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NTEGRA AURA是基于探针显微镜的纳米实验室
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公司:
NT-MDT
原产地:
莫斯科
用途:
物理
材料科学
化学
此外:
原子力显微镜
SPM
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NTEGRA AURA是在真空中使用扫描探针显微镜技术的高效研究装置,使其能够比同类高真空系统更快地达到运行状态,在这种真空条件下Q值在1分钟内能增长10倍!尺寸紧凑和易于维护是仪器重要的优势。
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"Inspector" MixSplitter® 是一种高性能 CR(拉曼)工具,用于对粉末混合物、悬浮液和浆液进行自动扫描和元素识别,精确度可达 1%。扫描结果可为用户提供有关混合物成分及其百分比的信息。 "Inspectr "MixSplitter 是在奥林巴斯 CX21 显微镜和 "Inspectr "R532 便携式拉曼快速分析仪的基础上开发的。系统配有电动滑块,可对样品进行三轴扫描。专业软件可在逐步扫描样品的过程中同步进行自动光谱测量,还可识别未知物质并输出统计数据分析结果。 复杂的色谱/色谱-质谱法只能在实验室条件下对混合物进行分析,需要大量的时间和资源,而 "Inspector "MixSplitter 只需 30 分钟就能在用户方便的地方完成 1500 步扫描。
Spektr-M
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特点: 空间分辨率为 1 μm 透射/反射测量 集 532 nm 和 785 nm 激光于一体的显微镜 用于自动识别物质的专业软件 扩展光谱范围,可同时分析拉曼和发光,提供有关被测物体的更多重要信息
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NTEGRA NANO IR
NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜(r–扫描进场显光学显微镜)。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中,该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm,仅由探针尖端的大小决定。
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Certus NSOM-近场扫描光学显微镜
扫描探针显微镜(SPM),配备专用的探针支架和必要的光学设备,用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场(蒸发场)的特性,来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。
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旋转器R1
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Rotator R1是一款旋转混合器,不仅可以在室温下混合悬浮液,还可以在冷冻温度(例如-20°C)下混合悬浮液。 为了提高可靠性和易用性,在转子内部安装了滑动离合器。
TetraKvant
Moscow, 创新中心地域 Skolkovo
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普通实验室
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生产于: 莫斯科
扫描探针显微镜(SPM)标配版Certus
扫描探针显微镜标配版Certus,旨在解决广泛的研究和任务分析。 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描,可以获得图像表面,并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 使用探针(传统扫描仪捏的探头Certus)和三维平面扫描仪对样品进行扫描。 探针保证平行扫描到样品的平面,不需要手动移动探头到试样上。 探针向样品的平面平行供给,解决了人工向样品供给探针费力的问题。 保障由三个机动支架进行; 扫描头的开放式设计使得能够以0-90°的角度观察测试样品的表面,安装额外的装置和设备; 标准化配置允许Certus标准扫描探针显微镜安装在传统光学显微镜(直接或倒置)上,与光学设备结合并升级为Certus Optic和Centaur改装。 扫描探针显微镜的基本技术已经实现。 要改变扫描探针显微镜的操作模式(例如,从原子力显微镜模式中的操作切换到扫描隧道显微镜模式),改变探针架就足够了。
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生产于: 多尔戈普鲁德内, 莫斯科地区
VEGA
过使用内置的声学和振动隔离、热稳定、业界最佳灵敏度的光学配准系统以及探头扫描系统的独特设计,确保了最终的显示质量,从而在常规测量中实现原子分辨率。 在基本配置中,有 50 多种原子力显微镜技术可供使用,包括 HybriD 方法,它允许您进行所有尖端的纳米机械、电学和磁学研究。 ScanTronic™ 智能算法一键优化扫描参数,允许使用振幅调制方法进行完美的浮雕测量,而不考虑操作员的经验。 使用简单的用户界面自动检查多个样本,以创建逐点扫描脚本和存储采集图像的数据库。 以 1 微米 的定位精度在表面任意点控制尺寸最大为 200×200 mm、厚度最大为 40 mm 的样品。 广泛的定制选项:安装额外的光学设备、开发专用样品架、结合传输系统、根据客户要求进行测量和数据分析的自动化。
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