Поиск

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Сменные камеры подходят для флотационных машин ФМЛ 3 (240 ФЛ), ФМЛ 8 (295 ФЛ).

Сканирующая Зондовая Микроскопия На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/.

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части Технические характеристики СЖ 3-14 (микро) Ширина желобков, мм 3 Количество желобков, шт 14 Объем деления, л 0,18 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 90/126/150 Масса, кг 1,9

Комплект дисков подходит для истирателей дисковых ИД-175, ИД-175М (ИД-175МС), ИД-250, ИД-250М (ИД-250МС) и ИД-65.

Confotec® NR500 – это высокопрецизионный, полностью автоматизированный 3D сканирующий лазерный конфокальный Рамановский микроскоп со спектрометром. Преимущества лазерного Рамановского конфокального микроскопа Confotec® NR500 Одновременный / многофункциональный анализ: Рамановские измерения; люминесцентные измерения; измерения лазерного отражения и пропускания; трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения; информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов. Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм. Широкий спектральный диапазон: 785 нм: спектральный диапазон 50 — 3700 см-1; 633 нм: спектральный диапазон 60 — 6700 см-1; 488 нм: спектральный диапазон 150 — 10000 см-1. Одновременное использование до 5-ти лазеров путем автоматического переключения необходимых компонентов внутри системы микроскопа. Система сканирования наряду со старт-стопным режимом сканирования позволяет осуществлять быстрое сканирование (1000 х 1000 точек за 3 секунды) с регистрацией сигнала с помощью ФЭУ. Площадь сканирования: 130 х 130 мкм. Специальный блочный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: спектральное разрешение до 0.006 нм; астигматизм менее 5 мкм. Возможность использования инвертированных (inverted) и прямых (up‑right) микроскопов. Наличие телескопа с переменным увеличением для согласования с входными зрачками микро объективов от 3 до 12 мм. Поляризационные измерения. Высокая чувствительность при низкой мощности лазерного возбуждения (от мкВт до мВт). Модуль отражения для одновременного получения 3D изображения в отраженном свете. Измерения на пропускание. Полностью автоматизированное управление всеми устройствами системы. Блочная, жесткая, стержневая конструкция обеспечивает высокую временную и температурную стабильность. Отсутствие оптических волокон, ухудшающих оптические параметры (пропускание, волновой фронт, поляризацию). Наличие кольцевого освещения для комбинации со сканирующим атомно-силовым микроскопом.

Комплекс "ФемтоСкан Лаборатория" включает в себя все необходимое для обучения студентов: один или несколько микроскопов "ФемтоСкан", рабочие станции, расходные материалы и др. Во время обучения студенты получают опыт реальной работы в сфере нанотехнологий: исследование нанообъектов, изучение свойств поверхностей, работа с микроскопом, построение изображений и интерпретация экспериментальных данных.

Устройство предназначено для измерения угла естественного откоса сыпучих материалов и для последующего расчета коэффициента внутреннего трения. Устройство состоит из прозрачной кюветы призматической формы, отклоняющего привода, измерительной шкалы и станины. Технические характеристики 952РМ Диапазон изменения угла наклона измерительной пластины: - максимальный, ° 0-90 - рабочий,° 20-50 Объём емкости для сыпучего материала (макс), см3 200 Напряжение питания, В 220 Номинальная полезная мощность на валу мотор-редуктора, Вт 5 Габаритные размеры, мм, не более: длина 260 ширина 260 высота 284 Масса, кг 6,8

Комплект амортизаторов подходит для истирателей вибрационных ИВЧ-1 и ИВЧ-3.

Сгуститель предназначен для сгущения суспензий плотностью до 5 г/см3 в лабораторных условиях. Техническая характеристика 55СГ Производительность, кг/ч 0,5..5 Диаметр чана, мм 700 Высота чана, мм 430 Мощность привода, кВт 0,12 Число оборотов гребков, об/мин 0,28-1 Габаритные размеры, мм Длина 780 Ширина 710 Высота 1500 Масса, кг 110