Поиск

Основные технические характеристики Диапазон длин волн, нм 400-940 Диапазон обеспечивается набором дискретных светодиодов, имеющих следующие длины волн излучения, нм 400, 440, 470, 525, 590, 670, 770, 880, 940 Диапазон измерений: - СКНП, %; - оптической плотности, Б Диапазон контроля: - оптической плотности, Б - концентрации, ед. конц. 1-100 0,03 -2 2 - 3 0,001-9999 Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении СКНП, % ±1 Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении оптической плотности: - в диапазоне от 0,03 до 0,5 Б, Б - в диапазоне от 0,51 до 1,09 Б, Б - в диапазоне от 1,1 до 2,0 Б, Б ± 0,015 ± 0,045 ± 0,45 Питание фотометра осуществляется: - от сети переменного тока через адаптер сетевой - от автономного источника питания напряжение 220±22В частота 50,0±0,5Гц четыре батарейки типа АА по 1,5 В каждая; четыре аккумулятора типа АА по 1,2 В каждый Мощность, потребляемая фотометром, В•А, не более 7 Габаритные размеры, мм, не более 240х200х100 Масса, кг, не более 1,6

Характеристики КФК-3-01 Выделяемый спектральный интервал 5 -7 нм Диапазон измерений СКНП 1 - 99 % Диапазон измерений оптической плотности 0,004 –2 Б Диапазон показаний СКНП 0,1 - 120 % Диапазон показаний оптической плотности 0 – 3 Б Диапазон показаний концентрации 0,001 – 9999 ед. конц

Спектрофотометр ПЭ-5300ВИ предназначен для измерения коэффициента пропускания и оптической плотности жидкостей с целью определения растворенных в них компонентов. Технические характеристики: - Спектральный диапазон: 325-1000 нм. - Спектральная ширина щели: 4 нм. - Погрешность установки длины волны, не более: ±2 нм. - Воспроизводимость установки длины волны, не более: 1 нм. - Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении спектральных коэффициентов направленного пропускания, не более: ±0,5 %Т. - Диапазон измерений: а) оптическая плотность: от 3,000 до 0,000; б) коэффициент направленного пропускания: от 0,0 до 100,0%. - Источник света: галогенная лампа. - Цифровой выход для подключения к ПК: USB B. - Габаритные размеры (ДхШхВ) мм: 440х320х175. - Масса: не более 8,5 кг. - Потребляемая мощность: 25 Вт. - Напряжение питающей сети: 220±22 В, при частоте 50 Гц;

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сканер представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканер обладает высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля. Оптическая микроскопия ближнего поля основана на использовании свойств ближнего (эванесцентного) поля, что позволяет преодолеть дифракционный предел классической оптической микроскопии. Все ближнепольные микроскопы включают несколько базовых элементов конструкции: зонд; система перемещения зонда относительно поверхности образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам (система развертки); регистрирующая система; оптическая система.

Предназначен для управления работой пьезопозиционеров, таких как сканирующий столик Ratis и однокоординатная подвижка Vectis., или иным пьезоустройством. Общие характеристики: Центральный процессор 32 бит; RISC Интерфейс с ПК USB 2.0 Прочие интерфейсы RS 232, RS485, SYNC I/O Высоковольтные выходы Напряжение -10..150 V Шум < 5 ppm Число каналов 3 Разрядность ЦАП (цифро-аналоговые преобразователи)18 бит

Блок электронного управления EG 5000 является последней модификацией серии контроллеров EG. Предназначен для управления сканирующих зондовых микроскопов, устройств нано позиционирования, всех модификаций. Главными отличительными особенностями являются: Использование мощного FPGA Cyclone V, позволяющего с большей скоростью обрабатывать данные и выдавать управляющие сигнал. Встроенный ПК с операционной системой Linux, установленным ПО, позволяет унифицировать систему и избежать сложностей при установке и обновлении ПО.

Разработан для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Он позволяет получать полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ изображения. Конструкция комплекса Centaur I HR позволяет работать как с отдельными методиками (например, с атомно-силовой-микроскопией), так и проводить совмещение методик (АСМ-Раман, конфокальная лазерная и АСМ).