جستجو کردن

کابینت برای سخت شدن و ذخیره سازی مرطوب نمونه های خمیر سیمان در قالب های فلزی سه اسلات طراحی شده است

این مجموعه برای نظارت بر پارامترهای هواشناسی جو ، دما و رطوبت خاک به طور عمیق طراحی شده است. این مجموعه برای استفاده در تولید کشاورزی ، مسکن و خدمات عمومی ، تحقیقات علمی و سایر صنایع که لازم است پارامترهای هواشناسی هوا و خاک را نظارت کند ، استفاده می شود. این مجموعه شامل یک متر پارامتر هوا (IPV) ، یک متر دمای خاک (ITP) در عمق است 0; 5; 10; 20; 30; 40; 50 مشاهده اندازه گیری مشخصات رطوبت خاک (IPVP) در عمق مورد نیاز کاربر هنگام جاسازی سنسورهای رطوبت در خاک انجام می شود. سنسورهای رطوبت dv-01 گواهی شده در مجموعه استفاده می شود. این مجموعه دارای گواهینامه و ثبت اسناد اندازه گیری فدراسیون روسیه (شماره ثبت 84829-22) است که تحت علامت تجاری "AGROPOGODA"ثبت شده و تولید شده است.

محدوده اندازه گیری رطوبت نسبی ، %0...99 خطای اساسی اندازه گیری رطوبت نسبی ، % ، نه بیشتر نسخه 2b ±2.0 نسخه 3B در محدوده 60 تا 99 درصد ±2.0 نسخه 3B در محدوده 0 تا 60 ٪ ±1.0 خطای اضافی در اندازه گیری رطوبت از دمای محیط در محدوده دمای عملیاتی ، % / ° C ، بیش از 0.2

مکعب K30 برای نصب تا پنج سنسور ارتعاش مطلق در طراحی SH24M8 (در گل میخ M8) طراحی شده است. به شما امکان می دهد جهت خروجی کابل اتصال سنسور را به طور بهینه انتخاب کنید. نصب مکعب نصب به شی کنترل با پیچ M8 انجام می شود که به شما امکان می دهد سفتی لازم ساختار را کاملا تضمین کنید.

برای چاپ بیشتر مواد با دمای کار تا 410 درجه سانتیگراد طراحی شده است

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).