جستجو کردن

مشخصات فنی ارزش نام فرمت ماتریس ، عناصر 640x512 مرحله عناصر ماتریس ، 15 میکرون حساسیت طیفی ، میکرون 3.6-4.9 نرخ فریم ، هرتز 50 نوع سیگنال خروجی آنالوگ GOST 7845-92 نوع لینک دوربین سیگنال خروجی دیجیتال ESHRT ، mK 25 وضوح فضایی جفت خطوط / میلی متر ، حداقل 33.3 وزن ، g ، بیش از 2200

این ماژول شامل: یک فوتودتکتور ماتریس ، یک سیستم میکرو کریوجنیک استرلینگ یکپارچه و یک واحد رابط الکترونیکی است. مشخصات فنی ارزش نام فرمت: 384×288 مرحله عناصر ماتریس ، 28 میکرون محدوده حساسیت طیف ، mk 8-11 توانایی تشخیص خاص در حداکثر ویژگی طیفی ، W-1 * هرتز 1/2 * سانتی متر ، حداقل 4·1010 حساسیت ولت در حداکثر مشخصه طیفی ، V / W ، حداقل 107 نرخ فریم ، هرتز 50 زمان انباشت ، mks 0-64 تعداد خروجی ها 2 حداکثر فرکانس ساعت ، MHz 4 محدوده دینامیکی سیگنال های خروجی ، dB ، حداقل 60 وزن ، g ، بیش از 1400

ترکیب دستگاه فوتودتکتور شامل: ماتریس یک عنصر حساس به نور ساخته شده از نیتریدهای آلومینیوم-گالیوم ترکیبی با سیستم خواندن در یک محفظه خنک کننده ترمو الکتریکی است. مشخصات فنی ارزش نام فرمت عناصر حساس به نور 320X256 است ارتفاع عناصر حساس به نور ، 30 میکرون محدوده طیف ، میکرون 0.29-0.34 متوسط قابلیت تشخیص خاص در حداکثر حساسیت طیفی ، W-1 * Hz 1/2 * cm 1·1013 حداکثر نرخ فریم ، هرتز 400 وزن g ، نه بیشتر از 300

حالت کار: پیوسته خروجی جریان تثبیت شده ، A: 0-20 ولتاژ خروجی ، V: 0-20 منبع تغذیه: شبکه های تک فاز 220 ولت 50 هرتز محدوده دمای عملیاتی ، °C: +10...+35 دمای ذخیره سازی ، °C: -20...+45 رطوبت نسبی (غیر متراکم)،%: 90 وزن ، کیلوگرم: 3 ابعاد کلی (W x H x D) ، میلی متر: 205 x 200 x 80

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

فوتودتکتور شامل یک فوتودیود p-i-n (اتصال InGaAs) و یک مدار پیش تقویت کننده یکپارچه ترکیبی است که در یک محفظه فلزی با پایانه های فلزی شیشه ای و یک پنجره ورودی مسطح قرار دارد. مشخصات فنی ارزش نام قطر عنصر حساس به نور ، میلی متر 0.2 محدوده حساسیت طیف ، میکرون 1.0-1.6 حساسیت ولت ، V / W ، حداقل 4·104 حساسیت پالس آستانه در طول پالس ورودی 5 ns ، W ، بیش از 5·10-8 زمان افزایش پالس خروجی ، ns ، بیش از 20 ولتاژ منبع تغذیه FPU ، V 9

فوتودیود شامل یک صفحه ژرمنیوم با مقاومت بالا با ساختار p-i-n است که در یک محفظه فلزی با پایانه های فلزی شیشه ای و یک پنجره ورودی مسطح قرار دارد. مشخصات فنی ارزش نام تعداد سایت های حساس به نور (FFP) 8 اندازه PFP ، میلی متر 6x0. 3 تعداد ارقام کد خاکستری 4 است محدوده حساسیت طیف ، میلی متر 0.8 - 1.6 طول موج های عملیاتی ، میکرون 1.06 ؛ 1.3 ؛ 1.55 حساسیت فعلی در حداکثر ، A / W ، حداقل 0.4 ولتاژ کار ، 0.2 V وزن ، g ، نه بیشتر از 15

Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان. از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش. اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند. در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این دستگاه برای خم شدن 3 نقطه ای با غلطک های قابل تعویض از 2.5 تا 10 kN جهانی است.

قرار ملاقات • حفاظت از تجهیزات الکترونیکی در برابر تداخل صنعتی و جوی توزیع شده بر روی شبکه تامین برق ، واحدهای فردی و مجتمع های تجهیزات الکترونیکی; • برای جلوگیری از گسترش تداخل صنعتی بر روی شبکه تامین از تجهیزات صنعتی که منبع تداخل است; • افزایش ایمنی الکتریکی با جداسازی گالوانیک شبکه اولیه و ثانویه; • تبدیل شبکه TN-C به TN-S و سازماندهی یک شبکه منبع تغذیه "اختصاصی"; • برای سرکوب تابش اطلاعات از تجهیزات کامپیوتری پردازش اطلاعات محرمانه در شبکه تامین; • برای محافظت از تجهیزات الکترونیکی شبکه منبع تغذیه از قرار گرفتن در معرض نیروی عمدی به منظور ایجاد عملیات ناپایدار یا خرابی آن. دامنه کاربرد آنها برای محافظت از تجهیزات در برابر تداخل در شرایطی که فیلترهای معمولی بی اثر هستند استفاده می شوند. به عنوان مثال ، اطمینان از عملکرد پایدار سیستم های کامپیوتری در یک شرکت صنعتی. تا حد زیادی ، آنها اثربخشی خود را در شرایط زمین گیری با کیفیت پایین حفظ می کنند و به سازماندهی یک حالت خنثی جدا شده برای بار با استفاده از زمین گیری تکنولوژیکی اجازه می دهند. مزایای اصلی * دارای گسترده ترین طیف از سرکوب تداخل شبکه از تمام دستگاه های حفاظت از تداخل نوع منفعل; * حداکثر حفاظت را در برابر ولتاژ بیش از حد فراهم کنید (پالس های ولتاژ بالا عملا از طریق ترانسفورماتور جداسازی نفوذ نمی کنند). آنها در برابر اثرات ابزارهای ویژه ای که برای تأثیر قوی غیرمجاز بر تجهیزات در نظر گرفته شده است ، محافظت می کنند; • اثربخشی حفاظت را هنگام کار در یک شبکه دو سیم از دست ندهید. کارایی فیلترهای معمولی سرکوب کننده صدا هنگام کار در یک شبکه دو سیم بدون اتوبوس زمینی از 30 به 100 ٪ کاهش می یابد.

اسکنر یک بدنه فلزی یکپارچه (ساخته شده از آلیاژ با کیفیت بالا ، معمولا آلومینیوم) است که در آن کانال هایی برای محرک های پیزو سرامیکی ، عناصر میز متحرک و غیره وجود دارد. با الکتروروژن و سایر روش های ماشینکاری دقیق تشکیل می شوند. این طراحی خطی و صاف بودن حرکت عالی را فراهم می کند ، برخلاف اسکنرهای کلاسیک مبتنی بر لوله پیزو ، که سطح اسکن آن یک کره است. علاوه بر این ، اسکنر موازی هواپیما دارای مقاومت مکانیکی بالایی در مقایسه با لوله های پیزو شکننده است.