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Microscope à sonde à balayage (SPM) équipé de porte-sondes spécialisés et du matériel optique nécessaire pour effectuer des études en champ proche. La microscopie optique en champ proche est basée sur l'utilisation des propriétés du champ proche (evanescent), ce qui permet de surmonter la limite de diffraction de la microscopie optique classique. Tous les microscopes à champ proche comprennent plusieurs éléments de conception de base: sonde; système de déplacement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon selon les 2ème (x-Y) ou 3ème (x-y-Z) coordonnées (système de balayage); système d'enregistrement; système optique.

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

L'unité de commande électronique EG 5000 est la Dernière modification de la série de contrôleurs EG. Conçu pour contrôler les microscopes à sonde à balayage, les dispositifs de positionnement nano, toutes les modifications. Les principales caractéristiques distinctives sont: Utilisation du puissant FPGA Cyclone V, permettant un traitement plus rapide des données et des signaux de commande. Un PC intégré avec un système d'exploitation Linux installé PERMET d'unifier le système et d'éviter les complications lors de l'installation et de la mise à jour du LOGICIEL.