Делитель проб ДПР-30

Предназначен для точного дозирования жидких реагентов. Техническая характеристика Питатель реагентов Производительность питателя в зависимости от сечения груза и скорости его погружения, мм3/мин 200-5000 Мощность привода, Вт 25 Габаритные размеры, мм Длина 330 Ширина 300 Высота 665 Масса, кг 11

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Прибор объединяет в себе преимущества портативного Рамановского экспресс-анализатора «Инспектр» R532® и микроскопа U300M. Особенности Работа с использованием разных методов исследования – на пропускание и отражение. Цифровая камера обеспечивает четкий фокус на образце. Высокое спектральное и пространственное разрешение гарантирует точность результата. Преимущества Микроскоп М532® – инновационное устройство с продвинутым набором возможностей: распознает сложные вещества, микрообъекты, проводит качественный анализ компонентов; измеряет и анализирует образцы по фотолюминесценции и комбинационному рассеянию света; создает детальные графические карты поверхностей образцов. Надежность, адекватная стоимость делает его оптимальным вариантом по соотношению цена/качество. Оптика второго поколения с бесконечным сроком службы. Спецификация микроскопа М532 Оптика UIS2 Лазер Длина волны 532 нм (опционально 785 нм, 1064 нм) Спектральное разрешение 4-6 см-1 Спектральный диапазон 160-4000 см-1 Освещение Встроенный осветитель проходящего света 6 В, 30 Вт Осветитель отраженного света 5 В, 1 Вт с регулируемой яркостью Фокусировка Величина хода на оборот: 36,8 мм Полный диапазон хода: 25 мм Видеокамера 3 Мп Объективы 10x, 20x, 40x (Plan-C) Наблюдение Тринокулярный тубус Наклон на 30°, вращение на 360° Межзрачковое расстояние 50-76 мм Деление светового потока 100:0/50:50 Предметный столик Размер 175 мм x 145 мм Диапазон перемещения 42 мм по горизонтали 76 мм по вертикали Вес ~ 35 кг Размеры 600 мм x 350 мм x 700 мм Электропитание 50-60 Гц, 220 В Требования к ПК Операционная система Windows, USB 2.0.

Отличительные особенности NP250-2: Параболические зеркала Два независимых спектральных канала Высокое пространственное разрешение по высоте щели Широкий выбор дифракционных решеток Области применения: Многоканальная спектроскопия Измерения в УФ, видимой и ИК спектральных областях Эмиссионная, флуоресцентная и рамановская спектроскопия Измерения коэффициентов поглощения и пропускания Оптическая система NP250-2: Оптическая система: модифицированная оптическая схема Хилла с компенсацией астигматизма: два независимых спектральных канала Диапазон длин волн: 185 нм – 60 мкм (в зависимости от используемой решетки) Общее относительное отверстие по входу: 1/4.2 Относительное отверстие по входу каждого спектрального канала: 1/6.1 Фокусное расстояние: 270 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота решеток: 1280 нм (для решетки 1200 штр/мм) Основные зеркала: внеосевые параболические Рассеянный свет: 2.5*10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Габаритные размеры: Габаритные размеры (Д х Ш х В): 510 х 280 х 215 мм Оптическая высота: 111 — 120 мм Вес: 14 кг Напряжение питания: 110 — 230 В 50/60 Гц Потребляемая мощность: не более 35 Вт

Установка разработана специально для отработки технологий нанесения покрытий, проведения научных исследований и небольшого производства. Простота использования сочетается с высоким качеством получаемых покрытий за счёт автоматизации управления вакуумной системой и широким диапазоном регулировок процесса напыления. Установка предусматривает возможность нанесения различных типов металлов (Au, Ti, Mo, Cr, Ni, Al, Cu и т.д.) и диэлектриков на твёрдые образцы (кремний, керамика, стекло, металлы). Многофункциональная PVD установка EPOS‐PVD‐E-Mag имеет вакуумную камеру, оснащенную шестью фланцами ISO100 для установки различных технологических источников напыления и других типов (CF100, KF40, 25, 16, «bolt») для вспомогательного оборудования. Возможна установка термического испарителя-лодочки, низкотемпературного испарителя (LTE), DC и RF магнетронов, ионного источника очистки и ассистирования, электронно-лучевого испарителя. Установка оснащена вращающимся подложкодержателем на несколько образцов диаметром до 150 мм с системой нагрева и заслонкой. Особенности и опциональные возможности • Вращаемый карусельный подложкодержатель (двойное вращение) с позиционированием по оптическому датчику положения. • Возможность изменения расстояния между подложкодержателем и источниками позволяет достигать требуемой равномерности напыления и состава пленок при заданных толщинах; • Обеспечение позиционирования подложек напротив источника с помощью шагового двигателя; • Индивидуальный нагрев подложек автоматически стабилизируется и рост температуры может быть запрограммирован до 650°С; • Возможность оснащения кварцевым датчиком измерения толщины пленок и термопарой с точностью до 1°С. • Прецизионная система газоподачи через кольцо в область напыления позволяет получать пленки высокой чистоты из оксидов металлов. Преимущество Возможность полной автоматизации: контроль вакуума, подачи газов, температуры подложки, предварительной очистки поверхности и ассистирования в процессе нанесения покрытия. Контроль толщины наносимого покрытия с помощью автотоматизированных заслонок у всех источников (до 5 штук) с закрытием по таймеру экспозиции или датчику толщины. Широкий выбор технологических устройств и опции позволяют сконфигурировать систему непосредственно для Ваших нужд, а также возможность модернизации для дополнения и расширения производственных возможностей в будущем.

Предназначен для равномерной регулируемой подачи сыпучих зернистых и кусковых материалов. Техническая характеристика ПТ-1 (358 ПТ) Ширина лотка, мм 100 Длина лотка, мм 450 Амплитуда колебаний лотка, мм 0,2 Крупность транспортируемого материала, мм до 10 Производительность при исходном материале с насыпной массой от 1,5 до 1,7 т/м3, кг/час 50-1000 Габаритные размеры, мм Длина 660 Ширина 375 Высота 380 Масса, кг 35

Модель DM160 – это светосильный двойной монохроматор с вычитанием дисперсии, относительным отверстием 1:3.5 и фокусным расстоянием 160 мм. DM160 – это полностью автоматизированный прибор, в котором используется внутренний контроллер для управления разворотом решеток, выбора нужного светофильтра и управления встроенным затвором. Управление прибором осуществляется с помощью специального программного обеспечения. Внутренний контроллер использует RS-232–интерфейс для связи с компьютером. Благодаря использования только четырех оптических элементов и наличию промежуточной щели DM160 отличается чрезвычайно низким уровнем рассеянного света и высоким спектральным разрешением. Монохроматор DM160 выполнен по линейной схеме – входной и выходной порты расположены в одну линию и на одной высоте. Регулировка ширины входной и выходной щелей, установленных на входном и выходном порту соответственно, а также промежуточной щели осуществляется вручную с помощью ручек. Каждая ручка имеет четыре фиксированных положения. Установка нужного спектрального интервала производится перемещением ручки по вертикали. Оптическая система Оптическая схема: оригинальная с вычитанием дисперсии Относительное отверстие (по входу): 1/3.6 Фокусное расстояние (выходное): 160 мм Интегральный уровень рассеянного света (350 нм) с галогеновой лампой: < 0.01 % Рассеянный свет (20 нм от лазера): 10-7 Оптические характеристики Обратная линейная дисперсия первого монохроматора (на длине волны 546): 5.2 нм/мм Обратная линейная дисперсия двойного монохроматора: 0 нм/мм Спектральное разрешение (ширина входной и промежуточной щели 0.22 мм): 1.3 нм Воспроизводимость: ± 0.1 нм Точность установки длины волны: ± 0.25 нм Средний шаг сканирования: 0.025 нм Габаритные размеры, требования к электропитанию Габаритные размеры (Д х Ш х В): 419 х 140 х 175 мм Вес: 8 кг Напряжение питания: 100 — 230 В, 50/60 Гц Потребляемая мощность, не более: 20 Вт

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light V - компактная версия СЗМ с минимальной функциональностью и стоимостью. Основное отличие от основной версии Certus Light - сканирование образцом и более точная система подвода. Прибор состоит из считывающей состояние кантилевера головки, многофункционального плоского сканера, системы подвода и установки головки. Прибор работает с минимальной конфигурацией блока электронного управления, встроенного непосредственно в основной корпус, тоесть прибор является моноблоком. Есть возможностью дистанционного управления прибором через планшетный компьютер с использование специализированного ПО для ОС Android.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

NanoEducator II, несмотря на свою компактность и простоту эксплуатации, поддерживает все базовые методики атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопий, поэтому он может быть использован для любых рутинных АСМ и СТМ измерений и экспериментов в научных исследованиях. Для примера показаны результаты некоторых экспериментов в различных научных приложениях: Исследование атомных структур; Исследование металлических наноструктур; Исследование магнитных структур; Исследование полимерных объектов; Исследование биологических объектов; Исследование углеродных наноматериалов.

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части Технические характеристики СЖ 3-14 (микро) Ширина желобков, мм 3 Количество желобков, шт 14 Объем деления, л 0,18 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 90/126/150 Масса, кг 1,9

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Технические характеристики ДУ-10 Крупность исходного питания, мм, не более 10 Мощность привода, кВт 0,18 Полный объем всех пробоприемников, дм3 10 Показатель сокращения, % 5...30 Габаритные размеры, мм: длина 752 ширина 520 высота 1000 Масса, кг, не более 94

Интерференционный микроскоп "ФемтоСкан Инлайт" служит для точного измерения топографии отражающих объектов, может использоваться для наблюдения плоскостности динамически изменяющейся поверхности (например, грани растущего кристалла), измерения толщины пленок (высоты выступов, образованных краями пленки и подложки). Микроскоп позволяет исследовать образцы на воздухе и в жидких средах. Принцип действия основан на интерференции лучей отраженных от поверхности исследуемого образца с опорным световым потоком одинаковой интенсивности.