جستجو کردن

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

واحد کنترل الکترونیکی EG 5000 آخرین اصلاح سری کنترل کننده های eg است. طراحی شده برای کنترل میکروسکوپ های اسکن ، دستگاه های موقعیت یابی نانو ، تمام تغییرات. ویژگی های اصلی متمایز عبارتند از: استفاده از یک fpga cyclone v قدرتمند که امکان پردازش سریعتر داده ها و خروجی سیگنال کنترل را فراهم می کند. یک کامپیوتر یکپارچه با سیستم عامل لینوکس و نرم افزار نصب شده به شما اجازه می دهد تا سیستم را متحد کنید و از مشکلات در هنگام نصب و به روز رسانی نرم افزار جلوگیری کنید.

Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان. از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش. اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند. در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.

میکروسکوپ سنج اسکن سطح ابتدایی (SPM) اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید; طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند; پیکربندی مدولار به شما امکان می دهد میکروسکوپ پروب اسکن نور Certus را بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب کنید ، با دستگاه های نوری ترکیب کنید و این دستگاه را به تغییرات ارتقا دهید

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.