ, видимой и ИК спектральных областях Эмиссионная, флуоресцентная и рамановская спектроскопия Измерения коэффициентов поглощения и пропускания Оптическая система NP250-2: Оптическая система: модифицированная оптическая схема Хилла с компенсацией астигматизма: два независимых спектральных канала Диапазон длин волн: 185 нм – 60 мкм (в зависимости от используемой решетки) Общее относительное отверстие по входу: 1/4.2 Относительное отверстие по входу каждого спектрального канала: 1/6.1 Фокусное расстояние: 270 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота решеток: 1280 нм (для решетки 1200 штр/мм) Основные зеркала: внеосевые параболические Рассеянный свет: 2.5*10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Габаритные размеры: Габаритные размеры (Д х Ш х В): 510 х 280 х 215 мм Оптическая высота: 111 — 120 мм Вес: 14 кг Напряжение питания: 110 — 230 В 50/60 Гц Потребляемая мощность: не более 35 Вт

С помощью "ФемтоСкан Крио" Вы сможете изменять температуру внутри рабочей камеры в диапазоне 4,2-300 K. Точность поддержания температуры – 0,05 K. "ФемтоСкан Крио" регистрирует силы с помощью кварцевого камертона, поэтому в системе отсутствует лазерный луч и источники тепловых помех.

Принцип работы магнитного анализатора основан на анализе взаимодействия переменного магнитного поля с контролируемой деталью.

В отличие от ЭЛАМ-01 состоит из рабочего блока из нержавеющей стали с тремя независимыми ячейками и блока управления, содержащего все органы управления прибором. Основное назначение ЭЛАМ-02 — весовой электролитический (электрогравиметрический) анализ меди, никеля, свинца, кобальта и др. металлов в сплавах и чистых металлах по ГОСТ 13938-78, ГОСТ 13047-81, ГОСТ 6689-92, ГОСТ 1652-77, ГОСТ 1953-79, ГОСТ 741-80, ИСО 4742-84 и др. Метод основан на кислотном растворении пробы исследуемого металла и дальнейшем электролитическом его выделении из раствора на платиновых сетчатых электродах при заданном стабилизированном значении силы тока.

Оптико-эмиссионный спектрометр МСАII V5 разработан для анализа металла и сплавов на основе Fe, Ni, Cu, Al, Ti, Mg, Pb, Zn, Co, Sn. Менее чем за минуту вы узнаете точный элементный состав образца и его соответствие ГОСТам, стандартам и техническим регламентам.

Спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Оптико-эмиссионный спектрометр ЭРИДАН 500 с источником возбуждения спектров индуктивно-связанной плазмой (ИСП) имеет сдвоенный вакуумный спектрограф c диапазоном 170–930 нм и систему регистрации на ПЗС-детекторах.