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Le complexe d'émission atomique Grand Potok est conçu pour la détermination expresse de la composition d'échantillons de poudres d'origine naturelle et industrielle ; il comprend un spectromètre Grand, une installation Potok et des équipements auxiliaires pour la préparation des échantillons.

Le générateur est conçu pour produire un arc électrique et une décharge par étincelle dans les installations d'analyse spectrale d'émission atomique. Le générateur est conçu spécifiquement pour être utilisé dans l'analyse spectrale d'échantillons de composition complexe pour la détermination simultanée des impuretés et des composants d'alliage dans une large gamme de concentrations.

Usage: Mesure de l'hydrogène dans les métaux en fusion Domaine d'application: fours à induction, unités de four à godets, aspirateurs, différents types de louches de fonderie, godets intermédiaires, cristalliseurs Plage de mesure: 0,5 à 14 ppm H2 Exactitude: 0,5 à 3ppm - 0,1 ppm H2 3,0 à 14ppm - 3% H2 Temps de mesure: jusqu'à 60 sec Reproductibilité des résultats: 0.3% Fonction: Mesure du pourcentage de carbone dans l'acier Domaine d'application: Fours, godets, cubilot Plage de mesure: 0.01 à 2.00% de carbone Précision: 0.01 %

Volume de la chambre de travail, litres 50 Température maximale, °C 1250 Dimensions de la chambre de travail (profondeur x largeur x hauteur), mm 525x325x295 Puissance installée, kW 12,0 Paramètres du réseau d'alimentation 380 V / 50 Hz / 3 phases Chargement horizontal Dimensions extérieures (longueur x largeur x hauteur), mm 1100x1090x960 Poids, kg 280

Spécifications: capacité de la chambre de travail, litres 38 Température maximale, °C 1250 Dimensions de la chambre de travail (profondeur x largeur x hauteur), mm 500x300x250 Puissance installée, kW 9,0 Paramètres du réseau d'alimentation 380 V / 50 Hz / 3 phases Chargement horizontal Dimensions extérieures (longueur x largeur x hauteur), mm 1070x1060x910 Poids, kg 250

Microscope à sonde à balayage (SPM) équipé de porte-sondes spécialisés et du matériel optique nécessaire pour effectuer des études en champ proche. La microscopie optique en champ proche est basée sur l'utilisation des propriétés du champ proche (evanescent), ce qui permet de surmonter la limite de diffraction de la microscopie optique classique. Tous les microscopes à champ proche comprennent plusieurs éléments de conception de base: sonde; système de déplacement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon selon les 2ème (x-Y) ou 3ème (x-y-Z) coordonnées (système de balayage); système d'enregistrement; système optique.

Caractéristiques techniques Volume de la chambre de travail, litres 18 Température maximale, °C 1250 Dimensions de la chambre de travail (profondeur x largeur x hauteur), mm 345x230x230 Puissance installée, kW 5,3 Paramètres du réseau d'alimentation 220 V / 50 Hz / 1 phase Téléchargement Horizontale Dimensions extérieures (longueur x largeur x hauteur), mm 840x670x910 Poids, kg 135

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.