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光电机顶盒FEP-10
光电机顶盒FEP-10
与光学装置一起,FEP-10前缀用于基于根据标准样品构造的校准特性的各种材料的定性和定量分析。 技术规格: 光电探测器的类型是具有高动态范围的线性CMOS接收器。 数的光电探测器3...12 感光元件(像素)的尺寸,7x200 微米。 一个CCD标尺上的像素数为4096 一个CCD标尺记录的光谱长度 29mm. 记录光谱的总长度,高达340 mm.
OKB Spektr
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
用于分析黑色金属和有色金属的光发射光谱仪DFS-100H
用于分析黑色金属和有色金属的光发射光谱仪DFS-100H
这种小型光谱仪是解决金属和合金的输入控制和拆卸问题的绝佳工具,也可用于高等和中等专业教育机构的教育过程中。 技术规格: 基于具有平坦场的非经典凹晶格的光学系统,具有氩气吹扫(氩气消耗约0.05升/分钟)。 光谱范围为178-410纳米。 辐射接收器是4个多元素线性探测器。 测量浓度范围0.01%-10 % 相对误差(取决于浓度)为5%...30% 析时间10...40秒 重量24公斤 尺寸625x420x260毫米 电源要求电压220±22V,50Hz,单相带接地。 功率不超过1千伏安 氩气要求氩气含量不低于99.998%
OKB Spektr
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
金属分析用移动式光发射光谱仪DFS-100M
金属分析用移动式光发射光谱仪DFS-100M
技术规格: 测得的浓度范围为0.005%-10 % 光谱范围178-410nm 辐射接收器4个多元素探测器 相对误差(取决于浓度)为1%...20% 析时间10...40秒 氩气的要求99.998% 电源2208 50Hz电源,电池 分析模式下的功耗dot kW 控制台重量TG 光模块的重量为2.5kg
OKB Spektr
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
DT13片剂支架
DT13片剂支架
DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定,从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
用于kr20和KG01的窗口Ø40mm
用于kr20和KG01的窗口Ø40mm
直径为40mm的窗口用于液体比色皿KR20和气体比色皿KG01。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
按PGR400
按PGR400
液压手动压力机PGR400设计用于在模具中以片剂形式制备样品所需的力。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
立场为Specord类型的cuvettes
立场为Specord类型的cuvettes
该支架允许在FSM光谱仪中使用Specord型比色皿,并具有适当的连接尺寸。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
比色皿支架DC KFK
比色皿支架DC KFK
为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿,使用DC CFK支架,其具有标准的50x75mm连接杆,用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
Kg48比色皿的窗户
Kg48比色皿的窗户
对于气体比色皿KG48,使用直径为22mm的窗口。 您可以从KBr和CaF2购买windows。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
漫反射PDO的前缀
漫反射PDO的前缀
Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
硅片前缀
硅片前缀
控制台设计用于在透射或反射模式下控制直径达200mm的半导体晶片的参数。 板材的参数通过高度敏感的非接触式方法在操作员指定的点进行控制。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
用于元素分析的光发射光谱仪MFS-12
用于元素分析的光发射光谱仪MFS-12
技术规格: 放电脉冲的持续时间为150微秒... 恒定的电弧。 频率50...250赫兹 极性直接,反向,双极 测量浓度范围 0.001%-10% 材料中的元素 相对误差(取决于0.5%。 从浓度)0%
OKB Spektr
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡