جستجو کردن

تحلیلگرهای MAES برای ثبت طیف های انتشار اتمی با وضوح زمانی 1 میلی ثانیه بر اساس فوتودیودهای بسیار حساس و یک صفحه سوئیچینگ ویژه برای خواندن همزمان چندین بخش از طیف ها است. مونتاژ حاکمان بر روی طیف سنج "بزرگ" نصب شده است. یک نصب "جریان" یا یک پلاسماترون قوس دو جت برای تحریک طیف های انتشار اتمی نمونه های پودر استفاده می شود. نرم افزار ATOM خطوط طیف انتخاب شده را ثبت می کند و پردازش آنها را با توجه به تعداد و روشنایی فلش ها (به عنوان مثال اندازه ذرات) با توجه به الگوریتم های مشخص شده فراهم می کند. ثبت طیف نمونه های پودر با وضوح زمان بالا امکان برآورد تعداد و اندازه ذرات جداگانه ، شناسایی ترکیب آنها و تعیین غلظت عناصر در هر ذره ، ارزیابی سریع یکنواختی توزیع برخی از عناصر تعیین شده و گسترش امکانات تجزیه و تحلیل طیف بدون تغییرات قابل توجهی در آماده سازی نمونه را فراهم می کند. زمینه های اصلی کاربرد: تجزیه و تحلیل جرم نمونه های زمین شناسی پودر با روش درخشندگی برای تعیین فلزات گروه طلا ، نقره ، پلاتین ، ایریدیوم ، رودیم و غیره با محدودیت های تشخیص تا 0.01 g / t; تعیین کیفی ترکیب شمول ها و ذرات مواد معدنی.

طیف سنج های خلاء برای تجزیه و تحلیل سریع آلیاژها بر اساس آهن ، مس ، آلومینیوم و سایر فلزات در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده اند ، از جمله تعیین عناصر دارای خطوط تحلیلی در زمینه ماوراء بنفش خلاء (VUV) (به عنوان مثال ، S ، P و C در فولاد).

میکروسکوپ گسترده ir سری MIKRAN که به طیف سنج های فوریه Ft-801 و Infralum ft-801 متصل است ، برای مطالعه نمونه هایی از 10 میکرون در اندازه ، از جمله آنهایی که دارای ترکیب ناهمگن هستند ، طراحی شده است. هنگام کار بر روی میکروسکوپ IR ، اپراتور این فرصت را دارد که جسم مورد مطالعه را با افزایش بیش از 200x مشاهده کند هم با استفاده از دوربین دوچشمی و هم روی مانیتور با استفاده از دوربین ویدئویی دیجیتال ، در طول فوتومتری ، با کمک دیافراگم ها ، یک منطقه محلی با شکل دلخواه را انتخاب کنید و همچنین سطح نمونه را "اسکن" کنید و طیف به دست آمده در زمان واقعی را مشاهده کنید.

مشخصات فنی: محدوده طیف عملیاتی ، nm از 190 تا 900 وضوح طیف ، nm ، نه بیشتر: - در محدوده 190 تا 600 نانومتر شامل - در محدوده بالای 600 تا 900 نانومتر شامل 2 3 حد تشخیص منگنز ، pg ، بیش از 3 حد تشخیص نیکل ، pg ، بیش از 20 زمان تنظیم حالت کار طیف سنج ها ، حداقل ، بیش از 15 زمان عملکرد مداوم طیف سنج ها ، h ، حداقل 8 طیف سنج ها توسط یک شبکه جریان متناوب سه فاز تغذیه می شوند: - ولتاژ منبع تغذیه ، V - فرکانس ، هرتز 380 (50 ± 1) ابعاد کلی طیف سنج ، میلی متر ، بیش از 800 x 475 x 310 جرم طیف سنج ، کیلوگرم ، بیش از 50 قدرت مصرف شده توسط طیف سنج ، kV * A ، نه بیشتر: - در حالت های آماده به کار و تنظیمات پارامترهای تحلیلی - در حالت اتمی سازی و تصفیه 0.1 6 زمان متوسط برای شکست ، ساعت ، حداقل 4000

اصل عملکرد آنالایزر SPEKTRAN - 219 بر اساس اندازه گیری ضریب بازتاب پراکنده نمونه های دانه های زمین در منطقه نزدیک IR طیف است. با توجه به داده های انعکاس اندازه گیری شده نمونه های دانه با محتوای جزء شناخته شده ، آنالایزر کالیبراسیون می شود ، یعنی ضریب کالیبراسیون برای هر جزء محاسبه می شود. مقادیر محاسبه شده در حافظه آنالیز کننده ذخیره می شوند و سپس در تجزیه و تحلیل محصولات استفاده می شوند. مشخصات فنی محدوده طیف ، nm 1400-2400 خطای اندازه گیری طیف ضریب بازتاب پراکنده + / - 5 است% خطای تنظیم طول موج ، nm + / - 2.0 همگرایی اندازه گیری طیف ضرایب بازتاب پراکنده 0.03% ابعاد کلی ، میلی متر 520x250x260 وزن ، کیلوگرم 12

مجموعه انتشار اتمی Grand-Potok برای تعیین سریع ترکیب نمونه های پودری با منشا طبیعی و صنعتی طراحی شده است ، شامل طیف سنج Grand ، نصب Potok و تجهیزات کمکی برای آماده سازی نمونه است.

مجموعه انتشار لیزر Grand Globula شامل یک طیف سنج بزرگ ، یک ژنراتور طیف سنجی رعد و برق توپ و یک سه پایه Globula است. این اجازه می دهد تا تجزیه و تحلیل مواد و مواد مختلف در تخلیه قوس و جرقه در هوا ، به عنوان مثال ، با توجه به Gost 17818.15-90 "گرافیت. روش تجزیه و تحلیل طیف "، Gost 9717.1-82 " مس. روش تجزیه و تحلیل طیف بر اساس نمونه های استاندارد فلزی با ثبت طیف فوتوالکتریک" و سایر MVI ها.

طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس اسپکتروسکان MAX-GF1 (2) E دو روش جداسازی یک سیگنال تحلیلی را ترکیب می کند: پراش روی تراشه (پراکندگی موج-WDX) و روش پراکندگی انرژی (EDX). طیف سنج برای تعیین محتوای عناصر در محدوده Ca تا U در مواد در حالت های جامد ، پودری ، محلول و همچنین رسوب بر روی سطح یا رسوب بر روی فیلترها طراحی شده است.با کمک کانال های پراکندگی انرژی ثابت ، هر یک یا دو عنصر اضافی در محدوده منیزیم (میلی گرم) تا کلسیم (Ca) می تواند تعیین شود. اصل عملکرد طیف سنج بر اساس تابش نمونه با تابش اولیه از یک لوله اشعه ایکس ، اندازه گیری شدت تابش فلورسنت ثانویه از نمونه در طول موج های مربوط به عناصر تعیین شده و محاسبه بعدی کسر جرم این عناصر با توجه به یک ویژگی کالیبراسیون از پیش ساخته شده است که وابستگی محتوای عنصر تعیین شده به شدت اندازه گیری شده است.

طیف سنج انتشار نوری ISKROLINE 1000 با منبع تحریک طیف ها-تخلیه قوس در هوا-برای تجزیه و تحلیل طیف اکسپرس ترکیب عنصری مواد پودری (از جمله خاک ، سنگ ، نمونه های زمین شناسی و غیره) طراحی شده است.) ، فلزات ، آلیاژها ، از جمله تراشه ها. طیف سنج انتشار ISKROLINE 1000 arc برای تجزیه و تحلیل عنصری مواد در فرآیند کنترل ورودی مواد اولیه و کنترل خروجی محصولات در فلزکاری آهنی ، غیر آهنی ، پودر ؛ صنایع معدنی ، معدنی و فرآوری ؛ در تولید مواد با خلوص بالا ؛ در اکولوژی ؛ در صنایع غذایی ؛ در آزمایشگاه های پزشکی قانونی ؛ موسسات تحقیقاتی و دیگران استفاده می شود . هر خط طیف در محدوده 185-930 نانومتر با وضوح 0.007-0.01 نانومتر برای تجزیه و تحلیل طیف نمونه ها در طیف سنج ISKROLINE 1000 در دسترس است. محدودیت های تشخیص تجزیه و تحلیل طیف عنصری جامدات در طیف سنج ISKROLINE 1000 با توجه به معیار "3σ" برای اکثر عناصر در محدوده 10-5 – 10-4 ٪ قرار دارد. ISKROLINE 1000 شامل یک منبع تحریک طیف STARK-5 بر اساس یک ژنراتور تخلیه قوس ، یک سه پایه جهانی USHT-4 ، طیف سنج 2s36501225 ، یک آشکارسازهای سیستم ضبط ccd 24 خطی ، یک کامپیوتر شخصی کنترل و همچنین یک مسکن با محل کار اپراتور و یک میز نورد است.

میکروسکوپ MICRAN IR برای کار با طیف سنج های فروسرخ Ft-801 فوریه طراحی شده است. محدوده طیف 6000-600 سانتی متر-1 (با میکروسکوپ و آشکارساز MST خنک شده با نیتروژن مایع) است. رزولوشن 0.5 ، 1 ، 2 ، 4 ، 8 سانتی متر-1 (با رزولوشن طیف سنج فوریه تعیین می شود)