Поиск

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Предназначен: для фотометрических исследований в проходящем, отраженном свете и в свете люминесценции, а также для исследований в поляризованном свете микрообъектов и микроучастков макрообъектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 50 – 1000 Спектральный диапазон регистрации, нм Зеркального отражения Диффузного отражения Пропускания (оптической плотности) Люминесценции 350 – 900 380 – 760 350 – 900 400 – 700 Минимальный размер фотометрируемого участка, мкм 1 Количество фотометрических диафрагм, шт. 6 Визуальная насадка бинокулярная Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Увеличение насадки, крат 1 Регулируемое межзрачковое расстояние 55-75 Окуляры, крат 10 Освещение - проходящий свет - классическое по Келлеру, - сверху - свет, падающий через объектив, - от наклонного осветителя Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы (увеличение) 5/0,1 ∞/- 10/0,25Л∞/ - 20/0,45Л ∞/0,17 40/0,65Л ∞/0,17 100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис) Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 76х26 Конденсор числовая апертура 0,9 Источник света лампа галогенная 9 В 70 Вт, лампа ртутная HBO 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блоки питания настольного типа, для галогенной лампы - регулировка яркости Габаритные размеры: микроскопа, мм 260х550х730 БУСМ-10 320х350х160 Блоков питания ртутной и галогенной лампы 242х125х71 Масса прибора, кг 30

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Предназначен: для наблюдения прямого объемного изображения непрозрачных объектов при плавном изменении увеличения панкратической системой (zоом). Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 6,5 – 180 Увеличение zоом объектива, крат 0,65 – 4,5 Видимое увеличение микроскопа, крат - со сменным объективом 2х - со сменным объективом 0,5х 6,5 – 135 13 – 270 3,25 – 67,5 Видимое увеличение окуляра, крат/ поле, мм 10х/22, 20х/12, 30х/8 Рабочее расстояние микроскопа, мм - со сменным объективом 2х, мм - со сменным объективом 0,5х, мм 100 26 177 Поле зрения в плоскости объекта, мм - со сменным объективом 2х - со сменным объективом 0,5х 34 - 1,7 17 - 0.85 68 - 3,4 Источник света галогенная лампа 12В 15Вт, осветитель с лампой устанавливается на головке микроскопа или на блоке питания Источник питания сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц через настольный блок с регулировкой яркости Габаритные размеры микроскопа, не более, мм 240х310х470 Масса микроскопа, не более, кг 10

Мы разработали прибор для мультиплексной диагностики различных вирусов, бактерий и других патогенных микроорганизмов, которые вызывают опасные заболевания человека или животных. При этом наша новая разработка позволит не только выявлять несколько инфекций за один анализ (в том числе и COVID-19), но и минимизирует ваши трудовые затраты, время и деньги. Преимущества Мультиплексность - диагностика до 30 маркёров в одном образце за один анализ Чувствительность - возможность проведения качественного и количественного анализа Скорость - время анализа 4 секунды Компактность - удобный размер, требующий минимального пространства на рабочем столе Мобильность - возможность использования в различных лабораториях Открытая система - использование любых тест-систем на основе магнитных кодированных микросфер Гибкость - анализ широкого спектра биомаркёров

Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения панкратической системы. Технические характеристики: Параметры оптической головки МСП-1 вар. 22М и 23 Увеличение zоом объектива, крат 1,0 – 4,5 Видимое увеличение микроскопа с окуляром 10х (20х), крат с дополнительным объективом 2х* с дополнительным объективом 0,5х* 10 – 45 (20 – 90) 20 – 90 (40 – 180)* 5 – 22,5 (10 – 45)** Рабочее расстояние, мм с дополнительным объективом 2х, мм* с дополнительным объективом 0,5х, мм* 97 30* 180** Насадка тринокулярная включает бинокуляр и вертикальный тубус Наклон тубусов бинокуляра, град 45 Межзрачковое расстояние, мм 55 – 75 Увеличение адаптера для камеры (C-mount), крат 0,5х

Представляют собой новое поколение микроскопов с оптико-цифровым каналом наблюдения, регистрацией и обработкой микроизображений. Технические характеристики: Комплект объективов, увеличение/ числовая апертура 5x/0,10; 20x/0,45; 63x/0,85; 100x/1,25 МИ Диапазон линейного увеличения: в режиме цифрового масштаба «х1» в режиме цифрового масштаба «х2» в режиме цифрового масштаба «х4» 63 – 1250 125 – 2500 250 – 5000 Диапазон линейных полей зрения в плоскости объекта, мм: в режиме цифрового масштаба «х1» в режиме цифрового масштаба «х2» в режиме цифрового масштаба «х4» 2,54 – 0,13 1,27 – 0,07 0,63 – 0,04 Видеосистема: матрица и монитор CMOS 3,2 Мпкс; VGA 6,5´´, 1024x768 пкс Регулируемые параметры яркость, контрастность, резкость, насыщенность, фон, множитель, оттенок, фильтр, режим ч/б изображения, поворот изображения Сохранение данных с помощью виртуальной клавиатуры карта памяти, «Внутренний диск» (встроенная карта памяти), flash- накопитель USB Разъемы для подключения внешних устройств USB – компьютер, flash- накопитель, HDMI - монитор, видеопроектор, Ethernet – проводная компьютерная сеть, 3,5 мм TRS – гарнитура. Управление видеонасадкой Манипулятор «мышь» Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц через сетевой адаптер постоянного тока напряжением 12В Полная потребляемая мощность, не более, В·А 35 Габаритные размеры, не более, мм 220х260х490 Масса, не более, кг 10

Режимы сканирования: ион-проводящая микроскопия атомно-силовая микроскопия силовое картирование литография резистивная микроскопия электростатическая микроскопия магнитная микроскопия cканирующая туннельная микроскопия

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.