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Microscopio Raman М532 del fabricante Spectr-M
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Microscopio Raman М532 del fabricante Spectr-M
El microscopio Raman M532® combina las capacidades del analizador Raman portátil Express "Inspectr" R532® y el microscopio U300M, adaptándolo tanto para mediciones de transmisión como de reflexión.
La amplia funcionalidad del microscopio M532 le permite encontrar y analizar partículas individuales de 2 a 3 µm de tamaño entre muchas similares con propiedades físicas y químicas similares, lo que abre nuevas oportunidades de investigación dentro del mismo sistema Raman.
Una resolución espacial de 1 µm y una resolución espectral de 4-6 cm-1 proporcionan una excelente precisión y reproducibilidad de las mediciones. El diseño compacto y la portabilidad del instrumento permiten un análisis instantáneo y de alta calidad de sustancias sin preparación de muestras, lo que convierte al microscopio M532 en un instrumento indispensable para una amplia gama de estudios.
Equipado con un portaobjetos motorizado (opcional) en incrementos de 0,36 µm, el microscopio M532 escanea la superficie de la muestra, reconoce sustancias en mezclas heterogéneas de múltiples componentes y crea una representación gráfica de las intensidades de las líneas características de dispersión Raman en varios puntos de la superficie. superficie (mapeo 2D), lo que convierte al microscopio M532 en el más ventajoso en términos de relación precio-calidad con un microscopio de barrido Raman en el mercado mundial.
La amplia funcionalidad del microscopio M532 le permite encontrar y analizar partículas individuales de 2 a 3 µm de tamaño entre muchas similares con propiedades físicas y químicas similares, lo que abre nuevas oportunidades de investigación dentro del mismo sistema Raman.
Una resolución espacial de 1 µm y una resolución espectral de 4-6 cm-1 proporcionan una excelente precisión y reproducibilidad de las mediciones. El diseño compacto y la portabilidad del instrumento permiten un análisis instantáneo y de alta calidad de sustancias sin preparación de muestras, lo que convierte al microscopio M532 en un instrumento indispensable para una amplia gama de estudios.
Equipado con un portaobjetos motorizado (opcional) en incrementos de 0,36 µm, el microscopio M532 escanea la superficie de la muestra, reconoce sustancias en mezclas heterogéneas de múltiples componentes y crea una representación gráfica de las intensidades de las líneas características de dispersión Raman en varios puntos de la superficie. superficie (mapeo 2D), lo que convierte al microscopio M532 en el más ventajoso en términos de relación precio-calidad con un microscopio de barrido Raman en el mercado mundial.
Este producto está disponible a través de proveedores:
NEXT II
14 motores paso a paso de alta precisión controlan todas las partes móviles del microscopio y el software inteligente difumina la línea entre las imágenes ópticas y SPM. NEXT proporciona una ampliación continua desde imágenes ópticas panorámicas a escala milimétrica hasta resolución atómica, y operaciones intermedias como el apuntamiento láser al voladizo, el posicionamiento de la muestra, el acercamiento suave y la configuración de técnicas SPM avanzadas se realizan automáticamente.
NT-MDT Spectrum Instruments
Zelenograd
Producido en: Moscú, Zelenograd
Microscopio Centaur I
Diseñado para estudios integrales de las propiedades físicas de superficies utilizando microscopía óptica clásica, microscopía láser confocal, espectroscopia confocal y microscopía de sonda de barrido (microscopía de fuerza atómica).
Permite obtener espectros completos de dispersión y/o fluorescencia Raman (Raman o Raman), láser confocal e imágenes espectrales confocales (mapeo de superficie), imágenes SPM (AFM). El diseño del complejo Centaur I permite el uso de técnicas individuales (por ejemplo, microscopía/espectroscopia confocal) y una combinación de técnicas (incluida la combinación de campos de escaneo, estudios AFM/Raman, etc.)
Permite obtener espectros completos de dispersión y/o fluorescencia Raman (Raman o Raman), láser confocal e imágenes espectrales confocales (mapeo de superficie), imágenes SPM (AFM). El diseño del complejo Centaur I permite el uso de técnicas individuales (por ejemplo, microscopía/espectroscopia confocal) y una combinación de técnicas (incluida la combinación de campos de escaneo, estudios AFM/Raman, etc.)
Nano Skan Tecnología
Dolgoprudny
Producido en: Dolgoprudny, Región de Moscú
Nanolaboratorio basado en AFM NTEGRA PRIMA
Microscopía De Sonda De Barrido
Aire y líquido: AFM (contacto + semi-contacto + sin contacto) / microscopía de Fuerza Lateral / Mapeo de Fase/ modulación de Fuerza / Mapeo de fuerza Adhesiva / Litografía: AFM(Fuerza)
Solo en el aire: STM/ MSM/ ESM/ SEM/ método de sonda Kelvin/ Pantalla de Resistencia de Propagación/AFAM (bajo demanda)/Litografía: AFM (Actual), STM/.
NT-MDT
Zelenograd
Producido en: Moscú, Zelenograd
Difractómetro de polvo de rayos X POWDIX 600
El difractómetro de rayos X en polvo POWDIX 600 dispone de un sistema óptico vertical θ-θ Bragg-Brentano con una posición horizontal fija de la muestra que hace más práctico y cómodo el trabajo con materiales en polvo, geles y otras sustancias viscosas.
La alta resolución del detector y el posicionamiento preciso del goniómetro difractómetro de rayos X POWDIX 600 logran una precisión mejor que +/- 0,02° (2θ) en todo el rango angular.
El difractómetro de rayos X POWDIX 600 es refrigerado por un sistema de refrigeración integrado que comprende un circuito cerrado de agua, que puede ser mantenido por cualquier persona en el laboratorio.
La gran variedad de portamuestras (portamuestras para muestras a granel, portamuestras giratorio, cubetas phoneless) amplía las capacidades del POWDIX 600 y lo convierte en una herramienta inestimable para la investigación en física del estado sólido, ciencia de materiales, química, geología y otros campos de la ciencia.
El difractómetro está inscrito en el Registro de instrumentos de medida de la Federación Rusa.
ADVIN
Minsk
Producido en: Bielorrusia, Minsk