Diffractomètre à rayons x de bureau difray-405

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Microscope à sonde à balayage (SPM) équipé de porte-sondes spécialisés et du matériel optique nécessaire pour effectuer des études en champ proche. La microscopie optique en champ proche est basée sur l'utilisation des propriétés du champ proche (evanescent), ce qui permet de surmonter la limite de diffraction de la microscopie optique classique. Tous les microscopes à champ proche comprennent plusieurs éléments de conception de base: sonde; système de déplacement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon selon les 2ème (x-Y) ou 3ème (x-y-Z) coordonnées (système de balayage); système d'enregistrement; système optique.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.). microsocopies). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Le diffractomètre à rayons x DRON-8T est le modèle phare de la gamme de diffractomètres à rayons x stationnaires de JSC petrevestnik. Il est équipé d'un goniomètre vertical grand angle de haute précision avec une reproductibilité angulaire de 0,0001° et est principalement destiné à l'étude d'objets cristallins hautement perfectionnés (monocristaux, films épitaxiaux) en géométrie haute résolution.

Le complexe d'émission atomique Grand Potok est conçu pour la détermination expresse de la composition d'échantillons de poudres d'origine naturelle et industrielle ; il comprend un spectromètre Grand, une installation Potok et des équipements auxiliaires pour la préparation des échantillons.

Le diffractomètre à rayons X multifonctionnel DRON-8 (8N) avec un goniomètre thêta-thêta vertical et une position d'échantillon horizontale permet l'analyse par diffraction des rayons X de la composition de phase, de l'état structurel et de l'orientation d'une large gamme d'objets de formes diverses et tailles.

Spectromètre Raman confocal à balayage avec option SPM Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé à la fois dans les laboratoires industriels et dans les universités de recherche.

Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Na à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre à rayons x est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre à fluorescence x a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.

Le complexe d'émission atomique "Grand-Globula" comprend un spectromètre "Grand", un générateur spectroanalytique "Lightningball" et un trépied "Globula". Vous permet d'analyser diverses substances et matériaux dans les décharges d'arc et d'étincelles dans l'air, par exemple selon GOST 17818.15-90 "Graphite. Méthode d'analyse spectrale", GOST 9717.1-82 "Cuivre. Méthode d'analyse spectrale utilisant des échantillons métalliques standards avec photoélectrique enregistrement du spectre" et autres MVI.