Локализатор неисправных электронных компонентов EyePoint S2

Тестеры на платформе FORMULA® HF3 представлены двумя базовыми моделями — FORMULA® HF3 и FORMULA® HF3–512 и предназначены для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256/512 и частотой функционирования до 200 МГц. В комплекте с адаптером PRIMA Тестеры позволяют измерять статические параметры микросхем АЦП и ЦАП до 14 разрядов. НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ Область применения Тестеров — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая: Испытания и исследования вновь разработанных типов микросхем Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные Сертификационные испытания Входной контроль ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Наименование параметраДиапазоны и значения Частота функционального контроля на канал12,5 кГц ... 200 МГц Количество двунаправленных каналов64...256/512 Объем памяти векторов64 М Объем памяти ошибок64 M Диапазон напряжений задаваемых уровней−2...+7,5 В Диапазон напряжений контролируемых уровней−2...+7,5 В Основные измерительные источники питания - до 8/16 шт.0...6 В; ±250 мкА... ±4 А Доп. измерительные источники питания – до 8/16 шт.−2...15 В; ±200 нА...±400 мА Многоканальные измерители стат. параметров - до 8/16 шт.−2...8,5 В; ±200 нА...±150 мА Поканальные измерительные источники – до 256/512 шт.−2...8,0 В; ±2 мкА... ±32 мА Длительность фронта и среза импульса(0,7 ±0,15) нс Минимальная длительность импульса(1,65 ±0,15) нс Основная погрешность формирования входного перепада±200 / ±250 пс Основная погрешность формирования выходного перепада±150/±250 пс Основная погрешность формирования моментов времени от воздействия до контроля±200 пс Общая временная погрешность (OTA)±350 пс Разрешение по времени33 пс Погрешность задания/измерения напряжения основными измерительными источниками0,05%±2,5 мВ Погрешность задания/измерения тока основными измерительными источниками0,3%±0,5 мА Погрешность задания/измерения напряжения дополнительными измерительными источниками0,1%±3 мВ Погрешность задания/измерения тока дополнительными измерительными источниками0,3%±4 нА Погрешность задания/измерения напряжения многоканальным измерителем статических параметров0,1%±500 мкВ Погрешность задания/измерения тока многоканальным измерителем статических параметров0,3%±4 нА Выходное сопротивление(50 ±5) Ом Программируемая активная динамическая нагрузка35 мА на канал Режим «мультисайт» для параллельных измерений ИМСЕсть Алгоритмический генератор тестов (AГТ)8X, 8Y, 8DL, 8DH/ 32 канала Операционная системаWindows 7 Интерактивная среда разработки и отладки программ контроля, выполнения измерений, документирования и анализа данных, метрологического и диагностического сервисаFormHF Языки программированияC++, Pascal Габариты измерительного блока (Ш×В×Г)/ масса1033×558×768 мм /130 кг Потребляемая мощность, не более3 кВт/6 кВт Система охлажденияВоздушное охлаждение

Тестер FORMULA® 2K — это автоматизированная универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля цифровых, аналоговых и цифро-аналоговых микросхем малой и средней степени интеграции, а также микросхем памяти. Тестер предназначен для выполнения измерений в процессе проведения приемо-сдаточных, периодических, сертификационных и иных видов испытаний ИМС, а также для входного контроля FORMULA® 2K обеспечивает требования метрологического законодательства РФ и нормативной документации в области измерений и испытаний в микроэлектронике. Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Наименование параметраДиапазоны и значения Число двунаправленных измерительных каналов64...256 Диапазон уровней входного/выходного сигнала/амплитуда-10...+10 В/± 20 В Частота функционального контролядо 20 МГц Частота канала тактового сигнала40 МГц Длительность фронта и среза импульса, не более4 нс/ 6 В; 15 нс/ 10 В Измерение интервалов времени одним каналомот 5 до 10000 нс Объем памяти тестовых векторов/ошибок1 М/1 М Ток активной нагрузки0,5...24 мА Выходное сопротивление50 Ом ± 5 Ом Источники Число источников (включая 2 прецизионных)5...14 Напряжение источников-20...+20 В Погрешность задания напряженияот ±(0,35% + 10) мВ Погрешность задания напряжения прецизионным источникомот ±(0,02% + 1) мВ Ток источниковдо 2 А Погрешность ограничения токаот ±(2% + 1) мА Измерители Число измерителей (включая 1 прецизионный)до 2 Напряжение измерителей-20...+20 В Погрешность измерения напряженияот ±(0,5% + 2) мВ Погрешность измерения напряжения прецизионным измерителемот ±(0,02% + 1) мВ Ток измерителейдо 200 мА Погрешность измерения силы токаот ±(2% + 12) нА Количество диапазонов по току6 Контроль микросхем памятиСтатические ОЗУ Алгоритмическое формирование последовательности адресовЕсть Динамическое резервирование матрицы ОЗУЕсть Средства управления внешними приборами Интеграция с зондовыми автоматами испытательным оборудованием и внешними приборамипо интерфейсу GPIB Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы

Тестер FORMULA® CK — автоматизированная универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля электронных узлов и блоков, а также их диагностики и локализации неисправностей. Тестер предназначен для выполнения измерений в процессе проведения приёмо-сдаточных, периодических, сертификационных и иных видов испытаний, а также для целей ремонта и контроля ТЭЗ в составе стационарных и передвижных ремонтных станций. ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ ТЕСТЕРОВ Наименование параметра Тестера Диапазоны / Значения Канальная электроника Количество универсальных двунаправленных каналов 192 Канал тактовой частоты 40 МГц1 Канал внутрисхемного параметрического и сигнатурного анализа 1 Параметры канальной электроники Уровни выходного сигнала (основной/дополнительный наборы)0...6 В / 0....30 В Уровни входного сигнала0...27,5 В Частота функционального контроля20 МГц Частота канала внутрисхемного параметрического и сигнатурного анализатора20 МГц Длительность фронта и среза импульса, не более4 нс/ 6 В Объем памяти тестовых векторов/ошибок1 М Входное/выходное сопротивление универсальных каналов 50 Ом Ток активной нагрузки (по каждому каналу)0,5...24 мА Программируемые источники Количество источников6 Напряжение источников-30...+30 В Погрешность задания напряженияот ±(1% + 15) мВ Ток источниковдо 2 А Погрешность задания токаот ±(2% + 1) мА Программируемые измерители статических параметров Количество измерителей статических параметров2 Напряжение измерителей-20...+20 В Погрешность измерения напряженияот ±(0,7% + 2) мВ Ток измерителейдо 200 мА Погрешность измерения токаот ±(2% + 12) нА Количество диапазонов по току6 Средства управления внешними приборами Каналы синхронизации внешнего осциллографа2 Встроенный коммутатор для подключения до 4-х внешних приборов к любому из 192-х каналов192х4 Интеграция с испытательным оборудованием и внешними приборами отечественного и иностранного производствапо интерфейсам LXI и GPIB Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы

Тестер FORMULA® TT2 — это универсальная контрольно-измерительная система, предназначенная для комплексной автоматизированной проверки статических параметров полупроводниковых приборов: полевых и биполярных транзисторов, диодов, тиристоров, стабилитронов, оптронов, а также микросборок. Область применения Тестера — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла полупроводниковых приборов, включая: Испытания и исследования вновь разработанных типов полупроводниковых приборов Производственные и приемочные испытания серийной полупроводниковой продукции: типовые, квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные Сертификационные испытания ЭКБ иностранного производства Входной контроль Высокий уровень комплексной автоматизации всех этапов процесса измерений, который обеспечивает Тестер FORMULA® TT2, позволяет инженеру сосредоточиться на самом главном — особенностях работы и анализе отклонений проверяемых полупроводниковых приборов. ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Ключевые технические характеристики Описание / значение Количество постов оператора1 или 2 Число каналов Тестера2 сигнальных, каждый на задание и измерение параметров. Число каналов Тестера4-х проводная схема подключения Программное обеспечениеFTT Источники и измерители напряжения Диапазон задаваемого и измеряемого напряжения±2000 В Ряд независимых источников и измерителей напряжения10; 20; 200; 500; 2000 В Погрешность задания и измерения напряженияот ±(0,5% + 10) мВ Источники и измерители тока Диапазон задаваемого и измеряемого тока±100 А Ряд независимых источников и измерителей тока5 мА; 200 мА; 10 А; 100 А Погрешность задания и измерения токаот ±(1% ± 50) нА Режим малых токов±2 нА...±20 мА с погрешностью от ±(0,4% + 400) фА Коммутатор для термоиспытанийИспытания до 20 различных приборов одновременно

Тестер стал развитием модели Formula® TT2, существенно расширив возможности её применения в область новых видов испытаний и анализа брака — улучшены функциональные и метрологические характеристики, оптимизирована эргономика рабочего места оператора, снижены требования к измерительной оснастке. Тестер FORMULA® TT3 обеспечивает: - воспроизведение электрического напряжения постоянного тока и силы постоянного электрического тока по четырехпроводной схеме; - измерение электрического напряжения постоянного тока и силы постоянного электрического тока по четырехпроводной схеме; - измерение емкостных характеристик полевых транзисторов и варикапов; - построение вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик двух- и трехполюсников с отображением результатов в графическом виде; - определение зарядовых характеристик полевых транзисторов; - испытания полевых транзисторов на устойчивость к воздействию энергии лавинного пробоя (ЭЛП) одиночного импульса; - измерение статических электрических характеристик полупроводниковых приборов: полевых транзисторов, оптопар, тиристоров, биполярных транзисторов, диодов и стабилитронов, а также приборов других типов. Наименование параметров / характеристик Значение / описание Функциональные характеристики Измерение статических параметров ±2000 В / ±100 А Измерение емкостных параметров от 30 пФ до 40 нФ Определение зарядовых характеристик от 1 нКл до 400 нКл Испытания на устойчивость к ЭЛП от 1 мДж до 400 мДж Технические характеристики Схема подключения к объекту контроля 4-х проводная схема подключения Операционная система Windows 10 Программное обеспечение FORMULA® TT3 с графическим интерфейсом пользователя Источники и измерители напряжения Диапазон воспроизведения/измерения напряжения постоянного тока ±100 мВ…±2000 В Ряд независимых источников и измерителей напряжения 20 В (10А); 40 В (100А); 200 В (200 мА); 500 В (200 мА); 2000 В (5 мА) Погрешность воспроизведения и измерения напряжения постоянного тока от ±(0,5% + 10) мВ Источники и измерители тока Диапазон воспроизведения силы постоянного тока ±100 нА…±100 А Диапазон измерения силы постоянного тока ±100 пА…±100 А Ряд независимых источников и измерителей силы постоянного тока 5 мА (2000 В); 200 мА (200 В); 10 А (20В); 100 А (40В), 100 пА — 200 нА (встроенный пикоамперметр) Погрешность задания тока от ±(1% + 50) нА Длительность измерительного импульса 300 мкс…100 с Общие технические характеристики Напряжение питающей сети частотой 50 Гц, В 230 ± 10% Потребляемая мощность, В·А, не более 600 Масса, кг, не более 76 Исполнение настольное Интерфейсы управления LAN, GPIB, RS 232

Модуль мультиплексора на 64 канала. Позволяет зондировать каждый из 64 каналов по отношению к общему проводу (один ко многим). Используется совместно с основным блоком EyePoint MUX_M. Мультиплексор EyePoint MUX предназначен для коммутирования одного входного канала на любой из выходных каналов в заданной оператором последовательности. При помощи EyePoint MUX можно производить быстрое тестирование краевых разъемов неисправных плат, а также проводить входной контроль микросхем при использовании специализированной оснастки для их установки. Скалирование модулей (до 8 штук, 512 каналов). Подходит для тестирования серийных изделий. Поддержка плана тестирования с генерацией отчетов

EyePoint P10b - автоматическая система локализации неисправных электронных компонентов на печатных платах с опцией выявления контрафактных, перемаркированных или поврежденных компонентов в BGA-корпусах Система сочетает в себе автоматическую оптическую систему распознавания выводов компонентов и летающий щуп для проведения электрического тестирования безопасным методом аналогового сигнатурного анализа. Все, что Вам нужно для поиска неисправностей на исследуемой плате или микросхеме – это снятые вольт-амперные характеристики (сигнатуры) эталонной платы или микросхемы и наша система EyePoint P10b. Вы получите качественный результат за считанные минуты. PCB и BGA. Экономия времени на поиске до 3 раз. Автоматическая проверка до 2500 выводов.

EyePoint H10 - локализатор неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (АСА) с частотой тестирующего сигнала до 12 МГц и широким диапазоном выбора напряжения и чувствительности по току. EyePoint H10 - настольный прибор, с управлением по USB, поставляемый в виде моноблока, комплектующийся измерительными щупами, тестовой платой, кабелем USB и кабелем электропитания 220. Частота тестирующего сигнала до 12 МГц. Управление по USB. Широкий диапазон напряжения.

Двухканальный локализатор неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (АСА) с частотой тестирующего сигнала до 100 кГц. Комплектуется новыми эргономичными измерительными щупами с кнопокой, которые позволяют зафиксировать ВАХ без использования клавиатуры и панели инструментов. EyePoint u32 совместим с мультиплексором EyePoint MUX, применяемым для автоматизации тестирования.

Основной блок мультиплексора, необходимый для работы с модулями EyePoint MUX_S_A. Позволяет подключать до 8 модулей на 64 канала каждый (в сумме до 512 каналов). Используется совместно с ручными сигнатурными анализаторами линейки EyePoint. Мультиплексор EyePoint MUX предназначен для коммутирования одного входного канала на любой из выходных каналов в заданной оператором последовательности. При помощи EyePoint MUX можно производить быстрое тестирование краевых разъемов неисправных плат, а также проводить входной контроль микросхем при использовании специализированной оснастки для их установки. Скалирование модулей (до 8 штук, 512 каналов). Подходит для тестирования серийных изделий. Поддержка плана тестирования с генерацией отчетов

Одноканальный локализатор неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (АСА) с частотой тестирующего сигнала до 100 кГц. EyePoint u21 – компактный настольный прибор с возможностью программного управления, комплектующийся измерительным щупом, USB-флеш-накопителем с комплектом программного обеспечения, кабелем USB для подключения к ПК.

Двухканальный локализатор неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (АСА) с частотой тестирующего сигнала до 100 кГц. EyePoint u22 – компактный настольный прибор с возможностью программного управления, комплектующийся набором измерительных щупов, USB-флеш-накопителем с комплектом программного обеспечения, кабелем USB для подключения к ПК.

EyePoint a2 - одноканальный ОЕМ-модуль без корпуса, предназначенный для поиска неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (АСА). Модуль легко интегрируется в систему заказчика. Имеет открытый API для разработки собственного программного обеспечения. Управляется по USB (через виртуальный COM-порт). В комплекте с устройством поставляется SDK (комплект разработчика), который включает в себя: библиотеку для языка программирования C, биндинги для языков Python и С#, примеры кода и документацию. Кроме того, модуль может использоваться совместно с готовым ПО для других устройств семейства EyePoint. Открытый API. Полный функционал. Максимально доступный

Eth232-4P - компактный прибор, осуществляющий двунаправленное преобразование интерфейсов RS-232 (COM-порт) - Ethernet (raw TCP). Устройство Eth232-4P предназначено для возможности одновременного управления до 4-х устройств с интерфейсом RS-232 по сети Ethernet, с возможностью управления потоком и контролем четности. Благодаря Eth232-4P любые устройства, оснащенные интерфейсом RS-232, могут передавать информацию по сети Ethernet. Eth232-4P оборудован 4 разъемами DB9-M интерфейса RS-232 и разъемом RJ-45 интерфейса Ethernet. Настройка Eth232-4P осуществляется через веб-интерфейс. Параметры всех портов можно настраивать независимо друг от друга.

Автоматическая система локализации неисправных электронных компонентов на печатных платах Система сочетает в себе автоматическую оптическую систему распознавания выводов компонентов и летающий щуп для проведения электрического тестирования безопасным методом аналогового сигнатурного анализа. Все, что Вам нужно для поиска неисправностей на исследуемой плате – это снятые вольт-амперные характеристики (сигнатуры) эталонной платы и наша система EyePoint P10. Вы получите качественный результат за считанные минуты. Прост в использовании. Снижает нагрузку на инженера. Не повредит плату.

Автоматическая система для обнаружения контрафактных, перемаркированных или неисправных электронных компонентов в BGA корпусах Система сочетает в себе автоматическую оптическую систему распознавания выводов компонентов и летающий щуп для проведения электрического тестирования безопасным методом аналогового сигнатурного анализа. Все, что Вам нужно для поиска неисправностей на исследуемой микросхеме – это снятые вольт-амперные характеристики (сигнатуры) эталонной микросхемы и наша система EyePoint B10. Вы получите качественный результат за считанные минуты.

EyePoint S3 – автономный (не требует наличия компьютера) настольный локализатор неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (АСА) с частотой тестирующего сигнала до 100 кГц. Система обладает большим удобным сенсорным экраном. Дополнительная педаль позволяет упростить управление системой. У прибора имеется режим плана тестирования, который позволяет заранее сохранить эталонную плату, а далее работать с такой же неисправной платой не имея эталона под рукой. В отличие от модели S2, EyePoint S3 оснащен разъемами М8 и комплектуется новыми эргономичными щупами с кнопкой, которые позволяют фиксировать ВАХ без использования панели управления. Не требует наличия компьютера. Частота тестирующего сигнала до 100 кГц. Доступен план тестирования.