Поиск

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Технические характеристики: -Диапазон измерения температуры: -50°…+350°С -Диапазон рабочих температур: -40°…+50°С -Погрешность измерения: 0,5°...3°С -Время измерения: < 0,2 сек -Разрешение: 0.1°С -Показатель визирования: 1 : 5 -Коэффициент излучательной способности фиксированный: 0,95 -Спектральный диапазон: 8 - 14 мкм -Световая сигнализация превышения порога -Звуковая сигнализация -Вибрационная сигнализация -Питание: встроенный Li-Ion аккумулятор -Габаритные размеры: 140х57х26 мм -Вес: 155 г

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

Технические характеристики: -Диапазон измерения температуры: -50°…+1000°С -Диапазон рабочих температур: -40°…+50°С -Погрешность измерения: 1%+1°С -Время измерения: 1 сек -Разрешение: 1°С -Показатель визирования: 1 : 100 -Диапазон установки излучательной способности: 0,01 … 1,00 -Спектральный диапазон: 8 - 14 мкм -Питание: 2×AA -Габаритные размеры: 122×145×43 мм -Вес: 280 г

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительныйкабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Уникальное для компактного прибора оптическое р азрешение для измерения температуры объектов 2- 5 см на 5-10 метрах. Технические характеристики: -Диапазон измерения температуры: -10°…+1200°С -Диапазон рабочих температур: -40°…+50°С -Погрешность измерения: 1%+1°С -Время измерения: 1 сек -Разрешение: 1°С -Показатель визирования: 1 : 100 -Диапазон установки излучательной способности: 0,01 … 1,00 -Спектральный диапазон: 8 - 14 мкм -Питание: 2×AA -Габаритные размеры: 122×145×43 мм -Вес: 280 г

Технические характеристики: -Диапазон измерения температуры: +400°…+1300°С -Диапазон рабочих температур: -40°…+50°С -Погрешность измерения: 1%+1°С -Время измерения: 0,1 сек -Разрешение: 1°С -Показатель визирования: 1 : 200 -Диапазон установки излучательной способности: 0,01 … 1,00 -Спектральный диапазон: 1,0 - 1,6 мкм -Питание: 2×AA -Габаритные размеры: 122×145×43 мм -Вес: 280 г

Излучатель в виде модели абсолютно черного тела АЧТ 70/-40/80 (в дальнейшем – АЧТ, излучатель) предназначен для настройки, поверки и калибровки средств бесконтактного измерения температуры (пирометров полного и частичного излучения, сканирующих пирометров и тепловизионных систем) в диапазоне температур от минус 40 до плюс 80 °С в лабораторных и цеховых условиях. ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ АЧТ 70/-40/80 Диапазон воспроизводимых температур, °С минус 40* … 80 Используемый блок управления БУ-10 Коэффициент излучения полости, не менее 0,997 Диаметр излучающей полости, мм Глубина излучающей полости, мм 70 270 Разряд 2-ой Время выхода излучателя с (20±5) ºС на указанные стационарные режимы должно быть, мин, не более: 50 °С; 80 °С; минус 10 °С минус 40 ºС 35 90 Время перехода с одного стационарного режима на другой, мин, не более 25 Дрейф температуры излучателя за 15 минут для стационарного режима поддержания температуры, ºС, не более ±0,1 Нестабильность поддержания температуры излучателя в стационарном режиме в течение 15 минут, ºС, не более 0,1 Доверительная погрешность излучателя при доверительной вероятности 0,95, ºС, не более от минус 40°С до 0°С от 0°С до плюс 80 °С где tуст – установленная температура, ºС ±1,0 ±(1+0,004∙tуст ) Связь с ЭВМ RS-232 Вид климатического исполнения по ГОСТ 15150-69 УХЛ 4.1 с категорией размещения 4.2 Рабочие условия эксплуатации: Температура окружающего воздуха, °С Относительная влажность воздуха, % Давление, кПа 20±5 от 20 до 80 от 84 до 106,7 (от 630 до 800 мм рт. ст.) Питание ~ 220 В; 50 Гц Максимальная потребляемая мощность, кВ∙А 1,0 Средняя наработка на отказ, ч, не менее 3000 Средний срок службы, лет, не менее 5 Габаритные размеры, мм, не более - излучателя теплового ИТ - блока управления БУ-10 455х230х375 455х160х375 Масса излучателя, кг, не более: - излучателя теплового ИТ - блока управления БУ-10 12,0 9,5

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Кювета с герметично соединенными окнами имеет постоянную длину оптического пути и разборный корпус. Кювета предназначена для качественного и количественного анализа летучих жидкостей и жидкостей с низкой вязкостью.

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ