NTEGRA Spectra-مجهر القوة الذرية ومجهر رامان

تم تصميم مرشح المختبر لترشيح المعلقات بكثافة تصل إلى 5 جم/سم 3 في ظروف المختبر في الوضع الدوري. الخصائص التقنية لـ 55ФТ أقصى ضغط للهواء المضغوط المستخدم ، كجم / سم 2 6 عدد أكواب الترشيح القابلة للاستبدال 3 حجم النظارات ، لتر 2 ؛ 1 ؛ 0.5 الأبعاد الكلية ، مم الطول 560 عرض 390 ارتفاع 530 الوزن ، كجم 26*

الخصائص التقنية: مخطط بصري: مخطط بصري هيل معدل مع تعويض الاستجماتيزم ، قناتان طيفيتان مستقلتان إجمالي الفتح النسبي (عند المدخل): 1 / 4.2 البعد البؤري: 270 مم ضوء متناثر (20 نانومتر من الليزر): 2.5 س 10-5 التكبير الأفقي: 1.09 نانومتر ميزة: الأمثل للعمل مع أجهزة الكشف القائمة على اتفاقية مكافحة التصحر.

مصممة للحد من الصخور الجيولوجية والخامات في إعدادها للدراسات التحليلية الخصائص التقنية من ДПЦ-100А حجم التغذية الأولية ، مم ، لا يزيد عن 20 الحجم الإجمالي لجميع العينات ، دم 3 100 درجة التخفيض هي 1/2..1/12 قوة القيادة ، كيلوواط 0.18 الأبعاد الكلية ، مم الطول 590 عرض 590 ارتفاع 910 الوزن ، كجم 60

“Enspectrum” MixSpliter هي أداة مزيج تشتت الضوء (رامان) عالية الكفاءة للمسح التلقائي والتعرف على عناصر مخاليط المسحوق والمعلقات والمعلقات بدقة تصل إلى 1٪. نتيجة للمسح الضوئي ، يتلقى المستخدم معلومات حول مكونات الخليط ونسبتها المئوية. تم تطوير “Enspectrum” MixSpliter على أساس مجهر Olympus CX21 والمحلل السريع لجهاز رامان المحمول“Enspectrum”R 532. تم تجهيز النظام بشريحة آلية لمسح العينة بثلاثة إحداثيات. يسمح لك البرنامج الاحترافي بإجراء قياسات طيفية متزامنة تلقائيا مع المسح الضوئي للعينة خطوة بخطوة ، بالإضافة إلى تحديد المواد غير المعروفة وإخراج نتائج تحليل البيانات الإحصائية. في حين أن طرق الكروماتوغرافيا/مطياف الكتلة الكروماتو المتطورة تسمح بتحليل المخاليط فقط في ظروف المختبر وتتطلب وقتا وموارد كبيرة ، فإن “Enspectrum” MixSpliter ينفذ المسح في 1500 خطوة في 30 دقيقة فقط في موقع سهل الاستخدام

على الرغم من الاكتناز وسهولة التشغيل ويدعم جميع المنهجية الأساسية لمجهر القوة الذرية ومجهر المسح والنفق ، وبالتالي فإنه يمكن استخدامها لأي مجهر القوة الذرية الروتينية و مجهر المسح النفقي والتجارب في البحث العلمي. على سبيل المثال ، يتم عرض نتائج بعض التجارب في مختلف التطبيقات العلمية: التحقيق في الهياكل الذرية التحقيق في الهياكل النانوية المعدنية التحقيق في الهياكل المغناطيسية البحث عن كائنات البوليمر البحث عن الأشياء البيولوجية البحث في المواد النانوية الكربونية

تم تصميم مجمع Certus Optic I للعمل مع تقنيات الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية في دراسة الأجسام البيولوجية وأفلام البوليمر. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مقلوب كلاسيكي لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; كاميرا فيديو رقمية لتصور الصورة المرصودة على الكمبيوتر والتقاط الصور; وحدة تحكم СЗМ موحدة EG-3000 للسيطرة على جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

المواصفات الفنية: البعد البؤري: 520 مللي متر الافتتاح النسبي: 1 / 5.4 ميزة مميزة: نسبة الفتحة / الدقة الطيفية.

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر والمقلوب من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) راتيس لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; مجهر بصري مقلوب (Olympus IX 71 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3D الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

المواصفات الفنية: البعد البؤري: 200 مم الافتتاح النسبي: 1 / 3.6 الدقة الطيفية: 0.11 نانومتر (فو) ، 0.12 نانومتر (كاميرا رقمية (12 أوسم بكسل)) التشتت الخطي العكسي: 4.12 نانومتر / مم السمة المميزة لجهاز مطياف مس 200 أحادي اللون هي أفضل فتحة.

مينيديفراكتوميتر-10 هو مقياس حيود الأشعة السينية توفير طريقة غير مدمرة لتحليل حيود الأشعة السينية من المواد الكريستالات. تعتمد الطريقة على ظاهرة حيود الأشعة السينية على شبكة بلورية. من خلال قياس زوايا وشدة قمم الحيود ، فمن الممكن لتحديد المعلمات من شعرية الكريستال ، لتنفيذ تكوين المرحلة النوعية والكمية من مادة ، لتوضيح تعديل (المرحلة) من مركب معين ، على سبيل المثال ، باستخدام قاعدة بيانات JCPDS-ICDD.

التكوين الأساسي لمجهر مسبار المسح Certus ، المصمم لحل مجموعة واسعة من المهام البحثية والتحليلية. مسح الطائرة موازية على طول X, Y,Z محاور يسمح لك للحصول على صورة من السطح وتنفيذ تحرير الصور اللاحقة مع الحد الأدنى من التشويه وفقدان المعلومات; المسح الضوئي مع كل من التحقيق (الماسح الضوئي التقليدي داخل رأس المسح Certus) والماسح الضوئي عينة شيز فائق السرعة. يحل الاتصال المتوازي للمستوى للمسبار بالعينة مشكلة التوصيل اليدوي الشاق للمسبار بالعينة. يتم التوريد بواسطة ثلاثة دعامات آلية; يجعل التصميم المفتوح لرأس المسح من الممكن مراقبة سطح عينة الاختبار بزاوية 0-90° ، وتثبيت أجهزة ومعدات إضافية; يسمح التكوين المعياري بتثبيت مجهر مسبار المسح القياسي في Certus Standard على المجاهر الضوئية التقليدية (المباشرة أو المقلوبة) ، جنبا إلى جنب مع الأجهزة البصرية وترقيتها إلى تعديلات Certus Optic и Centaur.; وقد نفذت التقنيات الأساسية لإدارة السياسات الخاصة. لتغيير وضع تشغيل مجهر مسبار المسح (على سبيل المثال ، التبديل من التشغيل في وضع مجهر القوة الذرية إلى وضع مجهر المسح النفقي) ، يكفي تغيير حامل المسبار.

المواصفات الفنية: البعد البؤري (الإخراج): 750 مم الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1/8 ، 9 طيف الدقة هو 0.015 و 0.0008 (إيشيل) نانومتر في الطول. عرض: 1.02 و 0.055 (إيشيل) نانومتر / مم الفرق: دقة طيفية عالية ، محيط مثالي للخطوط الطيفية.

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على كامل رامان (رامان أو رامان) تشتت و/أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur U يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

وهي مصممة لإجراء دراسات شاملة لخصائص السطح باستخدام الفحص المجهري البصري والتحليل الطيفي والمسح المجهري للمسبار. انها تسمح للحصول على كامل تشتت رامان و / أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، صور СЗМ. تصميم مجمع Centaur I HR يسمح لك للعمل مع كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر القوة الذرية) والجمع بين التقنيات (АСМ-Раман ، ليزر متحد البؤر و АСМ).

المواصفات الفنية: الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 أوشم محوري (ض ) < 2 µ م الحد الأدنى من خطوة المسح من جدول رسم الخرائط 2 د: 100 نانومتر كاميرا المراقبة بالفيديو: ملونة (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر

NTEGRA Prima تنفذ عدة طرق المسح الضوئي: عينة المسح الضوئي ، التحقيق المسح الضوئي والمسح المزدوج. في هذا الصدد ، يعد النظام مثاليا لفحص العينات الصغيرة ذات الدقة العالية جدا ، وكذلك العينات الكبيرة في نطاقات المسح حتى 100 * 100 * 10 ميكرون. يسمح الوضع الفريد *DualScan * بالقياسات في الحقول الكبيرة (200-200 ميكرون في المستوى الأفقي و 22 ميكرون في الاتجاه الرأسي) ، والتي يمكن أن تكون مفيدة في دراسة الخلايا الحية ومكونات الأنظمة الكهروميكانيكية الدقيقة. تقوم مستشعرات التحكم في التغذية المرتدة السعوية المدمجة بثلاثة محاور بتتبع الإزاحة الحقيقية للماسح الضوئي وتعويض العيوب الحتمية للسيراميك ، مثل اللاخطية والزحف والتباطؤ. للتلاعب وأنماط الطباعة الحجرية ، والتنسيق الدقيق من ناتئ في حقول صغيرة تصل إلى 10 1 10 نانومتر مطلوب ، والتي يتم توفيرها من قبل أجهزة الاستشعار المثبتة في АСМ NTEGRA Primaمع نسبة إشارة إلى الضوضاء عالية. NTEGRA Prima لديه المدمج في نظام بصري مع قرار من 1 أوكتم ، والتي من الممكن لمراقبة عملية المسح في الوقت الحقيقي