Поиск

Прибор предназначен для проведения фильтрационных испытаний образцов дисперсных грунтов с целью определения коэффициента фильтрации в соответствии с ASTM D5887-16 и D5084-16.

Определение степени перетира (размера частиц и агломератов) пигментированных лакокрасочных и иных материалов.

Ручной магнит предназначен для выделения сильномагнитных минералов из малых проб в сухом виде и в жидкой среде. Ручной магнит может быть использован в лабораторных и полевых условиях при поисково-разведочных работах для проведения минералогических исследований.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Станок предназначен для подготовки поверхности образцов из черных сплавов при проведении атомно-эмиссионного спектрального анализа.

Масс-спектрометры серии Альфа EL200 комплектуются квадрупольным масс-анализатором с диапазоном регистрации от 1 до 200 а.е.м. Используется закрытый источник ионов с электронным ударом. Детектирование ионов осуществляется вторичным электронным умножителем (ВЭУ).

Преобразователь для определения твердости по Шору D. Принцип действия преобразователя основан на вдавливании индентора в исследуемый материал с определенной силой. Глубина вдавливания индентора пропорциональна твердости по Шору. Отсчет значения твердости производится по истечении (3±1) секунд с момента прикосновения индентора к образцу. Для образцов, у которых наблюдается дальнейшее отчетливое погружение индентора, показатель отсчитывается по истечении (15±1) секунд.

Контрольные образцы, использующиеся магнитопорошковым дефектоскопом, участвуют в определении качества магнитной суспензии. Также их применяют в режимах намагничивания и технологии контроля по необходимому уровню чувствительности.

Обозначение СНО(З)-6/12,5 Мощность, кВт, не более 8 Напряжение питающей сети, В 380 Частота, Гц 50.

Применяются для проверки работоспособности и установки порога чувствительности вихретоковых дефектоскопов, преобразователей для контроля резьбы.