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EG5000是最新EG电子控制器。 设计用于控制所有型号的扫描探针显微镜和纳米定位设备。其主要的显著特点是： 使用功能强大的FPGA Cyclone V，使数据处理和控制信号输出更快。。 内置的PC与Linux操作系统，安装你统一系统的软件，避免安装和更新软件时的困难。

扫描探针显微镜（SPM）与直接和倒置研究级的光学显微镜相结合。 专设计用于光学和原子力显微镜研究。 Certus 是XYZ三维扫描探针显微镜头，用于获取AFM图像（一般为地形）和/或将探针可以定位在样品表面; Ratis是定位和扫描装置(XY(Z)piezostolic) 显微镜视野追踪样品定位和/或扫描样品; 正置光学显微镜（Olympus BX51为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 倒置光学显微镜（Olympus IX71为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 镜头机械Z字行运动; 用于Vectus镜头的单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场3d图像; 样品定位装置，用于选择表面上或在体积中的某个区域; EG-3000单个控制器，控制该系统的所有部分; NSpec软件。

过使用内置的声学和振动隔离、热稳定、业界最佳灵敏度的光学配准系统以及探头扫描系统的独特设计，确保了最终的显示质量，从而在常规测量中实现原子分辨率。 在基本配置中，有 50 多种原子力显微镜技术可供使用，包括 HybriD 方法，它允许您进行所有尖端的纳米机械、电学和磁学研究。 ScanTronic™ 智能算法一键优化扫描参数，允许使用振幅调制方法进行完美的浮雕测量，而不考虑操作员的经验。 使用简单的用户界面自动检查多个样本，以创建逐点扫描脚本和存储采集图像的数据库。 以 1 微米 的定位精度在表面任意点控制尺寸最大为 200×200 mm、厚度最大为 40 mm 的样品。 广泛的定制选项：安装额外的光学设备、开发专用样品架、结合传输系统、根据客户要求进行测量和数据分析的自动化。

扫描器是金属仪器（由优质合金制成，通常是铝），其中用于压电陶瓷致动器的通道、平台的移动元件等是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。 这种设计提供了极好的线性和运动的平面性，不同于传统的基于压电的扫描仪，这个扫扫描面是一个球体。 此外，与脆性压电管相比，平面平行扫描仪具有较高的机械强度。

14 个高精度步进电机控制着显微镜的所有运动部件，而智能软件则模糊了光学成像和扫描探针显微镜成像之间的界限。 NEXT 提供从毫米全景光学图像到原子分辨率的连续放大，同时自动执行激光指向悬臂、样品定位、软方法和高级扫描探针显微镜技术配置等中间操作。

具有光学和原子力显微镜技术的复合型设备Certus Optic i，用于检查生物物体和聚合物薄膜。 三维扫描探针显微镜头Certus，用于获取AFM图像（一般为结构研究）和/或根据样品表面调整探针的位置; 定位和三维扫描装置(Ratis)根据显微镜的视野调整样品的位置和/或扫描样品; 经典的倒置光学显微镜，用于显示研究对象并将探针指向研究对象或根据显微镜的视野调整样品的位置； 样品定位装置可以在表面或体积中选择区域; EG-3000控制器来控制综合体的所有部分; NSpec软件。

NT-MDT S.I.展示了NTEGRA II，世界上最受欢迎的原子力显微镜的第二代。 由于附加功能和高级功能，它提供了前所未有的模块化和灵活性，成为研究人员的真正合作伙伴。 智能，快速，可靠，准确，无疑易于使用。 为了消除嘈杂环境的影响，NTEGRA II采用标准机柜，提供温度控制、声学和振动隔离。 这种组合揭示了NTEGRA II作为世界上最稳定的原子力显微镜的真实性质，提供小于0.2nm/min的温度漂移。

EG-1100控制器设计用于控制压电定位器的运行，如Ratis扫描平台和Vectis单轴运动，或其他压电设备。 一般特征: CPU, 32比特；RISC PC接口， USB2.0 其他接口，RS232，RS485， SYNC I/O 高电压输出 电压，-10..150伏 噪音，<5ppm 电路数量，3个 DAC（数模转换器）比特率，18比特

带有SPM功能的扫描共聚焦拉曼光谱仪 尺寸小 全自动化系统 光谱仪原创设计 仪器保持高亮度的同时，保证最小光学的损失 共焦电路根据原始方案制成，超小体积和光学元件的最小漂移。 内置的光学显微镜提供了易于搜索的测量点. 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

与研究级直接光学显微镜相结合的扫描探针显微镜（SPM） 专为光学和原子力显微镜研究而设计。 三维扫描探针显微镜头Certus，用于获取AFM图像（一般为结构研究）和/或根据样品表面调整探针的位置; 定位和三维扫描装置(Ratis)根据显微镜的视野调整样品的位置和/或扫描样品; 直接光学显微镜（有基本配置的Olympus BX51），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或根据显微镜的视野调整样品的位置; 物镜进行机械Z型移动; Vectus镜头采用单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场三维图像; 样品定位装置可以在表面或体积中选择区域; EG-3000控制器来控制综合体的所有部分; NSpec软件。

扫描探针显微镜标配版Certus，旨在解决广泛的研究和任务分析。 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得图像表面，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 使用探针（传统扫描仪捏的探头Certus）和三维平面扫描仪对样品进行扫描。 探针保证平行扫描到样品的平面，不需要手动移动探头到试样上。 探针向样品的平面平行供给，解决了人工向样品供给探针费力的问题。 保障由三个机动支架进行; 扫描头的开放式设计使得能够以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 标准化配置允许Certus标准扫描探针显微镜安装在传统光学显微镜（直接或倒置）上，与光学设备结合并升级为Certus Optic和Centaur改装。 扫描探针显微镜的基本技术已经实现。 要改变扫描探针显微镜的操作模式（例如，从原子力显微镜模式中的操作切换到扫描隧道显微镜模式），改变探针架就足够了。

观察和测量材料结构中的晶粒和缺陷，分辨率精确到原子（1986 年诺贝尔奖），替代金相显微镜和电子显微镜： 放大倍数：从 2000 倍到 1000 万倍。 测量范围：0.2 毫微米 至 30 微米 所有基本（STM、接触和振动 AFM）模式，以及超过 25 种附加模式”