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Générateur universel "Vésuve-3"
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Générateur universel "Vésuve-3"
Générateur de vapeur d'échantillons analytiques d'échantillons métalliques "Aspect"
Pendant le fonctionnement, le générateur de vapeur d'échantillons métalliques» Aspect " fournit:
gestion de tous les instruments du complexe d'analyse spectrale des émissions atomiques - analyseur MAES, générateur "boule de Foudre", inclusion de dispositifs externes;
une décharge unipolaire d'étincelle est excitée entre la contre-électrode de tungstène et la surface des échantillons étudiés-des lingots de métaux précieux ou d'autres échantillons métalliques;
l'intensité de l'érosion de la surface de l'échantillon est régulée en modifiant la fréquence et la puissance des impulsions d'étincelles générées par un générateur d'étincelles semi-conducteur contrôlé par ordinateur;
la stabilité et la qualité de la recherche sont contrôlées par un spectromètre intégré via une fibre optique;
le flux réglable d'argon de haute pureté traverse la zone de décharge des étincelles dans la chambre de décharge scellée, capte les particules de l'échantillon obtenues par l'érosion des étincelles de la surface et les transporte sous forme d'aérosol dans la zone du mélangeur / pulvérisateur du brûleur du plasma à couplage inductif du spectromètre à émission optique;
le débit d'argon de haute pureté est alimenté, contrôlé et ajusté par un régulateur de débit massique contrôlé par microprocesseur dans la plage de 0,5 à 3 l/min stabilité de l'alimentation 0,01 l/min.
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Générateur d'analyse spectrale "Ball Lightning"
Le générateur est conçu pour produire un arc électrique et une décharge par étincelle dans les installations d'analyse spectrale d'émission atomique. Le générateur est conçu spécifiquement pour être utilisé dans l'analyse spectrale d'échantillons de composition complexe pour la détermination simultanée des impuretés et des composants d'alliage dans une large gamme de concentrations.
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Diffractomètre à rayons x de bureau difray-402m
Nauchnyye pribory
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Microscope à sonde à balayage Certus Light V
Microscope à sonde à balayage
Certus Light V est une version compacte du SPM avec une fonctionnalité et un coût minimes. La principale différence par rapport à la version principale de Certus Light est la numérisation de l'échantillon et un système d'alimentation plus précis. L'instrument se compose d'une tête de lecture en porte-à-faux, d'un scanner plat multifonctionnel, d'un système d'alimentation et d'une installation de la tête. L'appareil fonctionne avec une configuration minimale de l'unité de commande électronique intégrée directement dans le corps principal, c'est-à-dire l'appareil est un monobloc. Il est possible de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.
Nano Skan Tekhnologiya
Dolgoprudny
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou
Spectromètre spectroscan MAX-GF1 (2) E
Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la méthode à dispersion d'énergie (EDX).
Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres.À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes,il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca).
Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée.
NPO Spektron
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Grand-ICP - spectromètre à plasma à couplage inductif
Le spectromètre à plasma à double vue permet l'enregistrement simultané de toutes les raies spectrales en même temps avec une haute résolution dans la plage de concentrations allant de fractions de ppb à des dizaines de pour cent et offre une large gamme d'options pour résoudre tous les problèmes de recherche. Conçu pour l'analyse de presque tous les types d'échantillons environnementaux : eau, sol, sédiments.
Démarrage rapide du travail. Ne nécessite pas un long échauffement. Faible consommation d'argon.
Facile à utiliser.
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Certus Optic I-combiné sonde à balayage (SPM) et optique microscopes
Le complexe Certus Optic I est conçu pour fonctionner avec des techniques de microsocopie optique et à force atomique dans l'étude d'objets biologiques et de films polymères.
tête de balayage XYZ SPM Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou le positionnement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon;
dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon;
microscope optique inversé classique pour afficher un objet d'étude et pointer la sonde sur un objet d'étude ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope;
dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume;
caméra vidéo numérique pour visualiser l'image observée sur un ordinateur et capturer des images;
un seul contrôleur EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe;
logiciel NSpec.
Nano Skan Tekhnologiya
Dolgoprudny
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou
Spectromètre MSA avec trépied à air
1 vendeurs l`ont
Laboratoire spectral
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Spectromètre MAX-GF1 (2)E-S
Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E-C combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la dispersion d'énergie (EDX), ainsi que l'échantillonnage adapté à l'analyse d'images de grande taille. La collimation du rayonnement primaire du tube à rayons x et la conception spéciale de l'alimentation en échantillons permettent d'analyser l'échantillon sur une surface de 1 cm2 par incréments de 1 mm et d'étudier ainsi la distribution des éléments sur la surface.
Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes, il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca).
Avec l'aide de cette modification du spectromètre, des examens médico-légaux et douaniers, des examens médico-légaux et médico-légaux, ainsi que des examens artistiques sont effectués.
NPO Spektron
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Spectromètre à vide Favorit
Les spectromètres sous vide sont conçus pour l'analyse express des alliages à base de fer, de cuivre, d'aluminium et d'autres métaux dans les usines et les laboratoires de recherche, y compris la détermination des éléments qui ont des lignes analytiques dans la région ultraviolette sous vide (VUV) (par exemple, S, P et C dans les aciers).
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Certus Optic duos-combiné sonde à balayage (SPM), direct et inversé microscopes optiques
Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique.
tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon;
dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon;
microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope;
Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope;
mouvement Z mécanique pour objectif;
mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ;
dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume;
contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe;
logiciel NSpec.
Nano Skan Tekhnologiya
Dolgoprudny
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou
Spectromètre d'émission optique pour l'analyse des métaux ferreux et non ferreux DFS-100H
Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire.
Caractéristiques techniques:
Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min).
Gamme spectrale 178-410 nm.
Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments.
Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines %
Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30%
Temps d'analyse 10...40 s
Poids 24 kg
Dimensions 625x420x260 mm
Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre.
Puissance ne dépassant pas 1 kVA
Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%
OKB Spectre
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Spectromètre universel "Express"
Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Complexe d'analyse des émissions atomiques des métaux et alliages "Grand Expert"
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Microscope Centaur U
Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique).
Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).
Nano Skan Tekhnologiya
Dolgoprudny
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou
Générateur de vapeur d'échantillons analytiques d'échantillons métalliques "Aspect"
Pendant le fonctionnement, le générateur de vapeur d'échantillons métalliques» Aspect " fournit:
gestion de tous les instruments du complexe d'analyse spectrale des émissions atomiques - analyseur MAES, générateur "boule de Foudre", inclusion de dispositifs externes;
une décharge unipolaire d'étincelle est excitée entre la contre-électrode de tungstène et la surface des échantillons étudiés-des lingots de métaux précieux ou d'autres échantillons métalliques;
l'intensité de l'érosion de la surface de l'échantillon est régulée en modifiant la fréquence et la puissance des impulsions d'étincelles générées par un générateur d'étincelles semi-conducteur contrôlé par ordinateur;
la stabilité et la qualité de la recherche sont contrôlées par un spectromètre intégré via une fibre optique;
le flux réglable d'argon de haute pureté traverse la zone de décharge des étincelles dans la chambre de décharge scellée, capte les particules de l'échantillon obtenues par l'érosion des étincelles de la surface et les transporte sous forme d'aérosol dans la zone du mélangeur / pulvérisateur du brûleur du plasma à couplage inductif du spectromètre à émission optique;
le débit d'argon de haute pureté est alimenté, contrôlé et ajusté par un régulateur de débit massique contrôlé par microprocesseur dans la plage de 0,5 à 3 l/min stabilité de l'alimentation 0,01 l/min.
VMK-Optoélectronique
Novossibirsk
Produit en: Novossibirsk
Spectromètre de spectroscan MAX-GVM
Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Na à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres.
Le principe de fonctionnement du spectromètre à rayons x est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation
Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre à fluorescence x a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.
NPO Spektron
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Panda Compact x-fluorescence spectromètre
Nauchnyye pribory
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Certus optique U-combiné sonde à balayage (SPM) et optique directe microscopes
Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche.
Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique.
tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon;
dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon;
microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope;
mouvement Z mécanique pour objectif;
mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ;
dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume;
contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe;
logiciel NSpec.
Nano Skan Tekhnologiya
Dolgoprudny
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou