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Diseñado para estudios integrales de las propiedades físicas de superficies utilizando microscopía óptica clásica, microscopía láser confocal, espectroscopia confocal y microscopía de sonda de barrido (microscopía de fuerza atómica).
Permite obtener espectros completos de dispersión y/o fluorescencia Raman (Raman o Raman), láser confocal e imágenes espectrales confocales (mapeo de superficie), imágenes SPM (AFM). El diseño del complejo Centaur I permite el uso de técnicas individuales (por ejemplo, microscopía/espectroscopia confocal) y una combinación de técnicas (incluida la combinación de campos de escaneo, estudios AFM/Raman, etc.)

Microscopía De Sonda De Barrido Aire y líquido: AFM (contacto + semi-contacto + sin contacto) / microscopía de Fuerza Lateral / Mapeo de Fase/ modulación de Fuerza / Mapeo de fuerza Adhesiva / Litografía: AFM(Fuerza) Solo en el aire: STM/ MSM/ ESM/ SEM/ método de sonda Kelvin/ Pantalla de Resistencia de Propagación/AFAM (bajo demanda)/Litografía: AFM (Actual), STM/.