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Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

● Plage de grossissement: 50-800x ● Objectifs interchangeables 5x/0,12, 10x/0,25, 20x/0,40, 40X/0,60 (sur demande), 50x / 0,70, 80x / 0,80 avec une durée de travail accrue ● Oculaire 10x/18mm ● Illuminateur: illuminateur LED avec source stabilisée et batterie intégrée. Réglage de l'éclairage avec changement d'intensité linéaire. Chargeur inclus. ● Trépied de microscope réglable en hauteur avec course de 35 mm. possibilité d'incliner le trépied à un angle de ±20 degrés vers l'avant et vers l'arrière pour capturer une surface incurvée sans déplacer le microscope de son emplacement de montage ● Déplacement de l'objectif 30x30mm sur les axes X-Y ● Poignées de mise au point grossière et précise ● Fixation magnétique robuste à 3 points avec des supports articulés pour la fixation sur des surfaces convexes et concaves courbes en acier, y compris sur des coudes de tuyaux d'un diamètre de 60 mm ● Embouts antidérapants ● Fixation métallique pour surfaces non magnétiques à cliquet ● Base pour fixer le microscope en fonctionnement stationnaire ● Monture à baïonnette pour appareil photo ● C-mount pour caméscope ● Bouchon de transport pour la sortie vidéo ● Étui de transport pour microscope avec appareil photo.

Microscope à sonde à balayage Certus Light V est une version compacte du SPM avec une fonctionnalité et un coût minimes. La principale différence par rapport à la version principale de Certus Light est la numérisation de l'échantillon et un système d'alimentation plus précis. L'instrument se compose d'une tête de lecture en porte-à-faux, d'un scanner plat multifonctionnel, d'un système d'alimentation et d'une installation de la tête. L'appareil fonctionne avec une configuration minimale de l'unité de commande électronique intégrée directement dans le corps principal, c'est-à-dire l'appareil est un monobloc. Il est possible de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.

Le microscope Raman M532® combine les capacités de l'analyseur Raman express portatif InSpectre R532® et du microscope U300M, en l'adaptant à la fois à la transmission et à la réflexion. La grande fonctionnalité du microscope M532 vous permet de trouver et d'analyser des particules individuelles de 2-3 µm parmi de nombreux similaires, ayant des propriétés physiques et chimiques similaires, ce qui ouvre de nouvelles possibilités de recherche dans le cadre d'un système Raman. Une résolution spatiale de 1 µm et une résolution spectrale de 4 à 6 cm-1 garantissent une précision et une reproductibilité exceptionnelles. La conception compacte et la portabilité de l'instrument permettent une analyse qualitative et instantanée des substances sans préparation d'échantillons, faisant du microscope M532 un instrument indispensable pour un large éventail d'études. Équipé d'un mouvement motorisé (en option) par incréments de 0,36 µm, le microscope M532 scanne la surface d'une échantillon, reconnaît les substances dans des mélanges hétérogènes à plusieurs composants et produit une représentation graphique des intensités des lignes Raman caractéristiques à différents points de la surface (mapping 2D), ce qui fait le microscope M532 le microscope à balayage CR le plus rentable sur le marché mondial

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.). microsocopies). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).