جستجو کردن

روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

یک دستگاه سطح بالاتر با حساسیت شدید و مجموعه ای از توابع اضافی که امکان انجام مطالعات طیف را گسترش می دهد: * مکانیزم رولتور با 4 لنز قابل تعویض-mirror IR 15X ، NPVO ، لنز 4X ، لنز 10X; * ثبت طیف ها در حالت های انعکاس ، انتقال و NIP specular و diffuse; * افزایش حساسیت ، که امکان ثبت طیف های میکرو اشیاء با اندازه های 5 میکرون را فراهم می کند; * پنل کنترل داخلی با عملکردهای پیشرفته; * سیستم نقشه برداری خودکار; * دیافراگم شکاف مستطیل شکل از شیشه مخصوص ساخته شده است-پس از انتخاب یک قطعه ، بقیه میدان دید نیز در دسترس کاربر است ، که فوتومتری سطوح گسترده با ناهمگونی های محلی را بسیار ساده می کند; * نرم افزار تخصصی کنترل میکروسکوپ و پردازش نتایج. نیتروژن مایع برای کار با میکروسکوپ IR مورد نیاز است.

این برای کنترل فرآیندهای راکتورها ، اتاق های خلاء ، خطوط لوله گاز و غیره طراحی شده است.

میکروسکوپ گسترده ir سری MIKRAN که به طیف سنج های فوریه Ft-801 و Infralum ft-801 متصل است ، برای مطالعه نمونه هایی از 10 میکرون در اندازه ، از جمله آنهایی که دارای ترکیب ناهمگن هستند ، طراحی شده است. هنگام کار بر روی میکروسکوپ IR ، اپراتور این فرصت را دارد که جسم مورد مطالعه را با افزایش بیش از 200x مشاهده کند هم با استفاده از دوربین دوچشمی و هم روی مانیتور با استفاده از دوربین ویدئویی دیجیتال ، در طول فوتومتری ، با کمک دیافراگم ها ، یک منطقه محلی با شکل دلخواه را انتخاب کنید و همچنین سطح نمونه را "اسکن" کنید و طیف به دست آمده در زمان واقعی را مشاهده کنید.

میکروسکوپ MICRAN IR برای کار با طیف سنج های فروسرخ Ft-801 فوریه طراحی شده است. محدوده طیف 6000-600 سانتی متر-1 (با میکروسکوپ و آشکارساز MST خنک شده با نیتروژن مایع) است. رزولوشن 0.5 ، 1 ، 2 ، 4 ، 8 سانتی متر-1 (با رزولوشن طیف سنج فوریه تعیین می شود)