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Conçu pour effectuer des études complètes des propriétés de surface par microscopie optique, spectroscopie et microscopie à sonde à balayage. Il permet d'obtenir des spectres complets de diffusion Raman et / ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM. La conception du complexe Centaur I HR permet de travailler à la fois avec des méthodes séparées (par exemple, avec la microscopie à force atomique) et de combiner des méthodes (ASM-Raman, laser confocal et ASM).

Conçu pour contrôler le fonctionnement des positionneurs piézoélectriques, tels que la table de balayage Ratis et le mouvement à axe unique Vectis., ou un autre dispositif piézo-électrique. Caractéristique générale: Unité centrale de traitement 32 bits; RISC Interface avec PC USB 2.0 Autres interfaces RS 232, RS485, SYNC I / O Sorties haute tension Tension -10..150 V Bruit < 5 ppm Nombre de canaux 3 Bit DAC (convertisseurs numérique-analogique)18 bits

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

Le scanner est un corps métallique monolithique (en alliage de haute qualité, généralement en aluminium), dans lequel l'électroérosion et d'autres méthodes d'usinage de précision sont formés des canaux pour les actuateurs piézocéramiques, des éléments mobiles de la table, etc. cette conception offre une excellente linéarité et une planéité de déplacement, contrairement aux scanners classiques basés sur des piézotubes, dont la surface de balayage est une sphère. En outre, les scanners planaires parallèles ont une résistance mécanique élevée par rapport aux piézotubes fragiles.

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications

Les analyseurs AME pour l'enregistrement des spectres d'émission atomique avec une résolution temporelle de 1 MS sont basés sur des photodiodes très sensibles et une carte de commutation spéciale pour la lecture simultanée de plusieurs sections de spectres. L'assemblage des règles est installé sur le spectromètre "grand" . Pour exciter les spectres d'émission atomique des échantillons de poudre, on utilise une installation "Flow" ou un plasmatron à arc à double jet. Le logiciel ATOM enregistre les raies spectrales sélectionnées et assure leur traitement selon des algorithmes donnés en tenant compte du nombre et de la luminosité des éclairs (c'est-à-dire de la grosseur des particules). L'enregistrement des spectres d'échantillons en poudre avec une résolution temporelle élevée permet d'évaluer le nombre et la taille des particules individuelles, d'identifier leur composition et de déterminer les concentrations d'éléments dans chaque particule, d'évaluer rapidement l'homogénéité de la distribution de certains éléments à déterminer et d'améliorer les capacités d'analyse spectrale sans modifier sensiblement la préparation des échantillons. Principaux domaines d'application: analyse de masse d'échantillons géologiques en poudre par scintillation pour déterminer l'or, l'argent, les métaux du groupe du platine, l'Iridium, le rhodium, etc. avec des limites de détection allant jusqu'à 0,01 g / t; détermination qualitative de la composition des inclusions et des particules de minéraux.

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Caractéristiques techniques: Système optique et distance phonique schéma optique de pashen-Runge avec le cercle de Rowland 500mm Polychromateur soufflé à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l / min) 175-425 nm avec canal supplémentaire Gamme spectrale: sodium 589 nm (sur demande spéciale, l'extension de la gamme peut être comprise entre 175 et 850 nm) lotive soufflé par l'argon. Non-construction, il Existe des adaptateurs spéciaux pour l'analyse des barres et des fils Capteur (trépied à distance)sur demande poids du capteur à distance 1,2 ng, longueur de câble 2,5 m Trépied aérien en option sur commande spéciale Source d'excitation générateur SPARK-500 Conditions de fonctionnement température 15...30°C, humidité relative < 80% Exigences d'alimentation puissance 1 NVA, tension 220-22V 50HZ, monophasé avec mise à la terre Exigences de pureté de 99,998% d'argon. Le spectromètre dispose d'un filtre supplémentaire- Noah nettoie l'argon. Le cas échéant, le numéro de Livraison peut être allumé stand de nettoyage argon SOAR-1 Dimensions, mm (longueur, largeur, hauteur) 810x525 x 975 - version au sol, 810x525 x 430 - version de bureau Poids, kg. 80-version de plancher, 50-version de table. La plage de concentration mesurée est de 0,0001% ... dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 0,5%...5% Temps d'analyse 10...40 sept.