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Certus Optic duos-combiné sonde à balayage (SPM), direct et inversé microscopes optiques

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Certus Optic duos-combiné sonde à balayage (SPM), direct et inversé microscopes optiques
Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique.

tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon;
dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon;
microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope;
Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope;
mouvement Z mécanique pour objectif;
mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ;
dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume;
contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe;
logiciel NSpec.
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