Поиск

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

Принцип действия анализатора СПЕКТРАН-219 основан на измерении коэффициентов диффузного отражения размолотых образцов зерна в ближней ИК области спектра. По измеренным данным отражения образцов зерна с известным содержанием компонентов производится градуировка анализатора, т.е. расчет градуировочных коэффициентов для каждого компонента. Рассчитанные значения заносятся в память анализатора и затем используются при анализе продуктов. Технические характеристики Спектральный диапазон, нм 1400-2400 Погрешность измерения спектральных коэффициентов диффузного отражения +/- 5% Погрешность установки длин волн, нм +/- 2,0 Сходимость измерения спектральных коэффициентов диффузного отражения 0,03% Габаритные размеры, мм 520х250х260 Масса, кг 12

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Эти недорогие высокоточные пирометры (термометры) приходят на смену медленным и неудобным в работе контактным термометрам и позволят Вам легко контролировать температуру даже движущихся и находящихся под напряжением поверхностей.

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых и жидких образцов, в том числе полимерных частиц, пленок и волокон, порошкообразных веществ, фрагментов лакокрасочных покрытий, горюче-смазочных материалов. Наличие оптической системы визуального контроля исследуемой поверхности с увеличением 75Х обеспечивает высокую эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) используется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45°. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, кристаллов, тонких пленок на поверхности, а также при регистрации спектров поглощения крупных цельных объектов. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 30 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная площадь твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.1/1 Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge Диаметр пятна фокусировки, мм 1 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива /общее увеличение визуального канала 4Х/75Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 Габаритные размеры, мм 150×150×260 Масса, кг 2,15 • Позволяет исследовать объекты малых размеров (от 200 мкм - в зависимости от геометрии, качества поверхности и физико-химических свойств материала) • Приставка позволяет работать без пробоподготовки, имеет фиксируемую регулировку давления на образец с помощью прижима, снабженного цветовыми индикаторами • Благодаря съемному фланцу с элементом НПВО обеспечивается быстрая и удобная смена образцов и очистка поверхности кристалла • При заданном оптимальном усилии контакта метод обеспечивает высокое качество и повторяемость результатов благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения • Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами

Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16

Держатель ДТ13 предназначен для фиксации с помощью механического прижима таблетки диаметром 13 мм, спрессованной из смеси перемолотого в порошок твердого образца и кристаллов KBr.

Особенности цифровой ИК кaмеры для спектроскопии HLS 190IR Широкий спектральный диапазон регистрации: до 2.55 мкм; Большой динамический диапазон; низкий уровень темнового сигнала; низкий уровень шума считывания; Термоэлектрическое охлаждение фотоприемника; Широкие возможности программирования режимов работы камер; большой объем внутренней оперативной памяти; Различные режимы входной и выходной синхронизаций; Связь с внешним компьютером по скоростному интерфейсу 10/100 Ethernet; Встроенная схема управления внешним затвором; Возможность установки времени накопления, а также времени задержки до и после накопления в широких пределах. Области применения кaмеры HLS 190IR Цифровые ИК кaмеры серии HLS 190IR предназначены для работы в качестве системы регистрации в спектрометрах ближнего инфракрасного диапазона при проведении научных и лабораторных исследований, в радиационной термометрии, при проведении неразрушающего контроля, а также в других областях науки и техники, использующих спектрометрические методы исследований.

Тестер для контроля параметров полупроводниковых пластин ФСМ 1201П позволяет в соответствии с заданной оператором программой проводить автоматическое измерение плоскопараллельных полированных пластин кремния диаметром 76, 100, 125, 150 и 200 мм, размещаемых на измерительном столе. Время стандартного измерения в одной точке не более 20 с. Основные контролируемые параметры: концентрация междуузельного кислорода (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах (5×1015–2×1018)±5×1015 см-3 (SEMI MF1188); концентрация углерода замещения (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах: (1016–5×1017)±1016 см-3 (SEMI MF1391); радиальная неоднородность распределения кислорода в кремниевых пластинах (SEMI MF951); толщина эпитаксиальных слоев кремниевых структур типа n-n+ и p-p+ в пределах (0,5–10,0)±0,1 мкм, (10–200)±1% мкм (SEMI MF95); толщина эпитаксиальных слоев кремния в структурах КНС в пределах (0,1–10,0)±1% мкм; концентрация фосфора в слоях ФСС и бора/фосфора в слоях БФСС в пределах (1–10)±0,2 % вес.

Предназначен для пробоподготовки при исследованиях образцов с помощью ИК микроскопа и приставок зеркального отражения. Позволяет придавать форму тонкого слоя (до нескольких микрон) различным объектам: полимерным фрагментам, микрочастицам ЛКП, порошкообразным веществам, волокнам и т.п. Полученные тонкие слои на зеркальных пластинах из легированной стали исследуются методом двойного пропускания – когда излучение, прошедшее сквозь слой вещества, отражается от поверхности пластины и вновь проходит сквозь вещество. Зарегистрированные таким методом спектры полностью идентичны спектрам пропускания, полученным, например, после прессования веществ с KBr. Достоинствами в данном случае являются: - быстрота пробоподготовки - нет необходимости в использовании гидравлических и ручных прессов и пресс-форм, ступок для растирания и т.п. - нет необходимости в использовании высокочистого KBr или вазелинового масла - образец не утрачивается и, при необходимости, может быть исследован другими методами - при использовании ИК микроскопа можно “просканировать” полученный тонкий слой для выбора наиболее информативного участка, а также, если слой неоднородный по составу, получить спектральные характеристики его составляющих.

Основные технические характеристики: Диапазон рабочих температур: -40°…+70°С Погрешность измерения: 1%+1°С Время измерения: 0,02 сек Разрешение: 1°С Показатель визирования: 1:400; Прицеливание: безпараллаксный оптический прицел Диапазон установки излучательной способности: 0,01 … 1,00 Спектральный диапазон: 1 ... 1,6 мкм. Выходной цифровой интерфейс : RS-485 Релейный выход Выходной аналоговый интерфейс : 4…20мА Габаритные размеры 52х235x50 Степень защиты от пыли и влаги : IP65