جستجو کردن

تجهیزات ارائه شده برای آزمایش بتن های سیلیکاتی سنگین ، ریز دانه ، سبک و متراکم طراحی شده است ، از جمله پوشش های بتنی جاده ای و فرودگاه برای مقاومت در برابر سرما مطابق با gost 10060-2012 ، سومین روش شتاب یافته.

گیره های پنوماتیک برای ایمن سازی و نگهداری نمونه های ساخته شده از مواد فیلم ، لاستیک ، پلیمرها ، پلاستیک ها و سایر موارد در قابلیت های فنی گیره ها در طول آزمایش های کششی طراحی شده اند. گیره ها را می توان بر روی دستگاه های تست جهانی مارک های ir 5082 ، IR 5081 ، IR 5091 ، IR 5092 نصب کرد

کوتاه کننده sg شیار دار برای تقسیم (کاهش) نمونه های مواد فله به دو قسمت با وزن برابر و معادل در محتوای اجزای تشکیل دهنده طراحی شده است ویژگی های فنی CJ 3-14 (میکرو) عرض شیارها ، میلی متر 3 تعداد شیارها ، رایانه های شخصی 14 حجم تقسیم ، l 0.18 ابعاد کلی ، میلی متر ، حداکثر: طول / عرض / ارتفاع 90/126/150 وزن ، کیلوگرم 1,9

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت دستاوردهای اپتو الکترونیک و 25 سال تجربه شرکت در زمینه ابزار طیف و لیزر. ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت

یک دستگاه ترکیبی برای اندازه گیری چسبندگی با روش برش های موازی یا شبکه ای (ISO 2409 ، GOST 15140-78 ، GOST 31149-2014 ، ASTM D3359) و همچنین با روش برش های X شکل (GOST 32702.2-2014 ، ISO 16276-2 و ASTM d 3359). تعیین چسبندگی با روش برش (موازی یا شبکه) برای پوشش های تا ضخامت 250 میکرون امکان پذیر است. می توان از آن در سطوح صاف و خمیده استفاده کرد. تعیین چسبندگی با برش X شکل برای پوشش های هر ضخامت امکان پذیر است.

یک میز با یک بالای سنگی و یک ورق فولادی ضد زنگ سوراخ شده در مرکز قرار دارد که از طریق آن تهویه اگزوز جریان مداوم هوا را ایجاد می کند و ذرات نمونه را حمل می کند

طیف سنج انتشار ثابت کلاس آزمایشگاهی Iskroline 300 برای تجزیه و تحلیل طیف سریع و دقیق فلزات و آلیاژها با پایه های مختلف (Fe ، Al ، Cu ، Zn ، Pb ، Sn ، Ni ، Ti ، Co ، Mg) طراحی شده است. اسکرولین 300 پرچمدار در میان طیف سنج های جرقه ای است که توسط گروه اسکرولین تولید می شود. این یک رویکرد سازش ناپذیر به کیفیت تولید و پارامترهای دستگاه است. اگه بتونيم يکي از گره ها رو بهتر کنيم ، بهتر شده! هیچ صرفه جویی در اجزای. دقیق ترین تولید مکانیک ، تنظیم دقیق اجزای نوری و تست استرس مکرر تمام اجزای الکترونیکی به ما امکان می دهد بالاترین کیفیت تولید دستگاه را تضمین کنیم.

این برای تعیین درجه سنگ زنی رنگدانه ها ، رنگدانه های پراکنده و پرکننده ها مطابق با GOST 31973-2013 و ISO 1524 استفاده می شود. این روش شامل توزیع مواد آزمایش (نمونه) با استفاده از یک خراش در امتداد شیار گوه شکل دستگاه (آزمایشگر سایش) و تعیین بیشتر عمق شیار در میکرون در محل ظاهر ذرات قابل مشاهده یا شروع سکته مغزی است.

ویژگی های فنی: طرح نوری: طرح نوری تپه ای اصلاح شده با جبران آستیگماتیسم ، دو کانال طیف مستقل کل باز شدن نسبی (در ورودی): 1/4. 2 فاصله کانونی: 270 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 2.5 x 10-5 بزرگنمایی افقی: 1.09 نانومتر ویژگی: برای کار با آشکارسازهای مبتنی بر CCD بهینه شده است.

مجموعه طیف سنجی جرم mkm-1 برای کنترل دقیق ترکیب جوی در فضای زیر مجموعه میکرو مدارها (کنترل کیفیت) ، دستگاه های نیمه هادی و سایر دستگاه های الکترونیکی طراحی شده است. روش کنترل نشت طیف سنجی جرم پیشرفته ترین و به طور گسترده ای در صنایع مختلف استفاده می شود.

وزن مجموعه اندازه گیری سختی ROCKWELL MTR 1.25 کیلوگرم است.

تجزیه کننده متخلخل و تراکم دوغاب برای تعیین حجم خارجی ، تراکم و متخلخل باز لجن و قطعات هسته خرد شده و همچنین تعیین گرانش خاص گل حفاری ، روغن و مایعات مخزن (هنگام استفاده از پیکنومتر) طراحی شده است.