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Température -75/+150 C, volume 600 l

Température -85/+180 C, volume 74 l

Microscope à sonde à balayage (SPM) équipé de porte-sondes spécialisés et du matériel optique nécessaire pour effectuer des études en champ proche. La microscopie optique en champ proche est basée sur l'utilisation des propriétés du champ proche (evanescent), ce qui permet de surmonter la limite de diffraction de la microscopie optique classique. Tous les microscopes à champ proche comprennent plusieurs éléments de conception de base: sonde; système de déplacement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon selon les 2ème (x-Y) ou 3ème (x-y-Z) coordonnées (système de balayage); système d'enregistrement; système optique.

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E-C combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la dispersion d'énergie (EDX), ainsi que l'échantillonnage adapté à l'analyse d'images de grande taille. La collimation du rayonnement primaire du tube à rayons x et la conception spéciale de l'alimentation en échantillons permettent d'analyser l'échantillon sur une surface de 1 cm2 par incréments de 1 mm et d'étudier ainsi la distribution des éléments sur la surface. Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes, il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Avec l'aide de cette modification du spectromètre, des examens médico-légaux et douaniers, des examens médico-légaux et médico-légaux, ainsi que des examens artistiques sont effectués.

Volume, l 200 Plage de température de fonctionnement, °C -75/+180 Gradient de température: ⇓ • dans la plage: - 75 °C à +100 °C, pas plus, °C 4,0 • dans la plage: +100 °C à + 180 °C, pas plus, °C 7,0 Le temps d'atteindre la température -75 °C de la température actuelle, min, pas plus 90 Le temps d'atteindre la température +180 °C de la température actuelle, min, pas plus 40 Écart entre la température moyenne de la chambre et la température de consigne, en °C ±2,0 Amplitude maximale des variations de température, °C, pas plus de 1,0 Déviation maximale de l'affichage de la caméra par rapport à la valeur de consigne ±0,5 Nombre maximal d'étapes par cycle 10 Nombre maximal de cycles d'exécution du programme 255 Diamètre du presse-étoupe, mm 100 Dimensions de la chambre de travail, mm, au moins: largeur × profondeur × hauteur 650x400x800 Dimensions hors tout en mm: largeur x profondeur x hauteur 1150x870x1965 Frigorigènes R404A, R508B Puissance absorbée, kW, pas plus de 8,2 Tension/fréquence du réseau d'alimentation, V / Hz 380±10% / 50 Poids, kg, pas plus: 345 Exécution Plancher Système de gestion Microprocesseur Communication avec l'ordinateur Interface RS485 Durée de vie moyenne, années, au moins 10 Matériau Acier inoxydable

Conçu pour contrôler le fonctionnement des positionneurs piézoélectriques, tels que la table de balayage Ratis et le mouvement à axe unique Vectis., ou un autre dispositif piézo-électrique. Caractéristique générale: Unité centrale de traitement 32 bits; RISC Interface avec PC USB 2.0 Autres interfaces RS 232, RS485, SYNC I / O Sorties haute tension Tension -10..150 V Bruit < 5 ppm Nombre de canaux 3 Bit DAC (convertisseurs numérique-analogique)18 bits

Le transmetteur piézoélectrique à axe unique est conçu pour déplacer et positionner différents dispositifs le long d'un axe. En particulier, pour déplacer les lentilles le long de l'axe optique afin de changer la position de mise au point par rapport à la surface des échantillons ou des objets dans le volume de l'échantillon. En outre, ces progrès sont un élément essentiel des microscopes confocaux 3D. En combinaison avec les mouvements à deux coordonnées travaillant dans le plan XY, de tels systèmes permettent d'obtenir une image confocale tridimensionnelle complète de divers objets.