Поиск

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Режимы сканирования: ион-проводящая микроскопия атомно-силовая микроскопия силовое картирование литография резистивная микроскопия электростатическая микроскопия магнитная микроскопия cканирующая туннельная микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.

● Диапазон увеличений: 50 - 800х ● Объективы сменные планахромат 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60 (по запросу), 50х/0,70, 80х/0,80 с увеличенным рабочим отрезком ● Окуляр 10х/18 мм ● Осветитель: Светодиодный осветитель со стабилизированным источником и встроенным аккумулятором. Регулировка освещения с линейным изменением интенсивности. Зарядное устройство в комплекте. ● Штатив микроскопа с регулировкой по высоте с ходом 35 мм. Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления ● Перемещение объектива 30х30 мм по осям X-Y ● Рукоятки грубой и точной фокусировки ● Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в том числе на гибах труб диаметром от 60 мм ● Противоскользящие насадки ● Крепление металлическое для немагнитных поверхностей с храповым механизмом ● Основание для закрепления микроскопа при стационарной работе ● Байонетное крепление для фотоаппарата ● Крепление c-mount для видеокамеры ● Заглушка транспортировочная для видеовыхода ● Кейс для переноски микроскопа с фотокамерой.

Микроскоп учебный предназначен для наблюдения прозрачных препаратов в проходящем свете в светлом поле, при изучении естественных наук в школах II-III ступени и других учебных заведениях, а также различных исследованиях в лабораторной практике. Микроскоп обеспечивает высокое качество изображения, очень удобен и прост в обращении. Особенностью этого микроскопа является независимость от внешнего источника питания и возможность работы в полевых условиях. Микроскоп укомплектован панкратическим окуляром, позволяющим плавно изменять увеличение, и револьверной головкой для быстрой смены объективов. Технические характеристики: Увеличение, крат - 80 ….400 Ахроматические объективы - 8 х 0,20 20 х 0,40 Панкратический окуляр - 10х-20х Габаритные размеры, мм - 350 х 150 х 110 Масса, кг - 1,4

Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light V - компактная версия СЗМ с минимальной функциональностью и стоимостью. Основное отличие от основной версии Certus Light - сканирование образцом и более точная система подвода. Прибор состоит из считывающей состояние кантилевера головки, многофункционального плоского сканера, системы подвода и установки головки. Прибор работает с минимальной конфигурацией блока электронного управления, встроенного непосредственно в основной корпус, тоесть прибор является моноблоком. Есть возможностью дистанционного управления прибором через планшетный компьютер с использование специализированного ПО для ОС Android.

С помощью "ФемтоСкан Крио" Вы сможете изменять температуру внутри рабочей камеры в диапазоне 4,2-300 K. Точность поддержания температуры – 0,05 K. "ФемтоСкан Крио" регистрирует силы с помощью кварцевого камертона, поэтому в системе отсутствует лазерный луч и источники тепловых помех.

"ФемтоСкан" сочетает в себе компактные размеры, мощное программное обеспечение, возможность удаленного доступа через Интернет с открытой архитектурой, которая дает особые возможности для исследований – теперь Вы можете оптимизировать микроскоп для любого, самого точного эксперимента.

Это лабораторное оборудование научно-исследовательского назначения позволяет в автоматическом сканирующем режиме получать флуоресцентные изображения микропрепаратов на предметных стеклах или в 96 луночном планшете. Обладает высокой производительностью и позволяет автоматизировать микроскопные исследования для экономии времени исследователей при рутинном получении большого количества флуоресцентных изображений.

Confotec® NR500 – это высокопрецизионный, полностью автоматизированный 3D сканирующий лазерный конфокальный Рамановский микроскоп со спектрометром. Преимущества лазерного Рамановского конфокального микроскопа Confotec® NR500 Одновременный / многофункциональный анализ: Рамановские измерения; люминесцентные измерения; измерения лазерного отражения и пропускания; трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения; информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов. Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм. Широкий спектральный диапазон: 785 нм: спектральный диапазон 50 — 3700 см-1; 633 нм: спектральный диапазон 60 — 6700 см-1; 488 нм: спектральный диапазон 150 — 10000 см-1. Одновременное использование до 5-ти лазеров путем автоматического переключения необходимых компонентов внутри системы микроскопа. Система сканирования наряду со старт-стопным режимом сканирования позволяет осуществлять быстрое сканирование (1000 х 1000 точек за 3 секунды) с регистрацией сигнала с помощью ФЭУ. Площадь сканирования: 130 х 130 мкм. Специальный блочный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: спектральное разрешение до 0.006 нм; астигматизм менее 5 мкм. Возможность использования инвертированных (inverted) и прямых (up‑right) микроскопов. Наличие телескопа с переменным увеличением для согласования с входными зрачками микро объективов от 3 до 12 мм. Поляризационные измерения. Высокая чувствительность при низкой мощности лазерного возбуждения (от мкВт до мВт). Модуль отражения для одновременного получения 3D изображения в отраженном свете. Измерения на пропускание. Полностью автоматизированное управление всеми устройствами системы. Блочная, жесткая, стержневая конструкция обеспечивает высокую временную и температурную стабильность. Отсутствие оптических волокон, ухудшающих оптические параметры (пропускание, волновой фронт, поляризацию). Наличие кольцевого освещения для комбинации со сканирующим атомно-силовым микроскопом.

Микроскоп МБС-10 предназначен для наблюдения как объемных предметов, так и тонких пленочных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ. Область применения: ботаника, биология, медицина, минералогия, криминалистика, археология, машиностроение, приборостроение и другие области науки и техники.