طیف سنج E-C MAX-GF1(2)

جعبه های دستکش VBOX SS مجموعه ای از جعبه های دستکش استاندارد و با کیفیت بالا و مهر و موم شده از فولاد ضد زنگ هستند که برای استفاده در تحقیق و تولید طراحی شده اند. جعبه های VBOX SS در روسیه توسط Vilitek طراحی و تولید می شوند. طراحی جعبه های VBOX SS تعدادی از ویژگی ها و جزئیات فنی را در نظر می گیرد که آنها را از محصولات دیگر تولید کنندگان متمایز می کند. مجموعه جعبه دستکش VILITEK سری VBOX SS توسط 10 مدل استاندارد نشان داده شده است. تمام جعبه های دستکش VBOX SS V امکان جاروبرقی قفل انتقال و محفظه اصلی را دارند. با توجه به این ، تمیز کردن محیط گاز در جعبه بدون استفاده از تجهیزات تصفیه گاز گران قیمت امکان پذیر است ، اما با پر کردن جعبه با گاز با خلوص بالا از سیلندرها. شرکت Vilitek طیف گسترده ای از جعبه های دستکش مهر و موم شده و عایق های دستکش را تولید می کند ، شما می توانید عکس های تجهیزات تولید شده توسط شرکت ما را در بخش گالری جعبه های دستکش Vilitek مشاهده کنید کیفیت جعبه های دستکش تولید شده توسط Vilitek توسط گواهی انطباق با GOST R تایید شده است.

این دستگاه یک دسته ای تک اتاقی بر اساس دوربین Ø1600 میلی متر. با سیستم رسوب حرارتی مقاوم (20 تبخیر کننده مقاوم ، جریان نامی واحد 800-1000 A) و سیستم رسوب شیمیایی پلاسمایی یک لایه ارگانوسیلیکون (13.56 مگاهرتز ، 1000 وات). محصولات بر روی دستگاه های ویژه بر روی درام ثابت شده اند ، با یک سیستم چرخش سیاره ای. این نصب مجهز به 2 درام با واگن های کشویی است. به ترتیب ، پلاسمای تخلیه درخشش پردازش می شود ، یک لایه آلومینیومی بازتابنده اعمال می شود و یک لایه محافظ ارگانوسیلیکون در پلاسمای تخلیه RF اعمال می شود. واگن نورد برای درام مجهز به درایو الکتریکی است. کیت نصب شامل دو مجموعه درام با یک واگن چرخشی است. قسمت با خلاء بالا از چهار واحد روغن بخار پخش avdm-400 تشکیل شده است. دو پمپ AVZ-125 و یک پمپ dvn 500 برای پمپاژ قبل از خلاء استفاده می شود. این نصب می تواند در حالت های دستی و اتوماتیک کار کند. سیستم کنترل بر اساس یک کنترل کننده و یک کامپیوتر با پارامترهای خروجی به مانیتور است.

محفظه خلاء از فولاد ضد زنگ با یک درب برای بارگیری محصولات و نگهداری با قرار دادن متقارن منابع تکنولوژیکی ساخته شده است. منابع تکنولوژیکی در جیب های تخصصی روی بدنه دوربین قرار می گیرند. دو منبع قوس مسطح و دو مگنترون مسطح برای پوشش استفاده می شود ، همه با طول 1800 میلی متر. منبع تغذیه برای منابع تکنولوژیکی و جبران نوع اینورتر تولید شده توسط Esto-El. یک سیستم چرخش سیاره ای با مکانیسم عایق الکتریکی از محفظه برای قرار دادن محصولات استفاده می شود. یک سیستم از سرنخ های جریان قدرت برای تامین جابجایی به سیارات استفاده می شود. بدنه دوربین ، پوشش دوربین ، فلنج های نصب منابع تکنولوژیکی و ورودی چرخش با آب خنک می شوند. یک سیستم خلاء بر اساس پمپ انتشار ND500 ، دو پمپ NVR-90 و پمپ NVD-600. این نصب شامل یک دستگاه یخچال آب vmt25 است. این نصب می تواند در حالت های دستی و اتوماتیک کار کند. سیستم کنترل بر اساس یک کنترل کننده و یک کامپیوتر با پارامترهای خروجی به مانیتور است.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این طیف سنج برای انجام تجزیه و تحلیل طیف کمی و کیفی مواد و مواد مختلف (پودر ، فلزات ، محلول ها) در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده است. طیف سنج به دلیل ترتیب عمودی سیستم نوری Paschen-Runge جمع و جور است. این شامل دو تجزیه کننده MAES با 10 خط فوتودیود نصب شده در امتداد یک دایره با شعاع 520 میلی متر ، یک شبکه دیفرانکشن مقعر غیر کلاسیک ، یک میز ویژه با یک کامپیوتر یکپارچه و یک منبع تحریک طیف است.

یک پوشش ترکیبی در دستگاه اعمال می شود که شامل یک لایه فلزی ، یک لایه از این ترکیب فلزی (اکسید ، نیترید ، کاربید) و یک لایه ارگانوسیلیکون است. برای رسوب لایه های فلزات و ترکیبات آنها ، از سمپاش قوس مسطح با طول 2700 میلی متر استفاده می شود که در جیب در امتداد محفظه تشکیل فوقانی قرار می گیرد. لایه سیلیکون SiOx در تخلیه RF 20-40 kHz ، 400-1000v اعمال می شود که بین درام با محصولات و آنتن واقع در مرکز اتاق روشن می شود. پانل های پوشیده شده در دو لایه بر روی سیارات اطراف محیط درام قرار می گیرند. پس از اتمام چرخش کامل درام ، هر سیاره بیش از 180 درجه می چرخد. - پانل های قرار داده شده در این سیاره مبادله می شوند ، در نتیجه اطمینان حاصل می شود که تمام پانل ها پوشش داده شده اند. سیستم خلاء شامل 4 پمپ nvdm 400 و یک واحد قبل از خلاء بر اساس پمپ های EN1200 و E1M275 ، ادواردز است. این نصب می تواند در حالت های دستی و اتوماتیک کار کند. سیستم کنترل بر اساس یک کنترل کننده و یک کامپیوتر با پارامترهای خروجی به مانیتور است.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این دستگاه می تواند مواد جامد ، مایع و پودرها را تجزیه و تحلیل کند. تجزیه و تحلیل آلیاژ قابل حمل ScanMet 9000 به طور گسترده ای برای تعیین درجه آلیاژ ، کنترل کیفیت ، پردازش قراضه ، فلزات گرانبها ، سبک شناسی و غیره استفاده می شود.

طیف سنج های خلاء برای تجزیه و تحلیل سریع آلیاژها بر اساس آهن ، مس ، آلومینیوم و سایر فلزات در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده اند ، از جمله تعیین عناصر دارای خطوط تحلیلی در زمینه ماوراء بنفش خلاء (VUV) (به عنوان مثال ، S ، P و C در فولاد).

یک طیف سنج انتشار نوری دسکتاپ منحصر به فرد با منبع تحریک طیف ترکیبی که ترکیبی از جرقه لیزر و تخلیه جرقه الکتریکی در هوا است — LIES برای تجزیه و تحلیل طیف سریع نمونه های حامل جریان ، تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری مونولیت های جامد (شیشه ، سرامیک ، پلاستیک ، فلزات ، آلیاژها ، گرانیت ها و غیره) طراحی شده است.) ، پودر های مختلف فشرده (از جمله خاک ، سنگ ، نمونه های زمین شناسی و غیره)). طیف سنج می تواند برای تجزیه و تحلیل میکرو نمونه های ناهمگن (هم در سطح و هم در عمق) ، برای تجزیه و تحلیل نمونه های میکرو ، نمونه های شکل پیچیده استفاده شود. دروغ را می توان در متالورژی آهنی ، غیر آهنی ، پودر استفاده کرد ؛ علم فلز ؛ صنعت معدن ، معدن و پردازش ؛ زمین شناسی و اکتشاف زمین شناسی ؛ تولید مواد ساختمانی ؛ تولید مواد با خلوص بالا ؛ در محیط زیست و حفاظت از محیط زیست ؛ در کشاورزی و صنایع غذایی ؛ در آزمایشگاه های پزشکی قانونی ، پزشکی و داروسازی و غیره. LIES یک طیف سنج انتشار جرقه لیزر ترکیبی دسکتاپ برای تجزیه و تحلیل طیفی مونولیت های جامد است منحصر به فرد بودن طیف سنج ترکیبی انتشار جرقه لیزر در این واقعیت نهفته است که بر خلاف طیف سنج لیزر کلاسیک ، که در آن جرقه لیزر دو عملکرد را به طور همزمان انجام می دهد: ابلیشن (استخراج ماده تجزیه شده از نمونه) و تحریک طیف اتم ها و یون های استخراج شده ، طیف سنج دروغ از یک تخلیه استفاده نمی کند ، بلکه از دو-جرقه لیزر و جرقه الکتریکی که عملکردهای فوق را به اشتراک می گذارد: جرقه لیزر ابلیشن و جرقه الکتریکی را انجام می دهد به عنوان منبع تحریک طیف اتم ها و یون های ماده تجزیه و تحلیل شده عمل می کند. این رویکرد به طور قابل توجهی (3-10 بار!) ویژگی های اندازه گیری طیف سنج (حساسیت و قابلیت بازتولید) را بهبود می بخشد.

MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.