Поиск

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сканирующая Зондовая Микроскопия/методики На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/.

14 высокоточных шаговых двигателей управляют всеми подвижными частями микроскопа, а интеллектуальное программное обеспечение стирает грань между оптическим и СЗМ изображением. НЕКСТ обеспечивает непрерывное увеличение от миллиметровых панорамных оптических изображений до атомарного разрешения, а такие промежуточные операции, как наведение лазера на кантилевер, позиционирование образца, «мягкий» подвод и конфигурация продвинутых СЗМ методик происходит автоматически.

Предельное качество отображения обеспечивается использованием встроенной акусто- и виброизоляции, термостабилизации, лучшей в индустрии чувствительностью оптической системы регистрации и уникальной конструкцией системы сканирования зондом, позволяющей достигать атомного разрешения в рутинных измерениях. В базовой конфигурации доступны 50+ АСМ методик, включая метод HybriD, что позволяет проводить все ультрасовременные наномеханические, электрические и магнитные исследования. Интеллектуальный алгоритм ScanTronic™ для оптимизации одним кликом мыши параметров сканирования, позволяющий проводить совершенные измерения рельефа с использованием амплитудно-модуляционного метода независимо от опыта оператора. Автоматизированное исследование множественных образцов с использованием простого пользовательского интерфейса для создания сценария поточечного сканирования и базы данных для храненных полученных изображений. Контроль образцов с размерами до 200×200 мм и толщиной до 40 мм в любой точке поверхности с точностью позиционирования 1 мкм. Широкая возможность кастомизации: установка дополнительного оптического оборудования, разработка специализированных держателей образцов, совмещение с транспортной системой, автоматизация измерений и анализа данных в соответствие с требованием заказчика.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля. Оптическая микроскопия ближнего поля основана на использовании свойств ближнего (эванесцентного) поля, что позволяет преодолеть дифракционный предел классической оптической микроскопии. Все ближнепольные микроскопы включают несколько базовых элементов конструкции: зонд; система перемещения зонда относительно поверхности образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам (система развертки); регистрирующая система; оптическая система.

NT-MDT S.I. представляет NTEGRA II, второе поколение самого популярного в мире АСМ. Благодаря дополнительным возможностям и расширенным функциям он обеспечивает беспрецедентный уровень модульности и гибкости, становясь настоящим партнером исследователя. Интеллектуальным, быстрым, надежным, точным и, несомненно, простым в использовании. Чтобы исключить влияние шумной среды, NTEGRA II поставляется в стандартном шкафу, обеспечивающем контроль температуры, акустическую и виброизоляцию. Такое сочетание раскрывает истинную природу NTEGRA II как самого стабильного АСМ в мире, обеспечивающего температурный дрейф на уровне менее 0,2 нм/мин.

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

"ФемтоСкан" сочетает в себе компактные размеры, мощное программное обеспечение, возможность удаленного доступа через Интернет с открытой архитектурой, которая дает особые возможности для исследований – теперь Вы можете оптимизировать микроскоп для любого, самого точного эксперимента.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Сканирующая Зондовая Микроскопия На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/.

Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах