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AR-35分析仪是一种全自动分析复合体，专为连续X射线荧光分析浆液和溶液的化学成分而设计。 该设备有一个移动软件控制的测量头，带有一个X射线管和固定的光谱通道（最多8个），每个通道都可以调整到任何化学元素（从Ca到U）。 在操作过程中，头根据给定的程序绕过多达15个流量比色皿，执行测量。 多通道（最多15个分析产品）。 与自动化系统兼容，用于采样，样品交付，处理和显示分析结果，组织存储分析数据的存档。 与工厂自动化过程控制系统的通信 高表达性、分析准确性、低检出限、分析的重现性。 可靠性高。 分析仪的工作原理是基于来自X射线管的辐射激发被研究物质原子的荧光辐射。 特定化学元素的荧光辐射由分析仪晶体释放，之后由X射线检测器记录具有一定波长的辐射。 所记录的某一波长的荧光辐射的强度与所研究物质中化学元素的质量分数成正比。

技术规格: 读数的光谱范围，190-1100nm 定向传输系数测量的光谱范围，190-1000nm 定向传输频谱系数测量允许绝对误差限值，±1.0% 波长设置允许绝对误差的极限，nm: -光谱范围为190.0至390.0 ±0.4nm -光谱范围超过390.0至1000.0 ±0.8nm 测量定向传输的频谱系数时误差的随机分量的均方偏差允许值的极限，0.2％ 最小分配的光谱间隔，1.0nm 330和450nm波长的干扰辐射水平，不超过1.0％， 外形尺寸，不超过460x380x180 mm， 重量，不超过13公斤，

KFK-3-01的特点 分配的光谱范围为5-7nm SCNP测量范围1-99 % 光密度测量范围0.004-2b SCNP读数范围为0.1-120 % 光密度读数范围为0-3b 浓度读数范围为0.001-9999单位。 conc

独联体的交付由LLC NPP RADIKO进行 249035,卡卢加地区,奥布宁斯克,马克思大道14号,14 电话:8(48439)4-97-16,4-97-18/传真:8(48439)4-97-68 电子邮件：main@radico.ru /网站：http://www.radico.ru 肺中放射性核素51cr、54mn、58Co、59Fe、65zn、95Nb、100mag、103ru、124sb、141ce、144ce的总活性超过阈值的监控; 灵活的软件控制光谱仪的功能，建立基于检查结果的数据库和报告 快速检验能力-每小时15人 共享AT1316（AT1316A）和AT1322（AT1322/1）的可能性 可在移动辐射控制实验室的微型巴士中部署的可能性

该装置旨在通过撒粉-吹气法法激发电弧中粉末样品的原子发射光谱。 它提供了高性能的常规分析，具有低消耗的石墨电极，并与任何光谱设备一起使用–"Grand"，STE-1，DFS-458，MFS-8，PGS-2等。

等离子体双视光谱仪允许同时记录任何谱线，分辨率高，浓度范围从ppb的分数到几十个百分点，并为解决任何研究任务提供了广泛的选择。 该设备旨在分析几乎所有类型的环境样品，包括水、土壤和沉积物。 快速启动，并无需长时间加热。 低氩气消耗。 易于使用。

对于需要快速分析、高技术含量、高可靠性和高精确度来确定金属产品全元素组成的客户来说，SPAS-05 是以最低成本购买、实施和运行设备的最佳解决方案。

它的目的是记录近红外区和中红外区固体、液体和气体物质(包括药物、油漆和油漆、石油产品、炸药、药理制剂、聚合物薄膜和纤维)的吸收光谱,并对含有几种成分的混合物进行定性和定量分析。

技术规格: Rowland circle500mm的光学系统和焦距Paschen-Runge光学方案 氩气吹扫聚铬器(氩气消耗约0.05l/min) 175-425nm，可安装额外通道 光谱范围：钠589nm（按特殊顺序，可以在175-850nm范围内扩展） 氩气吹的地段。 开放的非字符串，有特殊的适配器用于分析杆和电线 Odatchik（远程三脚架）通过特殊订单，远程传感器的重量为1.2ng，电缆长度为2.5m 特别订购的额外空气三脚架 励磁源SPARK-500发电机 操作条件温度15...30°C，相对湿度<80% 电源要求功率1NVA，电压220-22V50HZ，单相带接地 氩气纯度99.998%的要求。 光谱仪有一个额外的 氩气净化过滤器。 如有需要 ，氩气净化支架SOAR-1可以包含在交付包装中 尺寸，mm（长，宽，高）810x525x975-地面版，810x525x430-桌面版 重量：地面版 80公斤 ，桌面版 50公斤 。 测得的浓度范围为0.0001%...10 % 相对误差（取决于浓度）为0.5％...5% 分析时间10...40秒。

用于监测半导体晶片参数的测试仪FSM1201P允许按照操作者设定的程序，自动测量放置在测量台上的直径为76、100、125、150和200毫米的平面平行抛光硅晶片。 一点的标准测量时间不超过20秒。 主要受控参数: 间质氧的浓度(板厚0.4-2.0mm)内(5×1015-2×1018)±5×1015 sm-3(半MF1188); 取代碳浓度(板厚0.4-2.0mm)范围:(1016-5×1017)±1016cm-3(半MF1391); 硅片中氧分布的径向不均匀性(半MF951); n-n+和p-p+类型的硅结构的外延层的厚度在(0.5–10.0)±0.1微米、(10-200)±1%微米(SEMI MF95)的范围内; CNS结构中外延硅层的厚度在(0.1-10.0)±1%微米范围内; FSS层中的磷和bfss层中的硼/磷的浓度在(1-10)±0.2重量％以内。

一种独特的台式光发射光谱仪，具有结合激光火花和空气中电火花放电的组合光谱激发源，用于对电流传导样品进行快速光谱分析，分析固体整体（玻璃、陶瓷、塑料、金属、合金、花岗岩等）的元素组成。），各种压制粉末（包括土壤，岩石，地质样品等。). 该光谱仪可用于异质样品（表面和深度）的微量分析，用于分析微样品，复杂形状的样品。 LIES可用于黑色金属，有色金属，粉末冶金;金属科学;采矿，采矿和加工业;地质和地质勘探;生产建筑材料;生产高纯度材料;在生态和环境保护;在农业和食品工业; Lies-台式组合激光-火花发射光谱仪，用于固体巨石的光谱分析 组合激光-火花发射光谱仪的独特之处在于，与传统激光光谱仪不同，激光火花同时执行两项功能：烧蚀（从样品中提取被分析物质）和激发提取的原子和离子的光谱，LIES光谱仪使用的不是一次放电，而是两个–激光火花和电火花，它们共享上述功能：激光火花执行烧蚀，电火花作为被分析物质原子和离子光谱的激发源。 这种方法显着（由3-10倍！）提高了光谱仪的计量特性（灵敏度和再现性）。