جستجو کردن

مشخصات فنی پارامترهای اصلی پروب های الکتریکی دو کاناله توسط GOST 19912-2012 تنظیم می شوند که ابعاد هندسی پروب ها و الزامات خطای اساسی اندازه گیری شاخص های مقاومت خاک را نشان می دهد. پروب های A2 / 350 دستگاه های آنالوگ هستند. محدوده مجاز برای اندازه گیری نیروهای روی مخروط و اتصال اصطکاک کاوشگر با ویژگی های طراحی آنها تعیین می شود. پروب های A2 / 350 دارای شیب سنج نصب نشده اند. مطابق با GOST 19912-2012 ، بند 5.2.4: هنگام آزمایش خاک به عمق بیش از 10 متر ، باید از پروب های مجهز به شیب سنج استفاده شود که برای تعیین عمق واقعی صدا و جلوگیری از خرابی پروب باید از قرائت آنها استفاده شود. اگر لازم است تا عمق بیش از 10 متر کاوش کنید ، توصیه می کنیم از کیت K4M استفاده کنید. پارامترهای اصلی پروب های مورد استفاده در کیت تست-K2M نوع پروب با توجه به gost 19912-2012 الکتریکی قطر پایه مخروطی ، میلی متر 35.7 زاویه در بالا ، درجه 60 قطر اتصال اصطکاک ، میلی متر 35.7 طول کلاچ اصطکاک ، میلی متر 310 منطقه اتصال اصطکاک ، cm2 350 محدوده اندازه گیری مقاومت خاک در امتداد مخروط ، 0.2-50 MPa اندازه گیری محدوده مقاومت خاک با اتصال اصطکاک ، kPa 3-571 خطای اساسی در اندازه گیری مقاومت خاص خاک بیش از 5 نیست% دستگاه اندازه گیری دو کانال ضبط TEST-K2M برای اندازه گیری عدم تعادل نیمه پل های فشار سنج ، تقویت و دیجیتالی کردن سیگنال ، نمایش نتایج اندازه گیری ، ذخیره آنها در حافظه و انتقال آنها به رایانه برای پردازش طراحی شده است.

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای دو کریستالی اتوماتیک DSO-2P (DSO-2P) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری صفحات کریستال تک نسبت به سطح کریستال را اصلاح کند ، از جمله روشن کردن جهت برش پایه. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

این برای اندازه گیری زاویه برش کریستال های منفرد ، به ویژه یاقوت کبود با هر یک از جهت گیری ها ، C(0001) ، A(11-20) ، R(01-12) یا M(01-10) در محدوده سوء جهت ± 5.0 درجه با خطای 15 ثانیه زاویه ای طراحی شده است.

طیف‌سنج اشعه ایکس دو کریستالی DSO-1 (DSO-1) برای اندازه گیری خودکار تعدادی از ویژگی های ساختاری ویفرهای نیمه هادی طراحی شده است: کمال ساختاری نمونه ها با توجه به منحنی های نوسان ، پارامترهای شبکه ، مشخصات تغییر شکل ساختار نزدیک به سطح و غیره. همچنین به شما امکان می دهد جهت کریستال ها را تعیین کنید.

طیف‌سنج اشعه ایکس dso-2g (شکل.1) برای پالایش خودکار جهت گیری کریستال های تک سیلیکونی نسبت به سطح کریستال ، برای پالایش نیمه اتوماتیک جهت گیری نادرست محورهای هندسی و کریستالوگرافی و همچنین برای تعیین دستی و پالایش خودکار جهت گیری بخش پایه طراحی شده است. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل بازتاب های پراش حاصل از چرخش یک منبع اشعه ایکس کم قدرت در نزدیکی سطح تجزیه و تحلیل شده یک کریستال تک ثابت است. در این حالت ، موقعیت مکانی سطح تجزیه و تحلیل شده با استفاده از سنسور فاصله لیزر تعیین می شود.

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای اتوماتیک DSO-2v2 (DSO-2V2) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری کریستال های تک و صفحات انبوه را نسبت به سطح کریستال ، از جمله تعیین جهت برش پایه ، اصلاح کند. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

این شامل یک واحد تشخیص ، یک واحد تشدید کننده است و می تواند برای کنترل اشعه ایکس به عنوان بخشی از دستگاه های مختلف اشعه ایکس ، به ویژه دیفرانکتومترهای اشعه ایکس استفاده شود. شدت سنج با استفاده از یک دستگاه اشاره گر ، یک خواندن بصری از شدت تابش را فراهم می کند. تقویت کننده می تواند هم در حالت دستی و هم با کنترل رایانه کار کند.

روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.