Система для сканирования образцов на основе сканирующего ион-проводящего микроскопа

Сканирующий ион-проводящий микроскоп (СИПМ)
Универсальный контроллер ICAPPIC с двухканальным усилителем ионного тока
ICAPPIC Z-столик с ручным позиционированием нанопипетки по осям XY
ICAPPIC XY-столик с ручным грубым позиционированием образца по осям XY
ICAPPIC Стенд для столиков XY и Z с экраном Фарадея
ICAPPIC 3-канальная система управления пьезо. Активные каналы: X, Y, Z
Моторизация Z-ступени ICAPPIC (опционально)
Моторизация XY-ступени ICAPPIC (опционально)
Высокоскоростной дополнительный модуль для Z-столика и дополнительный канал без обратной связи для системы управления пьезо (опционально)
Надстройка для наномеханического картирования (опционально)
Инвертированный оптический микроскоп
Дополнение для patch-clamp.