Поиск

129 тов.
Вид:
  • Выбрано: 0
    Применение
    Загрузка...
  • Выбрано: 0
    Название
    Загрузка...
  • Выбрано: 0
    Компания
  • Выбрано: 0
    Производство
  • Выбрано: 1
    Дополнительно
    Загрузка...
Все фильтры
  • 17
    Применение
    Загрузка...
  • 28
    Название
    Загрузка...
  • 16
    Компания
  • 12
    Производство
  • Дополнительно
    Загрузка...
Вид:
129 тов.
Кювета газовая многоходовая КГ48
Кювета газовая многоходовая КГ48
Многоходовая газовая кювета КГ48 предназначена для определения примесей в газах с порогом < 1 ppm. Длина оптического пути 0,8 — 4,8 м, шаг изменения 0,8 м. Сильфонные вентили. Окна Ø 22 мм, материал: KBr с влагозащитным покрытием или CaF2. Объем кюветы 2,4 л.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Окна Ø40 мм для кювет КР20 и КГ01
Окна Ø40 мм для кювет КР20 и КГ01
Окна диаметром 40 мм используются для жидкостной кюветы КР20 и газовой кюветы КГ01.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Кювета кварцевая типа СФ
Кювета кварцевая типа СФ
Кварцевые кюветы предназначены для исследования жидких образцов, имеют фиксированную длину оптического пути. Используются, в частности, для определения массовой концентрации нефтепродуктов в воде и масла в жидком аммиаке по ИК-спектру поглощения (область контроля — 2925 см-1). Кюветы типа СФ изготавливаются из оптического кварцевого стекла марки КВ. Поставляются с крышкой из фторопласта. Длина оптического пути 1, 5, 10, 20, 30, 40 мм.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Окна для кюветы КГ48
Окна для кюветы КГ48
Для газовой кюветы КГ48 используются окна диаметром 22 мм. Можно приобрести окна из KBr и CaF2.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставки для пластин кремния
Приставки для пластин кремния
Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
ИК-фурье-спектрометр «ИнфраЛЮМ ФТ-08»
ИК-фурье-спектрометр «ИнфраЛЮМ ФТ-08»
Есть у 1 прод.
Новая разработка серии «ИнфраЛЮМ» Широкий спектр приставок: «ИнфраЛЮМ ФТ-08» предлагает полный спектр оптических аксессуаров компаний «Pike Technologies» и «Specac», адаптированных для установки в кюветное отделение спектрометра, в том числе: Приставка МНПВО (многократно нарушенного полного внутреннего отражения); Приставка НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения); Приставка диффузного отражения; Многоходовая газовая кювета; ИК-микроскоп и другие. Простота в использовании интуитивно понятное и простое в использовании ПО; максимально удобный для работы дизайн корпуса; максимально большое и удобное для установки приставок кюветное отделение; возможность самостоятельного запуска прибора. Особенности оптико-электронного тракта «ИнфраЛЮМ ФТ-08» запатентованная конструкция интерферометра, нечувствительного к разъюстировкам; герметичное оптическое отделение с автоматической системой контроля влажности и температуры оптической и электронной систем; источник излучения со сроком службы до 5 лет. Технические характеристики: Рабочий спектральный диапазон, см-1 от 400 до 7800 Спектральное разрешение, см-1, не более 0,7 Предел абсолютной погрешности шкалы волновых чисел, см-1 ±0,05 Отношение сигнал/шум (среднеквадратический) для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1 для разрешения 4 см-1 и времени накопления 60 с, не менее 40000 Предел отклонения линии 100 %-ного пропускания от номинального значения для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1, % ±0,2 Уровень положительного и отрицательного псевдорассеянного света, вызванного нелинейностью фотоприемной системы, % ±0,25 Время установления рабочего режима спектрометров, ч, не более 2 Время непрерывной работы спектрометров, ч, не менее 8 Среднее время одного сканирования (частота сканирования 7,14 кГц), с, не более: максимальное спектральное разрешение - 6 спектральное разрешение 16 см-1 – 0,8 Питание спектрометров от сети переменного тока: напряжение питания, В 220 ±22 частота, Гц 50 ±1 Потребляемая мощность, В×А, не более 65 Габаритные размеры, мм, не более 580х550х340 Масса, кг, не более 32 Средняя наработка на отказ, ч, не менее 2500 Средний срок службы спектрометра, лет, не менее 5
Люмэкс
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Фокусирующая приставка МКФ
Фокусирующая приставка МКФ
Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Жидкостная кювета с регулируемой толщиной слоя исследуемой жидкости
Жидкостная кювета с регулируемой толщиной слоя исследуемой жидкости
Жидкостная кювета с регулируемой толщиной слоя исследуемой жидкости выполнена в виде оптико-механической приставки, устанавливаемой в кюветный отсек спектрометра ФТ-801. Содержит фокусирующую оптику, съемные держатели двух окон-подложек диаметром 10 мм и два регулировочных винта, выведенных на верхнюю панель корпуса приставки и предназначенных для выставления требуемого зазора между окнами. Жидкость любой степени вязкости предварительно наносится в виде небольшой капли на нижнее окно и затем, в процессе плавного сближения окон равномерно заполняет зазор между ними. Вращая регулировочные винты и наблюдая в режиме он-лайн за спектром пропускания, пользователь имеет возможность задать нужную толщину слоя жидкости, ориентируясь по общей выраженности всего спектра или по интенсивности конкретных полос поглощения. При наличии калибровки, которую легко создать с помощью программы ZaIR 3.5 по нескольким образцам с известной концентрацией, кювета позволяет проводить количественные измерения. Кювета незаменима при анализе смесей, содержащих примеси в малых пропорциях. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 50 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 16 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Минимальный объем исследуемой жидкости, мм3 1 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Габаритные размеры, мм 200×90×160 Масса, кг 1,1 На рисунке приведены несколько спектров вязкой смазки «Буксол», иллюстрирующие процесс подбора толщины слоя образца между окнами. Процесс измерений обладает высокой экспрессностью и воспроизводимостью, используются недорогие сменные окна-подложки, систему легко настраивать и очищать, для получения качественных спектров требуется очень небольшое количество пробы.
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Инфракрасный (ИК) лазерный модуль KLM-D980-5-5 980нм, 5мВт
Инфракрасный (ИК) лазерный модуль KLM-D980-5-5 980нм, 5мВт
от 4 314 ₽
Серия лазерных модулей KLM-D980 представляет собой надежное компактное устройство, генерирующее когерентное излучение в инфракрасном (ИК) спектральном диапазоне (980 нм) и мощностью излучения 5 мВт. Лазерный модуль изготавливается на основе высококачественных лазерных диодов ведущих мировых производителей, поэтому обладают узким фокусированным пучком излучения, обеспечивая низкую степень рассеивания и лучшие спектральные характеристики. Благодаря низкому потреблению энергии и рабочему току, они могут работать от компактных автономных источников питания длительное время. Поставляются в промышленном исполнении – два вывода питания длиной 100 мм. Являются оптимальным выбором для построения систем контроля и автоматизации, а также для научных и медицинских целей, где требуется когерентное излучение высокой стабильности. Технические характеристики Параметр Значение Выходная оптическая мощность, мВт 5 Длина волны излучения, нм 980 Напряжение питания, В 5 (по умолчанию) / 3 (под заказ) Апертурный диаметр пучка, мм 5 Расходимость, мрад 0.5 Форма пятна эллипс 1:2 Потребляемый ток, мА менее 150 Оптимальная рабочая дистанция, м 10 Настройка фокуса присутствует Габаритные размеры, мм 22x60 Срок наработки на отказ, ч более 8000 Производитель ФТИ-Оптроник
ФТИ-Оптроник
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Универсальная оптическая приставка НПВО и ЗДО с элементом из селенида цинка и встроенной системой визуализации на внешнем мониторе
Универсальная оптическая приставка НПВО и ЗДО с элементом из селенида цинка и встроенной системой визуализации на внешнем мониторе
Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых и жидких образцов, в том числе полимерных частиц, пленок и волокон, порошкообразных веществ, фрагментов лакокрасочных покрытий, горюче-смазочных материалов. Наличие оптической системы визуального контроля исследуемой поверхности с увеличением 75Х обеспечивает высокую эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) используется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45°. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, кристаллов, тонких пленок на поверхности, а также при регистрации спектров поглощения крупных цельных объектов. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 30 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная площадь твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.1/1 Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge Диаметр пятна фокусировки, мм 1 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива /общее увеличение визуального канала 4Х/75Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 Габаритные размеры, мм 150×150×260 Масса, кг 2,15 • Позволяет исследовать объекты малых размеров (от 200 мкм - в зависимости от геометрии, качества поверхности и физико-химических свойств материала) • Приставка позволяет работать без пробоподготовки, имеет фиксируемую регулировку давления на образец с помощью прижима, снабженного цветовыми индикаторами • Благодаря съемному фланцу с элементом НПВО обеспечивается быстрая и удобная смена образцов и очистка поверхности кристалла • При заданном оптимальном усилии контакта метод обеспечивает высокое качество и повторяемость результатов благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения • Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Инфракрасный лазер 980 нм KLM-980-х
Инфракрасный лазер 980 нм KLM-980-х
CDL лазеры серии KLM-980-х являются оптимальными источниками непрерывного излучения для построения систем контроля и автоматики, для научных и медицинских целей.
ФТИ-Оптроник
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка МНПВО с элементом из селенида цинка и встроенной системой визуализации на внешнем мониторе
Приставка МНПВО с элементом из селенида цинка и встроенной системой визуализации на внешнем мониторе
Основное отличие данной приставки от универсальной приставки НПВО и ЗДО состоит в том, что в качестве рабочего элемента МНПВО используется призма, позволяющая получить несколько отражений от области контакта с исследуемым образцом, что приводит к улучшению качества спектра и повышению чувствительности метода (полосы поглощения становятся более выраженными). Регистрация спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) на данной приставке не предусмотрена. Приставка МНПВО эффективна при регистрации спектров поглощения образцов, размеры (количество) которых достаточны для обеспечения контакта со всей площадью рабочей грани призмы: * жидкостей любой степени вязкости (растворов,суспензий, масел и т.д.); * твердых эластичных образцов (полимерных фрагментов достаточно большого размера, резин, пластиков и т. д.); * порошкообразных образцов в количествах, достаточных для нанесения на всю поверхность и образцов в виде тонких пленок; Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Примечание: приставка МНПВО не исключает возможности регистрировать спектры образцов, размеры которых меньше площади рабочей грани призмы (наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности повышает удобство при работе с малоразмерными объектами), но общая эффективность метода при этом существенно ниже, чем при использовании универсальной приставки НПВО и ЗДО. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 25 · Рекомендуемое число сканирований при регистрации спектров 25 · Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 · Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 · Минимальная площадь твердого образца, мм2 1 · Минимальный объем исследуемой жидкости, мл 0. 3 · Допустимый диапазон рН анализируемых объектов от 5 до 9 · Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge · Диаметр пятна фокусировки, мм 3 · Количество отражений 3 · Размер рабочей грани призмы, мм 21 Х 6 · Увеличение микрообъектива 4Х · Общее увеличение визуального канала 75Х · Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 · Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 · Габаритные размеры,мм 145×125×240 · Масса, кг 2
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск