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测量粗糙度参数Ra；Rz；Rmax；Rp；Rv；Rq；Sm；S；la；lq；tp；Lo；D；da；dq等，查看轮廓图并测量不均匀性的大小 走线长度：0.5 毫米 – 40 毫米 Ra 测量范围：0.012 – 50 微米 准确度 1 级（准确度 2%） 在 > 3毫米" 的孔内工作

观察和测量材料结构中的晶粒和缺陷，分辨率精确到原子（1986 年诺贝尔奖），替代金相显微镜和电子显微镜： 放大倍数：从 2000 倍到 1000 万倍。 测量范围：0.2 毫微米 至 30 微米 所有基本（STM、接触和振动 AFM）模式，以及超过 25 种附加模式”