ديفراكتوميتر متعددة الوظائف الأشعة السينية ДРОН-8Т

على الرغم من الاكتناز وسهولة التشغيل ويدعم جميع المنهجية الأساسية لمجهر القوة الذرية ومجهر المسح والنفق ، وبالتالي فإنه يمكن استخدامها لأي مجهر القوة الذرية الروتينية و مجهر المسح النفقي والتجارب في البحث العلمي. على سبيل المثال ، يتم عرض نتائج بعض التجارب في مختلف التطبيقات العلمية: التحقيق في الهياكل الذرية التحقيق في الهياكل النانوية المعدنية التحقيق في الهياكل المغناطيسية البحث عن كائنات البوليمر البحث عن الأشياء البيولوجية البحث في المواد النانوية الكربونية

تم تصميم مجمع Certus Optic I للعمل مع تقنيات الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية في دراسة الأجسام البيولوجية وأفلام البوليمر. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مقلوب كلاسيكي لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; كاميرا فيديو رقمية لتصور الصورة المرصودة على الكمبيوتر والتقاط الصور; وحدة تحكم СЗМ موحدة EG-3000 للسيطرة على جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

يشتمل مجمع انبعاث ليزر "Гранд-Глобула" على مطياف "Гранд" ومولد تحليل طيفي "Шаровая молния" وحامل ثلاثي "Глобула". فإنه يسمح لتحليل مختلف المواد والمواد في قوس وشرارة التصريف في الهواء ، على سبيل المثال ، وفقا لغوست 17818.15-90 "Графит" طريقة التحليل الطيفي "، غوست 9717.1-82 " "Медь". طريقة التحليل الطيفي على أساس العينات القياسية المعدنية مع تسجيل الطيف الكهروضوئي " وغيرها من أسلوب القياس .

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر والمقلوب من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) راتيس لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; مجهر بصري مقلوب (Olympus IX 71 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3D الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

تركيب دفعة من غرفة واحدة يعتمد على كاميرا بحجم 1600 مم. مع نظام الترسيب الحراري المقاوم (20 مبخرا مقاوما ، التيار المقنن للوحدة 800-1000 أ) ونظام الترسيب الكيميائي للبلازما لطبقة السيليكون العضوي (13.56 ميجاهرتز ، 1000 واط). يتم تثبيت المنتجات على أجهزة خاصة على الأسطوانة ، مع نظام دوران كوكبي. وقد تم تجهيز التثبيت مع 2 الطبول مع عربات انزلاق. بالتتابع ، تتم معالجة بلازما تفريغ التوهج ، ويتم تطبيق طبقة الألومنيوم العاكسة ، ويتم تطبيق طبقة السيليكون العضوي الواقية في بلازما تفريغ الترددات اللاسلكية. وقد تم تجهيز عربة المتداول للأسطوانة مع محرك كهربائي. تشتمل مجموعة التثبيت على مجموعتين من البراميل مع عربة التراجع. يتكون الجزء عالي الفراغ من أربع وحدات زيت بخار نشرAVDM-400. وتستخدم اثنين من المضخات AVZ - 125 ومضخة DVN 500 لضخ ما قبل فراغ. يمكن أن يعمل التثبيت في أوضاع يدوية وتلقائية. يعتمد نظام التحكم على وحدة تحكم وجهاز كمبيوتر مع إخراج المعلمات إلى الشاشة.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E بين طريقتين لعزل الإشارة التحليلية: حيود البلورات (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتت الطاقة (EDX). تم تصميم جهاز المطياف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة وكذلك المطبقة على الأسطح أو المترسبة على المرشحات، وباستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين تتراوح من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة.

يمكن للجهاز تحليل المواد الصلبة والسائلة والمساحيق. يستخدم على نطاق واسع محلل سبيكة المحمولة ScanMet 9000 لتحديد درجة سبيكة ، ومراقبة الجودة ، ومعالجة الخردة ، والمعادن الثمينة ، ستيلوسكوبي ، الخ.

مينيديفراكتوميتر-10 هو مقياس حيود الأشعة السينية توفير طريقة غير مدمرة لتحليل حيود الأشعة السينية من المواد الكريستالات. تعتمد الطريقة على ظاهرة حيود الأشعة السينية على شبكة بلورية. من خلال قياس زوايا وشدة قمم الحيود ، فمن الممكن لتحديد المعلمات من شعرية الكريستال ، لتنفيذ تكوين المرحلة النوعية والكمية من مادة ، لتوضيح تعديل (المرحلة) من مركب معين ، على سبيل المثال ، باستخدام قاعدة بيانات JCPDS-ICDD.

التكوين الأساسي لمجهر مسبار المسح Certus ، المصمم لحل مجموعة واسعة من المهام البحثية والتحليلية. مسح الطائرة موازية على طول X, Y,Z محاور يسمح لك للحصول على صورة من السطح وتنفيذ تحرير الصور اللاحقة مع الحد الأدنى من التشويه وفقدان المعلومات; المسح الضوئي مع كل من التحقيق (الماسح الضوئي التقليدي داخل رأس المسح Certus) والماسح الضوئي عينة شيز فائق السرعة. يحل الاتصال المتوازي للمستوى للمسبار بالعينة مشكلة التوصيل اليدوي الشاق للمسبار بالعينة. يتم التوريد بواسطة ثلاثة دعامات آلية; يجعل التصميم المفتوح لرأس المسح من الممكن مراقبة سطح عينة الاختبار بزاوية 0-90° ، وتثبيت أجهزة ومعدات إضافية; يسمح التكوين المعياري بتثبيت مجهر مسبار المسح القياسي في Certus Standard على المجاهر الضوئية التقليدية (المباشرة أو المقلوبة) ، جنبا إلى جنب مع الأجهزة البصرية وترقيتها إلى تعديلات Certus Optic и Centaur.; وقد نفذت التقنيات الأساسية لإدارة السياسات الخاصة. لتغيير وضع تشغيل مجهر مسبار المسح (على سبيل المثال ، التبديل من التشغيل في وضع مجهر القوة الذرية إلى وضع مجهر المسح النفقي) ، يكفي تغيير حامل المسبار.

المواصفات الفنية حجم غرفة العمل ، 50 لترا درجة الحرارة القصوى ، C 1250 أبعاد غرفة العمل (الطول x العرض x الارتفاع) ، مم x 500 x 400 x 250 القدرة المركبة ، كيلوواط 12.0 معلمات شبكة إمداد الطاقة 380 فولت / 50 هرتز / 3 مراحل تحميل عمودي الوزن ، كجم 260

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على كامل رامان (رامان أو رامان) تشتت و/أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur U يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

تم إنشاء مطياف وفقا لمخطط تشيرني تيرنر على أساس مقضب حيود مسطح ومحلل МАЭС مع خط واحد من أجهزة الكشف الضوئي. لقد زاد من الدقة الضوئية بسبب التبريد وتثبيت درجة الحرارة لنطاق الكاشف الضوئي ، وكذلك بسبب تصميمه الخالي من القشرة ، حيث لا يوجد إعادة انعكاس للإشعاع على زجاج الغطاء ومستوى الخلفية في الطيف المسجل ينخفض. تم تحسين المخطط البصري وتصميم مطياف الطيف للحصول على طيف عالي الجودة مع مستوى إشعاع خلفية منخفض في أي من المناطق الواقعة في النطاق الطيفي من 190-1100 نانومتر. يتم اختيار منطقة العمل عن طريق تغيير وتدوير شبكات الحيود. يتم تعبئة السكن مختومة من مطياف مع غاز خامل. يتم حقن الإشعاع في مطياف باستخدام مكثف الكوارتز أو كابل الألياف البصرية مع موصل SMA-905. يتم حماية المخطط البصري وتصميم مطياف بواسطة براءات الاختراع.

وهي مصممة لإجراء دراسات شاملة لخصائص السطح باستخدام الفحص المجهري البصري والتحليل الطيفي والمسح المجهري للمسبار. انها تسمح للحصول على كامل تشتت رامان و / أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، صور СЗМ. تصميم مجمع Centaur I HR يسمح لك للعمل مع كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر القوة الذرية) والجمع بين التقنيات (АСМ-Раман ، ليزر متحد البؤر و АСМ).

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مقياس الطيف بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.