Поиск

Лазерный источник предназначен для возбуждения атомно-эмиссионных спектров при выполнении качественного спектрального анализа твердых пород – металлов, минералов, стекол и других. Источник выполнен на основе двухимпульсного YAG:Nd лазера с электрооптической модуляцией добротности, работающего на основной длине волны 1064 нм. Длительность каждого импульса составляет не более 10 нс, а задержка между ними регулируется от 0 до 60 мкс. Способность лазерного луча к фокусировке на участок 300 до 1000 мкм даёт возможность провести микроанализ включений, выполнить двумерное сканирование поверхности или локально проанализировать пробы практически без повреждения поверхности. Существенным достоинством лазерного источника является экспрессность и отсутствие специальной пробоподготовки для широкого круга проводящих и непроводящих материалов. Визуальное наблюдение и наведение луча на образец осуществляется с помощью интегрированного в систему стереоскопического микроскопа, а также цифровой видеокамеры высокого разрешения с передачей изображения в компьютер. Перемещение приборного столика с закреплённым образцом возможно как вручную для настройки, так и с помощью шаговых двигателей в двух координатах в ходе анализа, что обеспечивает сканирование поверхности и запись спектра с привязкой к видеоизображению. Установка может применяться совместно с любыми спектральными приборами – «Гранд», «Аспект», «Экспресс», «Колибри-2», СТЭ-1, ДФС-458, МФС-8, PGS-2 и другими. Лазерный источник предназначен для возбуждения атомно-эмиссионных спектров при выполнении качественного спектрального анализа твердых пород – металлов, минералов, стекол и других. Источник выполнен на основе двухимпульсного YAG:Nd лазера с электрооптической модуляцией добротности, работающего на основной длине волны 1064 нм. Длительность каждого импульса составляет не более 10 нс, а задержка между ними регулируется от 0 до 60 мкс. Способность лазерного луча к фокусировке на участок 300 до 1000 мкм даёт возможность провести микроанализ включений, выполнить двумерное сканирование поверхности или локально проанализировать пробы практически без повреждения поверхности. Существенным достоинством лазерного источника является экспрессность и отсутствие специальной пробоподготовки для широкого круга проводящих и непроводящих материалов. Визуальное наблюдение и наведение луча на образец осуществляется с помощью интегрированного в систему стереоскопического микроскопа, а также цифровой видеокамеры высокого разрешения с передачей изображения в компьютер. Перемещение приборного столика с закреплённым образцом возможно как вручную для настройки, так и с помощью шаговых двигателей в двух координатах в ходе анализа, что обеспечивает сканирование поверхности и запись спектра с привязкой к видеоизображению. Установка может применяться совместно с любыми спектральными приборами – «Гранд», «Аспект», «Экспресс», «Колибри-2», СТЭ-1, ДФС-458, МФС-8, PGS-2 и другими.

Вакуумные спектрометры предназначены для экспресс-анализа сплавов на основе железа, меди, алюминия и других металлов в заводских и исследовательских лабораториях, включая определение элементов, имеющих в области вакуумного ультрафиолета (ВУФ) аналитические линии (например, S, P и C в сталях).

СПАС-05 является оптимальным решением для заказчиков, которым нужны быстрота анализа, высокие технические характеристики, надежность и высокая точность результатов определения полного элементного состава металлопродукции при минимальных затратах на покупку, внедрение и эксплуатацию прибора.

Оптико-эмиссионный спектрометр МСАII V5 разработан для анализа металла и сплавов на основе Fe, Ni, Cu, Al, Ti, Mg, Pb, Zn, Co, Sn. Менее чем за минуту вы узнаете точный элементный состав образца и его соответствие ГОСТам, стандартам и техническим регламентам.

Во время работы генератор паров металлических образцов «Аспект» обеспечивает: управление всеми приборами комплекса атомно-эмиссионного спектрального анализа - анализатором МАЭС, генератором "Шаровая Молния", включением внешних устройств; искровой однополярный разряд возбуждается между вольфрамовым противоэлектродом и поверхностью исследуемых образцов - слитков драгоценных металлов или других металлических проб; интенсивность эрозии поверхности пробы регулируется путем изменения частоты следования и мощности искровых импульсов, генерируемых полупроводниковым искровым генератором с компьютерным управлением; стабильность и качество обыскривания контролируется с помощью встроенного спектрометра через оптоволокно; регулируемый поток высокочистого аргона проходит через зону искрового разряда в герметичной разрядной камере, подхватывает частицы пробы, полученные искровой эрозией поверхности и переносит их в виде аэрозоля в зону смесителя/распылителя горелки индуктивно-связанной плазмы оптико-эмиссионного спектрометра; поток высокочистого аргона подается, контролируется и регулируется с помощью регулятора массового расхода с микропроцессорным управлением в диапазоне от 0,5 до 3 л/мин. Стабильность подачи 0,01 л/мин.

Этот малогабаритный спектрометр является отличным инструментом для решения задач входного контроля и разбраковки металлов и сплавов, а также может быть использован в учебном процессе в высших и средних специальных учебных заведениях. Технические характеристики: Оптическая система на базе неклассической вогнутой решетки с плоским полем, с продувкой аргоном (расход аргона около 0,05 л/мин). Спектральный диапазон 178-410 нм. Приемники излучения 4 многоэлементных линейных детектора. Диапазон измеряемых концентраций 0,01% - десятки % Относительная погрешность (в зависимости от концентрации) 5%...30% Время анализа 10…40 с Вес 24 кг Габариты 625х420х260 мм Требования к электропитанию напряжение 220±22 В, 50 Гц, однофазное с заземлением. Мощность не более 1 кВА Требования к аргону содержание аргона не менее 99,998%.

Технические характеристики: Оптическая система и фонусное расстояние оптическая схема Пашена-Рунге с кругом Роуланда 500 мм Полихроматор продуваемый аргоном (расход аргона около 0,05 л/мин) 175-425 нм с возможностью установки дополнительного канала Спектральный диапазон: натрия 589 нм (по специальному заказу возможно расширение диапазона в пределах 175-850 нм) лотив продуваемый аргоном. Отнрытая нонструнция, Имеются специальные адаптеры для анализа прутков и проволоки Одатчик (выносной штатив)по специальному заказу вес выносного датчика 1,2 нг, длина кабеля 2,5 м Дополнительный воздушный штатив по специальному заказу Источник возбуждения генератор СПАРК-500 Условия эксплуатации температура 15...30°С, относительная влажность < 80% Требования к электропитанию мощность 1 НВА, напряжение 220-22 В 50 ГЦ, однофазное с заземлением Требования к аргону 99,998% чистоты. У спектрометра предусмотрен фильтр дополнитель- ной очистни аргона. При необходимости в номплект поставки может быть включен стенд очистки аргона СОАР-1 Габариты, мм (длина, ширина, высота) 810х525 х 975 - напольное исполнение, 810х525 х 430 - настольное исполнение Вес, кг. 80 - напольное исполнение, 50 - настольное исполнение. Диапазон измеряемых концентраций 0,0001% ... десятки % Относительная погрешность (® зависимости от концентрации) 0,5%...5% Время анализа 10...40 сен.

Совместно с оптическим прибором приставка ФЭП-10 используется для качественного и количественного анализа различных материалов на основании градуировочных характеристик, построенных по стандартным образцам. Технические характеристики: Тип фотоприемников линейные CMOS-приемники с высоким динамическим диапазоном. Количество фотоприемников 3...12 Размеры фоточувствительного элемента (пикселя) , мкм. 7х200 Количество пикселей на одной ПЗС-линейке 4096 Длина спектра, регистрируемого одной ПЗС-линейкой, мм. 29 Общая длина регистрируемого спектра, мм. до 340.

Технические характеристики: Диапазон измеряемых концентраций 0,005% - десятки % Спектральный диапазон 178-410 нм Приемники излучения 4 многоэлементных детектора Относительная погрешность (в зависимости от концентрации) 1%...20% Время анализа 10...40 с Требования к аргону 99,998% Электропитание Сеть 2208 50 Гц, аккумулятор Потребляемая мощность в режиме анализа дот кВт Вес консоли ТГ Вес оптического модуля 2.5 кг.

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов

Разработан для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Он позволяет получать полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ изображения. Конструкция комплекса Centaur I HR позволяет работать как с отдельными методиками (например, с атомно-силовой-микроскопией), так и проводить совмещение методик (АСМ-Раман, конфокальная лазерная и АСМ).