Diffractomètre à rayons x de bureau difray-402m

Caractéristiques techniques: Système optique et distance phonique schéma optique de pashen-Runge avec le cercle de Rowland 500mm Polychromateur soufflé à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l / min) 175-425 nm avec canal supplémentaire Gamme spectrale: sodium 589 nm (sur demande spéciale, l'extension de la gamme peut être comprise entre 175 et 850 nm) lotive soufflé par l'argon. Non-construction, il Existe des adaptateurs spéciaux pour l'analyse des barres et des fils Capteur (trépied à distance)sur demande poids du capteur à distance 1,2 ng, longueur de câble 2,5 m Trépied aérien en option sur commande spéciale Source d'excitation générateur SPARK-500 Conditions de fonctionnement température 15...30°C, humidité relative < 80% Exigences d'alimentation puissance 1 NVA, tension 220-22V 50HZ, monophasé avec mise à la terre Exigences de pureté de 99,998% d'argon. Le spectromètre dispose d'un filtre supplémentaire- Noah nettoie l'argon. Le cas échéant, le numéro de Livraison peut être allumé stand de nettoyage argon SOAR-1 Dimensions, mm (longueur, largeur, hauteur) 810x525 x 975 - version au sol, 810x525 x 430 - version de bureau Poids, kg. 80-version de plancher, 50-version de table. La plage de concentration mesurée est de 0,0001% ... dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 0,5%...5% Temps d'analyse 10...40 sept.

Le spectromètre à plasma à double vue permet l'enregistrement simultané de toutes les raies spectrales en même temps avec une haute résolution dans la plage de concentrations allant de fractions de ppb à des dizaines de pour cent et offre une large gamme d'options pour résoudre tous les problèmes de recherche. Conçu pour l'analyse de presque tous les types d'échantillons environnementaux : eau, sol, sédiments. Démarrage rapide du travail. Ne nécessite pas un long échauffement. Faible consommation d'argon. Facile à utiliser.

Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Le complexe d'émission atomique "Grand-Globula" comprend un spectromètre "Grand", un générateur spectroanalytique "Lightningball" et un trépied "Globula". Vous permet d'analyser diverses substances et matériaux dans les décharges d'arc et d'étincelles dans l'air, par exemple selon GOST 17818.15-90 "Graphite. Méthode d'analyse spectrale", GOST 9717.1-82 "Cuivre. Méthode d'analyse spectrale utilisant des échantillons métalliques standards avec photoélectrique enregistrement du spectre" et autres MVI.

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Le complexe d'émission atomique Grand Potok est conçu pour la détermination expresse de la composition d'échantillons de poudres d'origine naturelle et industrielle ; il comprend un spectromètre Grand, une installation Potok et des équipements auxiliaires pour la préparation des échantillons.

Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.

Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire. Caractéristiques techniques: Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min). Gamme spectrale 178-410 nm. Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments. Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30% Temps d'analyse 10...40 s Poids 24 kg Dimensions 625x420x260 mm Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre. Puissance ne dépassant pas 1 kVA Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée. Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.

Microscope à sonde à balayage Certus Light V est une version compacte du SPM avec une fonctionnalité et un coût minimes. La principale différence par rapport à la version principale de Certus Light est la numérisation de l'échantillon et un système d'alimentation plus précis. L'instrument se compose d'une tête de lecture en porte-à-faux, d'un scanner plat multifonctionnel, d'un système d'alimentation et d'une installation de la tête. L'appareil fonctionne avec une configuration minimale de l'unité de commande électronique intégrée directement dans le corps principal, c'est-à-dire l'appareil est un monobloc. Il est possible de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.

Le diffractomètre à rayons x DRON-8T est le modèle phare de la gamme de diffractomètres à rayons x stationnaires de JSC petrevestnik. Il est équipé d'un goniomètre vertical grand angle de haute précision avec une reproductibilité angulaire de 0,0001° et est principalement destiné à l'étude d'objets cristallins hautement perfectionnés (monocristaux, films épitaxiaux) en géométrie haute résolution.

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Na à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre à rayons x est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre à fluorescence x a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.