Dispositif de préparation d'électrodes en graphite Crater-2

Le principal avantage d'un spectromètre mobile est la possibilité de mesurer la composition des alliages non seulement en laboratoire sur des échantillons spécialement préparés, mais également directement dans un atelier ou un entrepôt sans couper le produit ou la pièce.

Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire. Caractéristiques techniques: Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min). Gamme spectrale 178-410 nm. Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments. Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30% Temps d'analyse 10...40 s Poids 24 kg Dimensions 625x420x260 mm Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre. Puissance ne dépassant pas 1 kVA Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Na à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre à rayons x est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre à fluorescence x a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.

Les spectromètres sous vide sont conçus pour l'analyse express des alliages à base de fer, de cuivre, d'aluminium et d'autres métaux dans les usines et les laboratoires de recherche, y compris la détermination des éléments qui ont des lignes analytiques dans la région ultraviolette sous vide (VUV) (par exemple, S, P et C dans les aciers).

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications

Le spectromètre à plasma à double vue permet l'enregistrement simultané de toutes les raies spectrales en même temps avec une haute résolution dans la plage de concentrations allant de fractions de ppb à des dizaines de pour cent et offre une large gamme d'options pour résoudre tous les problèmes de recherche. Conçu pour l'analyse de presque tous les types d'échantillons environnementaux : eau, sol, sédiments. Démarrage rapide du travail. Ne nécessite pas un long échauffement. Faible consommation d'argon. Facile à utiliser.