تقسیم کننده نمونه DPTS-100A

فیلتر آزمایشگاهی برای فیلتراسیون سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی در حالت دوره ای طراحی شده است. ویژگی های فنی 57 فوت حداکثر فشار هوای فشرده مورد استفاده ، kg / cm2 6 تعداد لیوان فیلتر قابل تعویض 1 حجم عینک ، l 4 ابعاد کلی ، میلی متر طول 695 عرض 395 ارتفاع 765 وزن ، کیلوگرم 42

طیف سنج MS - 1104e با عملکرد بالا و دقت اندازه گیری های مسباور که از طریق استفاده از هندسه "فشرده" به دست آمده است ، و همچنین استفاده از واحدهای تشخیص درخشش رزونانس بسیار کارآمد و انتخابی ، که وضوح انرژی خطوط جذب رزونانس را تا 30 ٪ بهبود می بخشد ، مشخص می شود. تکنیک تثبیت نرم افزار و سخت افزار مسیر طیف سنجی توسعه یافته و مورد استفاده در طیف سنج اجازه می دهد تا اندازه گیری های طولانی مدت مسباور بدون تنظیم دستی انجام شود. روش مدولاسیون در محدوده های سرعت مشخص شده اجازه می دهد تا حساسیت و بیان اندازه گیری ها را به طور قابل توجهی افزایش دهد و زمان تعیین شدت اثرات جذب رزونانس را ده برابر در مطالعه انتقال فاز دما با غلظت کم عناصر رزونانس کاهش دهد. اجزای الکترونیکی طیف سنج بر اساس یک پایه عنصر مدرن با استفاده از آرایه های منطقی برنامه ریزی شده و میکروپروسسورها توسعه یافته است. مسیرهای طیف سنجی قابل تنظیم و منبع تغذیه ولتاژ بالا PMU در واحدهای تشخیص یکپارچه شده اند ، ماژول های درایور مدولاتور و ذخیره سازی چند کانال در استاندارد ISA ساخته شده اند و در واحد پردازنده رایانه قرار دارند. تنظیم و نظارت بر تمام پارامترهای طیف سنج و پردازش طیف های اندازه گیری شده از پنجره های عملیاتی برنامه های کنترل و پردازش انجام می شود. از سال 2000 ، بیش از ده طیف سنج از این نوع به سازمان های علمی پیشرو در روسیه و کشورهای همسایه عرضه شده است. لازم به ذکر است که یکی از معدود کاربردهای صنعتی طیف سنجی مسباور توسعه و عرضه به Npp Volgodonsk از روش های گواهی شده MS-1104em و طیف سنج برای نظارت بر فرآیندهای خوردگی در مدارهای تبادل گرما راکتور VVER-1000 است.

کراکر شیار دار برای تقسیم (کاهش) نمونه های مواد فله به دو قسمت با وزن برابر و معادل در محتوای اجزای تشکیل دهنده طراحی شده است. ویژگی های فنی CJ 5-32 عرض شیارها ، میلی متر 5 تعداد شیارها ، رایانه های شخصی 32 حجم تقسیم ، l 0.6 ابعاد کلی ، میلی متر ، حداکثر: طول / عرض / ارتفاع 225/126/150 وزن ، کیلوگرم 4,8

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

مشخصات فنی: طرح نوری: لنز آینه اصلی باز شدن نسبی: 1/4. 9 فاصله کانونی: 40 میلیمتر پراکندگی خطی معکوس (متوسط): 34.9 nm / mm (شبکه دیفرانکشن 600 str/mm) ، 17.8 nm / mm (شبکه دیفرانکشن 1200 str / mm) وضوح طیفی: < 0.8 نانومتر (گریتینگ دیفرانکشن 600 str / mm) ، < 0.45 نانومتر (گریتینگ دیفرانکشن 1200 str/mm)

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: یک میکروسکوپ مستقیم با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت نور/میدان تاریک در نور منعکس شده و یک دوربین ویدئویی رنگی. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. طیف سنج: یک طیف سنج با کارایی بالا با موقعیت شبکه ثابت. بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده ، دو نوع از شبکه دیفرانکشن برای اطمینان از محدوده مطلوب ثبت شده و وضوح طیف پیشنهاد شده است. آشکارساز: یک آشکارساز خطی بسیار حساس است. محدوده حساسیت طیف از 200 تا 1100 نانومتر است. تعداد پیکسل: 4096 ، اندازه پیکسل: 7x200 میکرون. لیزر: لیزر DPSS با طول موج 532±0.1 نانومتر ، قدرت 50 مگاوات. اختیاری: لیزر دیود با طول موج 785±0.1 نانومتر ، قدرت 130 مگاوات با عایق نوری. حساسیت: تشخیص قله سیلیکونی درجه سوم. وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm ؛ محوری (Z) < 2 μm. دوربین فیلمبرداری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر. اسکن نمونه: اختیاری. جدول دقیق خودکار HU با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر.

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

ویژگی های فنی: طرح نوری: یک جفت مونوکروماتورهای چرنی-ترنر با تفریق پراکندگی محدوده طول موج: 185 نانومتر - 60 میکرون باز شدن نسبی (در ورودی): 1/3. 8 فاصله کانونی: 300mm و 350mm نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 5 x 10-7 وضوح طیف: 0.07 نانومتر

ویژگی ها وضوح فضایی 1 μm اندازه گیری انتقال / بازتاب لیزر 532 نانومتر و 785 نانومتر در یک میکروسکوپ نرم افزار حرفه ای تشخیص خودکار مواد محدوده طیف گسترده اجازه تجزیه و تحلیل همزمان تابش رامان و نوردهی را می دهد که اطلاعات مهم تری در مورد شی مورد مطالعه ارائه می دهد

مشخصات فنی: فاصله کانونی (خروجی): 350 میلیمتر دیافراگم نسبی (ورودی): 1/3. 8 پراکندگی خطی معکوس: 2.37 nm / mm

Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان. از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش. اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند. در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.