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它的设计用于通过光学显微镜，光谱学和扫描探针显微镜对表面性质的复杂研究。 它能够获得完整的拉曼散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I HR的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）。

扫描探针显微镜标配版Certus，旨在解决广泛的研究和任务分析。 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得图像表面，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 使用探针（传统扫描仪捏的探头Certus）和三维平面扫描仪对样品进行扫描。 探针保证平行扫描到样品的平面，不需要手动移动探头到试样上。 探针向样品的平面平行供给，解决了人工向样品供给探针费力的问题。 保障由三个机动支架进行; 扫描头的开放式设计使得能够以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 标准化配置允许Certus标准扫描探针显微镜安装在传统光学显微镜（直接或倒置）上，与光学设备结合并升级为Certus Optic和Centaur改装。 扫描探针显微镜的基本技术已经实现。 要改变扫描探针显微镜的操作模式（例如，从原子力显微镜模式中的操作切换到扫描隧道显微镜模式），改变探针架就足够了。

工作模式：连续 输出稳定电流，A：1-80 输出电压，V：0-35 电源：三相网络220/380 V 50 Hz 工作温度范围，°C：+10…+35 储存温度，°C：-20…+45 相对湿度（无冷凝），%：90 重量，kg：5.3 总体尺寸（宽 x 高 x 深），毫米：390 x 75 x 200。

通常，辐射监测仪安装在控制区的边界：行人和交通检查站。 辐射监测仪是检测电离辐射源的主要手段，是建设辐射监测综合体的基础；它们不是电离辐射源，不会对人体健康构成危险。

频率比较器 Ch7-1014 用于测量精密石英振荡器和铷原子频率标准的相对频率差异，计算其主要计量特性，并在设备屏幕和/或外部个人计算机（PC）屏幕上显示测量过程和结果。 由于操作简便和可靠性高，该设备广泛应用于计量中心、测量实验室和电子设备开发人员的工作场所。Ch7-1014 比较器的内存中储存了俄罗斯市场上国内外铷原子频率标准的主要技术特性信息，大大简化了校准实验室中的设备校准过程。 该设备配备 USB 2.0 接口，可以与外部个人计算机通信，并附带适用的计算机应用软件。Ch7-1014 比较器能够通过TCP协议的流套接字远程控制所有工作模式，并可集成到自动化系统中工作。

NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

具有示波器功能的外部USB设备，用于科学，技术和生产各个领域的监控。 ADC8位;2个同步通道;最大采样率1ghz;单通道模式2GHz;RAM-8MB;Rvx1Mom/50欧姆（可通过编程方式切换）。 在Rvx1欧姆：范围从±25v到±0.125V，100MHz频段，输入保护±150V;在Rvx50欧姆：范围从±1.25到±0.125V，300MHz频段，输入保护±2.5V;USB2.0。

申请范围: -光学; -电子及磁光实验; -拉曼光谱（Raman scattering spectroscopy）; -红外光谱; -DLTS(deep level transient spectroscopy,深能级光谱); -磁-光克尔效应。

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。

技术参数:内部容积，L 64-100 000之间 温度范围，°С -70 - +180之间 湿度范围，% 20至98（t=20-85°C） 温度稳定性，°С ±0.5 湿度不稳定性，% ±3.0 体积温度不均匀度，°С 2.0 平均加热速度，°C/min 2 平均冷却速度，°C/min 1

低温恒温器"Сryostat"旨在创造一个恒温控制的环境，在实验室条件下测量和保持其温度。

NTEGRA Spectra II已经是第二代测量系统，成功地展示了两个世界的统一：原子力显微镜和拉曼光谱。 从浮雕映射到二维光谱分析，从电气和机械性能的研究到分辨率低于衍射极限的光学测量。 现在科学家可以一次对样品的表面性质进行完整的物理化学分析。 因此，研究人员获得了发展实验室技术的无限机会。