Поиск

Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов.

Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.

Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)

Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: Labgrade Цвет каркаса: белый Масса: 15 кг

Для установки кварцевых кювет типа КФК в спектрометр ФСМ используется держатель ДК КФК, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: нержавеющая сталь Цвет каркаса: белый Масса: 15 кг.

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала